[發明專利]陣列基板及制造方法和液晶面板及制造方法有效
| 申請號: | 200910078872.9 | 申請日: | 2009-03-04 |
| 公開(公告)號: | CN101826488A | 公開(公告)日: | 2010-09-08 |
| 發明(設計)人: | 樸相鎮 | 申請(專利權)人: | 北京京東方光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/84 | 分類號: | H01L21/84;H01L21/311;H01L21/78;H01L27/12;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 100176 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 制造 方法 液晶面板 | ||
1.一種陣列基板的制造方法,包括:
提供一基板,所述基板包括多個液晶面板區域和多個切割區域,所述切割區域位于相鄰的所述液晶面板區域之間,以隔離每個所述液晶面板區域;
在所述基板上形成柵線和柵電極;
在形成有所述柵線和柵電極的所述基板上沉積柵絕緣薄膜,并且在所述柵電極上形成有源層、數據線、源電極、漏電極和溝道;
在形成有所述數據線、源電極、漏電極和溝道的所述基板上沉積鈍化薄膜,并且在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔;
在形成有所述鈍化層過孔的所述基板上形成通過所述鈍化層過孔與所述漏電極電連接的像素電極;
其特征在于,在所述基板的切割區域去除所述柵絕緣薄膜和所述鈍化薄膜。
2.根據權利要求1所述的陣列基板的制造方法,其特征在于,所述在所述基板的切割區域去除所述柵絕緣薄膜和所述鈍化薄膜具體為:
在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔的同時,蝕刻在所述基板的切割區域的所述柵絕緣薄膜和所述鈍化薄膜。
3.根據權利要求1所述的陣列基板的制造方法,其特征在于,所述在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔,并且在形成有所述鈍化層過孔的所述基板上形成通過所述鈍化層過孔與所述漏電極電連接的像素電極具體為:
采用雙調掩模板在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔,并且在形成有所述鈍化層過孔的所述基板上通過剝離工藝形成通過所述鈍化層過孔與所述漏電極電連接的像素電極。
4.一種陣列基板,包括多個液晶面板區域和多個切割區域,所述切割區域位于相鄰的所述液晶面板區域之間,以隔離每個所述液晶面板區域,其特征在于,所述液晶面板區域包括柵絕緣薄膜和鈍化薄膜,所述切割區域露出基板的表面。
5.一種液晶面板的制造方法,包括陣列基板的制造方法和彩膜基板的制造方法,其中,所述陣列基板的制造方法包括:
提供一基板,所述基板包括多個液晶面板區域和多個切割區域,所述切割區域位于相鄰的所述液晶面板區域之間,以隔離每個所述液晶面板區域;
在所述基板上形成柵線和柵電極;
在形成有所述柵線和柵電極的所述基板上沉積柵絕緣薄膜,并且在所述柵電極上形成有源層、數據線、源電極、漏電極和溝道;
在形成有所述數據線、源電極、漏電極和溝道的所述基板上沉積鈍化薄膜,并且在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔;
在形成有所述鈍化層過孔的所述基板上形成通過所述鈍化層過孔與所述漏電極電連接的像素電極;
其特征在于,在所述基板的切割區域去除所述柵絕緣薄膜和所述鈍化薄膜。
6.根據權利要求5所述的液晶面板的制造方法,其特征在于,所述在所述基板的切割區域去除所述柵絕緣薄膜和所述鈍化薄膜具體為:在在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔的同時,蝕刻在所述基板的切割區域的所述柵絕緣薄膜和所述鈍化薄膜。
7.根據權利要求5所述的液晶面板的制造方法,其特征在于,所述在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔,并且在形成有所述鈍化層過孔的所述基板上形成通過所述鈍化層過孔與所述漏電極電連接的像素電極具體為:
采用雙調掩模板在所述漏電極上方的所述鈍化薄膜上形成鈍化層過孔,并且在形成有所述鈍化層過孔的所述基板上通過剝離工藝形成通過所述鈍化層過孔與所述漏電極電連接的像素電極。
8.一種液晶面板,包括:陣列基板和彩膜基板,所述陣列基板包括多個液晶面板區域和多個切割區域,所述切割區域位于相鄰的所述液晶面板區域之間,以隔離每個所述液晶面板區域,其特征在于,所述液晶面板區域包括柵絕緣薄膜和鈍化薄膜,所述切割區域露出基板的表面。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京京東方光電科技有限公司,未經北京京東方光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910078872.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





