[發(fā)明專利]TFT-LCD陣列基板及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910088291.3 | 申請日: | 2009-07-13 |
| 公開(公告)號: | CN101957526A | 公開(公告)日: | 2011-01-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉翔;謝振宇;陳旭 | 申請(專利權(quán))人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1362 | 分類號: | G02F1/1362;G02F1/1368;H01L21/82 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 曲鵬 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | tft lcd 陣列 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種液晶顯示器及其制造方法,尤其是一種TFT-LCD陣列基板及其制造方法。
背景技術(shù)
薄膜晶體管液晶顯示器(Thin?Film?Transistor?Liquid?CrystalDisplay,簡稱TFT-LCD)具有體積小、功耗低、無輻射等特點(diǎn),在當(dāng)前平板顯示器市場中占據(jù)了主導(dǎo)地位。對TFT-LCD來說,陣列基板以及制造工藝決定了其產(chǎn)品性能、成品率和價格。為了有效地降低價格并提高成品率,TFT-LCD陣列基板的制造工藝逐步得到簡化,從開始的七次構(gòu)圖(7mask)工藝已經(jīng)發(fā)展到基于半色調(diào)或灰色調(diào)掩模技術(shù)的四次構(gòu)圖(4mask)工藝。
目前,TFT-LCD陣列基板的制造是通過一組構(gòu)圖工藝形成薄膜圖形來完成,一次構(gòu)圖工藝形成一層薄膜圖形?,F(xiàn)在技術(shù)采用的四次構(gòu)圖工藝技術(shù)是利用半色調(diào)或灰色調(diào)掩模板技術(shù),通過一次構(gòu)圖工藝完成有源層、數(shù)據(jù)線、源電極、漏電極和TFT溝道區(qū)域圖形的制作。其中在形成TFT溝道區(qū)域圖形時,摻雜半導(dǎo)體薄膜采用干法刻蝕工藝,為了保證完全刻蝕掉TFT溝道區(qū)域的摻雜半導(dǎo)體薄膜,并考慮到刻蝕的均一性和刻蝕的選擇比,通常需要過刻半導(dǎo)體薄膜,即刻蝕掉部分厚度的半導(dǎo)體薄膜,因此現(xiàn)有制作工藝均采用較厚的半導(dǎo)體薄膜,半導(dǎo)體薄膜厚度一般為
根據(jù)薄膜晶體管關(guān)斷電流的定義可知,薄膜晶體管關(guān)斷電流與半導(dǎo)體薄膜的厚度成正比,隨著半導(dǎo)體薄膜厚度的增加,薄膜晶體管的關(guān)斷電流增大,而薄膜晶體管關(guān)斷電流的增大導(dǎo)致漏電增大,縮短像素電極保持電壓的時間,因此將直接降低TFT-LCD陣列基板的性能。進(jìn)一步地,現(xiàn)有技術(shù)采用干法刻蝕工藝刻蝕摻雜半導(dǎo)體薄膜和半導(dǎo)體薄膜時,由于物理轟擊效應(yīng),致使TFT溝道區(qū)域內(nèi)半導(dǎo)體薄膜的表面比較粗糙,也會降低TFT-LCD陣列基板的性能。此外,現(xiàn)有技術(shù)采用半色調(diào)或灰色調(diào)掩模板工藝形成TFT溝道區(qū)域中,多步刻蝕工藝導(dǎo)致的不良(如源漏電極搭接和溝道斷路等)嚴(yán)重降低了產(chǎn)品的良品率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種TFT-LCD陣列基板制造方法,有效解決現(xiàn)有技術(shù)因采用較厚半導(dǎo)體薄膜導(dǎo)致TFT-LCD陣列基板性能降低的技術(shù)缺陷。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種TFT-LCD陣列基板,包括柵線和數(shù)據(jù)線,所述柵線和數(shù)據(jù)線限定的像素區(qū)域內(nèi)形成有像素電極和薄膜晶體管,所述薄膜晶體管包括柵電極、半導(dǎo)體層、源電極和漏電極,所述半導(dǎo)體層的表面為經(jīng)表面處理形成的歐姆接觸層,所述源電極和漏電極分別通過所述歐姆接觸層與半導(dǎo)體層連接。
所述表面處理為采用PH3氣體的P化處理,所述P化處理的射頻功率為5KW~12KW,氣壓為100mT~400mT,氣體的流量為1000~4000sccm。所述半導(dǎo)體層的厚度為
所述像素電極、柵線和柵電極形成在基板上并在同一次構(gòu)圖工藝中形成,即由透明導(dǎo)電薄膜形成的像素電極形成在基板上,柵電極和柵線下方保留有透明導(dǎo)電薄膜。
在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上,所述像素電極、柵線和柵電極上形成有柵絕緣層,所述半導(dǎo)體層形成在柵絕緣層上并位于柵電極的上方,鈍化層形成在半導(dǎo)體層上并覆蓋整個基板,位于半導(dǎo)體層所在位置的鈍化層上開設(shè)有第二過孔和第三過孔,所述第二過孔和第三過孔內(nèi)的半導(dǎo)體層表面為經(jīng)表面處理形成的歐姆接觸層,所述源電極和漏電極形成在鈍化層上,所述源電極通過所述第三過孔內(nèi)的歐姆接觸層與半導(dǎo)體層連接,所述漏電極通過所述第二過孔內(nèi)的歐姆接觸層與半導(dǎo)體層連接。
在上述技術(shù)方案基礎(chǔ)上,所述像素電極、柵線和柵電極上形成有柵絕緣層,所述半導(dǎo)體層形成在柵絕緣層上并位于柵電極的上方,所述半導(dǎo)體層上形成有阻擋層,所述阻擋層兩側(cè)區(qū)域的半導(dǎo)體層表面為經(jīng)表面處理形成的歐姆接觸層,所述源電極通過位于阻擋層一側(cè)的歐姆接觸層與半導(dǎo)體層連接,所述漏電極通過位于阻擋層另一側(cè)的歐姆接觸層與半導(dǎo)體層連接。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供了一種TFT-LCD陣列基板制造方法,包括:
步驟1、在基板上依次沉積透明導(dǎo)電薄膜和柵金屬薄膜,通過構(gòu)圖工藝形成包括像素電極、柵線和柵電極的圖形;
步驟2、在完成步驟1的基板上通過沉積結(jié)構(gòu)層和構(gòu)圖工藝形成包括柵絕緣層和半導(dǎo)體層的圖形,且所述半導(dǎo)體層的表面為經(jīng)表面處理形成的歐姆接觸層;
步驟3、在完成步驟2的基板上沉積源漏金屬薄膜,通過構(gòu)圖工藝形成包括數(shù)據(jù)線、源電極和漏電極的圖形,所述源電極和漏電極分別通過所述歐姆接觸層與半導(dǎo)體層連接。
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G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





