[發(fā)明專利]一種測量氧化鐵皮厚度方向元素分布的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910080651.5 | 申請日: | 2009-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN101509894A | 公開(公告)日: | 2009-08-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔡寧;鞠新華;徐永林;李舒笳 | 申請(專利權(quán))人: | 首鋼總公司 |
| 主分類號: | G01N27/68 | 分類號: | G01N27/68 |
| 代理公司: | 北京華誼知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 劉月娥 |
| 地址: | 100041北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測量 氧化 鐵皮 厚度 方向 元素 分布 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于金屬材料及熱處理檢驗方法領(lǐng)域,特別是提供了一種測量氧化鐵皮厚度方向 元素分布的方法,用表面輝光原理結(jié)合臺階儀(或輪廓儀、原子力顯微鏡、激光共聚焦顯微 鏡等)共同測量鋼材表面氧化鐵皮厚度方向元素分布,用于宏觀測定氧化鐵皮的組成、元素 偏聚等特征,為氧化鐵皮成份控制、提高鋼材質(zhì)量奠定基礎(chǔ)。
背景技術(shù)
鋼材的生產(chǎn)工藝直接影響其表面氧化鐵皮中各氧化物(包括Fe2O3、Fe3O4、FeO以及由 于環(huán)境介質(zhì)和基體合金元素作用形成的其它非金屬類夾雜物)、化學(xué)元素(Fe、O、Si、Al、 Cu等)的種類、數(shù)量、形態(tài)、層狀結(jié)構(gòu)的分布以及與基體材料之間的物理化學(xué)關(guān)系。這些都 將直接影響鋼材的除鱗效果、最終產(chǎn)品的質(zhì)量與其耐腐蝕特性。例如:鱗層與基體界面處Si 含量太高,將難以進(jìn)行利用機(jī)械除鱗的拉絲過程;如果Cr含量過高,將惡化機(jī)械除鱗性能; Cu元素的含量直接影響鐵皮與基體的附著性以及除鱗特性;如果鱗層中含有大量Si和Cu,則 不容易通過普通除鱗方法去除。由此可見,準(zhǔn)確獲得氧化鐵皮中各元素的分布特性,對評價、 控制鋼材表面質(zhì)量具有非常重要的作用。
目前,在文獻(xiàn)以及專利中檢索到的氧化鐵皮成分測量方法有:1)如專利CN?1498283A所 述,使用溴-溴化鈉-十二烷基苯磺酸鈉-甲醇溶液,溶解基底金屬部分,使氧化鐵皮(鱗層) 與基體分離。然后對氧化鐵皮的內(nèi)表面(和基體金屬相連的那一側(cè))進(jìn)行EPMA(電子探針 顯微分析儀)元素線性分析。測量線的方向沿周邊設(shè)置。測量條件如下:加速電壓設(shè)置為15kV, 發(fā)射電流為1×10-8A。因此,在40μm的掃描距離之間以100nm的測量間距測量400個點,將400 個測量點的Si平均濃度定義為鱗層界面部分中的Si平均濃度。2)如專利CN?1982494A所述, 采用下述制備的樣品在日本電子的X-射線微量分析儀“JXA-8800RL”上由EPMA定量線性分 析從表面到內(nèi)部中心的Cu含量獲得曲線圖,并且示出了Cu濃度(%)離表面的距離之間的關(guān) 系。樣品制備:將帶有鐵鱗的鋼材埋入樹脂中,用研磨劑對與軋制方向垂直的橫截面進(jìn)行鏡 面拋光,隨后為了保持導(dǎo)電性進(jìn)行鋨的氣相沉積,從而制備出樣品。測試條件:加速電壓為 15kV,輻射電流為0.3μA,在分布間隔為1μm的總計300個點上進(jìn)行定量線性分析。3)如文獻(xiàn) [蔣柯,韓靜濤.塑性工程學(xué)報.Vol.3(2000),No.3,pp.40-43.]所述,用掃描電鏡對氧化鐵皮的 內(nèi)、外表面作成分定性分析的X射線能譜。4)如文獻(xiàn)[Kizu?T,Nagataki?Y,Inazumi?T,and?Hosoya Y.ISIJ?international,vol.41(2001),No.12,pp.1494-1501.]所述,采用SIMS(二次離子質(zhì)譜)分 析元素Si、P、O的含量隨測試時間的變化曲線。分析面積為60μm2~250×250μm2,8keV,O 離子轟擊。
如上所述,方法1、2相似,均采用電子探針顯微分析儀進(jìn)行,這種方法只能分析樣品表 面的元素含量,而且所測試樣品需要經(jīng)過金相拋光,才能獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。方法1是在鱗層厚 度方向上以一定的測量間距測量若干個點,將這些個測量點的Si平均濃度定義為鱗層界面部 分中的Si平均濃度。該方法只是給出其鱗層界面一點的Si平均濃度,不能真正反映Si元素沿厚 度方向上的含量分布。方法3對測試樣品的要求與方法1、2相同,方法2與方法3相似,分別采 用EPMA與X射線能譜在鱗層厚度方向上進(jìn)行線掃描,所測量的結(jié)果只能反映該測量線附近元 素分布狀態(tài),所測結(jié)果為微觀元素分布,不能反映樣品宏觀的平均結(jié)果。方法4是采用二次離 子質(zhì)譜測量元素的含量隨測試時間的變化曲線,該方法測量結(jié)果較準(zhǔn)確,可獲得準(zhǔn)確的測量 結(jié)果,并且可以對樣品進(jìn)行逐層分析,給出測量元素的厚度分布數(shù)據(jù),但是所測量面積仍然 較小。以上幾種方法均是微觀尺度上的成分分析方法,不適于進(jìn)行宏觀范圍內(nèi)的元素分析。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測量氧化鐵皮厚度方向元素分布的方法,用表面輝光原理結(jié) 合臺階儀(或輪廓儀、原子力顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡等)共同測量鋼材表面氧化鐵皮厚 度方向元素分布的方法,解決了氧化鐵皮元素宏觀分布測量困難的問題,可以方便、快捷地 測定氧化鐵皮的組成、元素偏聚等特征,為氧化鐵皮成份控制、提高鋼材質(zhì)量奠定基礎(chǔ)。
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