[發明專利]一種提高掃描鏈測試覆蓋率的方法和裝置有效
| 申請號： | 200910080959.X | 申請日： | 2009-03-30 |
| 公開（公告）號： | CN101515479A | 公開（公告）日： | 2009-08-26 |
| 發明（設計）人： | 張浩 | 申請（專利權）人： | 北京中星微電子有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/14 | 分類號： | G11C29/14 |
| 代理公司： | 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 | 代理人： | 顧惠忠 |
| 地址： | 100083北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 提高 掃描 測試 覆蓋率 方法 裝置 | ||
1.一種提高掃描鏈測試覆蓋率的方法，所述掃描鏈由多個寄存器串接而 成，其特征在于，包括：
連接掃描模式下被置為零的存儲器內建自測試控制信號的輸入端到掃描 鏈中的某一寄存器上；
輸入測試向量生成工具產生的掃描測試向量給包括所述某一寄存器的掃 描鏈，并且將組合邏輯的輸出以及所述存儲器內建自測試控制信號單元的輸出 輸入到同一與門以測試所述組合邏輯，其中，所述與門輸出所述組合邏輯的掃 描測試結果至D觸發器；
通過所述D觸發器比較所述組合邏輯的掃描測試結果和邏輯期望值以判 斷所述組合邏輯是否正常。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述存儲器內建自測試控 制信號為內建自測試選擇信號、內建自測試執行信號或內建自測試結果使能信 號。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述某一寄存器為掃描鏈 中的任意一個寄存器。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試向量生成工具為 自動測試向量生成工具。
5.一種提高掃描鏈測試覆蓋率的裝置，所述掃描鏈由多個寄存器串接而 成，各寄存器具有接收測試向量生成工具產生的掃描測試向量的端口，其特征 在于，包括：
與所述掃描鏈中的某一寄存器連接的存儲器內建自測試控制信號單元；
其輸出端與所述存儲器內建自測試控制信號單元的輸出端作為同一與門 輸入端的組合邏輯；
用于輸出所述組合邏輯掃描測試結果的所述與門。
6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述存儲器內建自測試控 制信號單元包括：內建自測試選擇信號單元、內建自測試執行信號單元或內建 自測試結果使能信號單元。
7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述某一寄存器為所述掃 描鏈中的任意一個寄存器。
8.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述測試向量生成工具為 自動測試向量生成工具。
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