[發(fā)明專(zhuān)利]一種保護(hù)單板的方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910093510.7 | 申請(qǐng)日: | 2009-09-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101662324A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-03-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 冷鋼;柴巖 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H04B10/12 | 分類(lèi)號(hào): | H04B10/12;H04B10/20 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 武晨燕;周義剛 |
| 地址: | 518057廣東省深圳市南山*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 保護(hù) 單板 方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及單板保護(hù)技術(shù),尤其涉及一種保護(hù)單板的方法及裝置。
背景技術(shù)
一般情況下,單板上具有一些功耗比較大的芯片。例如,作為單板的一種 類(lèi)型,交叉板是光數(shù)據(jù)單元(ODU,Optical?Data?Unit)交叉系統(tǒng)的重要組成部 分,承擔(dān)著時(shí)隙交叉的任務(wù),但交叉板所用的芯片功耗大,發(fā)熱量高,因此散 熱成了一個(gè)嚴(yán)重的問(wèn)題。
由于單板所用的芯片功耗很大,因此需要對(duì)芯片進(jìn)行溫度檢測(cè)。現(xiàn)有的檢 測(cè)方式具體為:預(yù)設(shè)芯片溫度的門(mén)限值,當(dāng)測(cè)溫芯片檢測(cè)到芯片的溫度超過(guò)門(mén) 限值時(shí),通知控制單元,控制單元便發(fā)出告警信號(hào),等待人為處理。這種檢測(cè) 方式的優(yōu)點(diǎn)是方法簡(jiǎn)單、容易實(shí)現(xiàn)、且不易產(chǎn)生復(fù)雜情況;但缺點(diǎn)是不能進(jìn)行 功耗調(diào)節(jié)、保護(hù)能力弱,在芯片的溫度過(guò)高時(shí),沒(méi)有自動(dòng)處理功能,容易造成 溫度持續(xù)上升而最終導(dǎo)致單板工作異常。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的主要目的在于提供一種保護(hù)單板的方法及裝置,能夠 降低單板上的芯片功耗、保護(hù)單板,從而提高單板的工作穩(wěn)定性。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
一種保護(hù)單板的方法,該方法包括:
步驟A、檢測(cè)被測(cè)芯片的溫度,當(dāng)檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限 值時(shí),關(guān)閉被測(cè)芯片未使用的工作組(BANK),并再次對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行溫 度檢測(cè);
步驟B、在再次檢測(cè)過(guò)程中,當(dāng)檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度仍超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限 值、且所述被測(cè)芯片所屬的單板為主板時(shí),則發(fā)出告警信號(hào),將主板切換到備 板,關(guān)閉被測(cè)芯片的所有BANK,并繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè)。
其中,所述方法進(jìn)一步包括:
在所述再次檢測(cè)過(guò)程中,當(dāng)檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度仍超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值、 且所述被測(cè)芯片所屬的單板為備板時(shí),則發(fā)出告警信號(hào),并繼續(xù)進(jìn)行步驟A中 的溫度檢測(cè)。
其中,所述方法進(jìn)一步包括:
在步驟A中檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度不超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值后,當(dāng)所述被測(cè)芯 片所屬的單板為主板時(shí),則繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè);
在步驟A中檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度不超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值后,當(dāng)所述被測(cè)芯 片所屬的單板為備板、且備板未處于告警中時(shí),則繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢 測(cè);
在步驟A中檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度不超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值后、當(dāng)所述被測(cè)芯 片所屬的單板為備板、且備板正處于告警中時(shí),則關(guān)閉告警,重新啟動(dòng)所述被 測(cè)芯片的所有BANK,并繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè)。
其中,在重新啟動(dòng)所述被測(cè)芯片的所有BANK之后,所述方法進(jìn)一步包括:
將主板切換到所述備板。
一種保護(hù)單板的裝置,該裝置包括:控制模塊及用于檢測(cè)被測(cè)芯片溫度的 檢測(cè)模塊;其中,
控制模塊,用于執(zhí)行步驟A:檢測(cè)被測(cè)芯片的溫度,當(dāng)檢測(cè)模塊檢測(cè)到被 測(cè)芯片的溫度超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值時(shí),關(guān)閉被測(cè)芯片未使用的BANK,并通知檢 測(cè)模塊再次進(jìn)行溫度檢測(cè);
所述控制模塊,還用于執(zhí)行步驟B:在檢測(cè)模塊再次進(jìn)行溫度檢測(cè)過(guò)程中, 當(dāng)檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度仍超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值、且所述被測(cè)芯片所屬的單板為 主板時(shí),發(fā)出告警信號(hào),將主板切換到備板,關(guān)閉被測(cè)芯片的所有BANK,并 通知檢測(cè)模塊繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè)。
其中,所述控制模塊,進(jìn)一步用于,在檢測(cè)模塊再次進(jìn)行溫度檢測(cè)過(guò)程中, 當(dāng)檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度仍超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值、且所述被測(cè)芯片所屬的單板為 備板時(shí),發(fā)出告警信號(hào),并通知所述檢測(cè)模塊繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè)。
其中,所述檢測(cè)模塊,進(jìn)一步用于,在步驟A中檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度不 超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值后,當(dāng)所述被測(cè)芯片所屬的單板為主板時(shí),繼續(xù)進(jìn)行步驟A 中的溫度檢測(cè);
所述檢測(cè)模塊,進(jìn)一步用于,在步驟A中檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫度不超過(guò)預(yù) 設(shè)的門(mén)限值后,當(dāng)所述被測(cè)芯片所屬的單板為備板、且備板未處于告警中時(shí), 繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè);
所述控制模塊,進(jìn)一步用于,在檢測(cè)模塊在步驟A中檢測(cè)到被測(cè)芯片的溫 度不超過(guò)預(yù)設(shè)的門(mén)限值后、當(dāng)所述被測(cè)芯片所屬的單板為備板、且備板正處于 告警中時(shí),關(guān)閉告警,重新啟動(dòng)所述被測(cè)芯片的所有BANK,并通知檢測(cè)模塊 繼續(xù)進(jìn)行步驟A中的溫度檢測(cè)。
其中,所述控制模塊進(jìn)一步用于,在重新啟動(dòng)所述被測(cè)芯片的所有BANK 之后,將主板切換到所述備板。
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H04B10-00 利用微粒輻射束、或無(wú)線電波以外的電磁波,例如光、紅外線的傳輸系統(tǒng)
H04B10-02 .零部件
H04B10-22 .兩個(gè)可相對(duì)移動(dòng)的站之間的傳輸
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