[發(fā)明專利]一種X-射線濾光片的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910076786.4 | 申請(qǐng)日: | 2009-01-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101475698A | 公開(公告)日: | 2009-07-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張靜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院高能物理研究所 |
| 主分類號(hào): | C08J5/18 | 分類號(hào): | C08J5/18;C08L101/00;C08L75/04;C08L33/12;C08L77/00;C08L63/00;C08L67/00;C08K3/22;G21K3/00;G01N23/223 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 射線 濾光 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于無機(jī)納米粒子/高分子復(fù)合材料的應(yīng)用領(lǐng)域,具體地說,涉及一種利用無機(jī)納米粒子/高分子復(fù)合材料制備X-射線濾光片的方法。
背景技術(shù)
同步輻射技術(shù)作為獨(dú)特的物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征手段,正在引起人們的廣泛關(guān)注。在眾多的同步輻射技術(shù)中,X-射線吸收光譜的熒光模式測(cè)量因其能夠探測(cè)含量低于100ppm物質(zhì)的電子結(jié)構(gòu)和局域結(jié)構(gòu),已廣泛應(yīng)用于凝聚態(tài)物理、材料科學(xué)、化學(xué)化工、環(huán)境科學(xué)及生命科學(xué)。人們希望獲取高質(zhì)量的X-射線吸收光譜數(shù)據(jù)。X-射線吸收光譜的熒光模式測(cè)量是收集被測(cè)元素的熒光信號(hào)隨入射光能量的變化,通過X-射線濾光片可減少在測(cè)量中的散射背底信號(hào),提高信噪比。因此,研制X-射線濾光片以改善X射線吸收光譜信號(hào)變得格外重要。
在X射線能量范圍4KeV-30KeV之間,濾光片是一定厚度的金屬薄膜或混合均勻的金屬氧化物/有機(jī)高分子薄膜。如何將金屬氧化物顆粒均勻分散在有機(jī)高分子薄膜中,以及金屬氧化物/有機(jī)高分子的配比和恰當(dāng)?shù)某赡すに嚩际荴-射線濾光片制備的關(guān)鍵。
目前,市售的X-射線濾光片是將金屬氧化物粉末分散在高分子的有機(jī)溶液中,通過噴涂工藝制作而成的。這種方法的缺點(diǎn)是涂料形成粉塵污染、涂料消耗大、利用率低、對(duì)人體和環(huán)境有害、在通風(fēng)不良的情況下,有機(jī)溶劑的蒸氣達(dá)到一定程度,可能引起爆炸和火災(zāi)。另外,對(duì)于市售的X-射線濾光片,基質(zhì)材料-金屬氧化物粉末的粒度通常為300目,會(huì)引入因?yàn)轭w粒散射和衍射而導(dǎo)致的背底信號(hào);同時(shí),較高含量的基底高分子材料也增加在測(cè)量中的散射信號(hào),減少被測(cè)元素的熒光信號(hào)。因此,如何改進(jìn)成膜工藝,并降低金屬氧化物粉末的粒度,改善金屬氧化物/高分子材料的比例,成為制備X-射線濾光片中亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種X-射線濾光片的制備方法。
本發(fā)明的另一目的,是提供上述方法制得的X-射線濾光片。
本發(fā)明所提供的X-射線濾光片的制備方法,以金屬氧化物納米粒子為基質(zhì)材料,有機(jī)高分子分散液為基底材料,按照1∶5-2∶1,優(yōu)選1∶2-1∶1的基質(zhì)/基底重量比混合,通過自動(dòng)涂膜機(jī)和濕膜制備器,制備金屬氧化物納米粒子高度分散的有機(jī)高分子薄膜,應(yīng)用于X-射線濾光片。
上述X-射線濾光片的制備方法,具體包括如下的步驟:
1、將金屬氧化物粒子加入到有機(jī)高分子材料分散液中,進(jìn)行超聲處理,制備得到金屬氧化物納米粒子/有機(jī)高分子的混合液;
2、將上述混合液鋪展在自動(dòng)涂膜機(jī)上,通過調(diào)節(jié)濕膜制備器的厚度,制備均勻分散的金屬氧化物納米粒子/有機(jī)高分子薄膜,應(yīng)用于X-射線濾光片。
其中,所述均勻分散的金屬氧化物納米粒子/有機(jī)高分子薄膜的厚度為0.06mm-0.25mm。
所述金屬氧化物為氧化鐵、氧化鎳、氧化鋅、氧化鋯、氧化鈦、氧化銅、氧化鈷、氧化錳、氧化釩、氧化鎵、氧化鍺、氧化鐿、氧化銣、氧化鉬,其粒徑為5nm-100nm。
所述有機(jī)高分子為聚氨酯、有機(jī)玻璃、尼龍、環(huán)氧樹酯、醇酸樹酯或聚酯。
所述有機(jī)高分子材料分散液為有機(jī)高分子材料分散在乙醇、二甲苯、環(huán)己酮和乙酸乙酯中一種或多種有機(jī)溶劑的分散液。
本發(fā)明還提供了由上述方法制得的X-射線濾光片,其厚度為0.06nm-0.25mm。
本發(fā)明利用納米粒子的小尺寸、大的表面積及表面極性,能夠與帶極性官能團(tuán)的高分子液體,在超聲波的作用下均勻混合,采用不同厚度的濕膜制備器,在步進(jìn)電機(jī)控制的自動(dòng)涂膜機(jī)上,可較為精確的控制膜的厚度在0.06nm-0.25mm,制備金屬氧化物納米粒子均勻分散的有機(jī)高分子薄膜。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明采用自動(dòng)涂膜機(jī)和濕膜制備器,制備厚度可控的X-射線濾光片,這種方法能大大地減少涂料消耗及對(duì)人體和環(huán)境污染,另外,將均勻分散的金屬氧化物粒子引入X-射線濾光片,也可用于降低散射背底,提高X射線吸收光譜的熒光模式測(cè)量中的信噪比。
附圖說明
圖1為本發(fā)明方法制備X-射線濾光片的濾光原理示意圖;
A、熒光峰;B、濾光片吸收邊;C、樣品吸收邊;
圖2為不同濾光片在抑制散射背底和相對(duì)增強(qiáng)熒光強(qiáng)度的性能比較;
D、釩的Kα;E、釩的Kβ;F、散射背底。
具體實(shí)施方式
以下實(shí)施例進(jìn)一步說明本發(fā)明的內(nèi)容,但不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
實(shí)施例1制備納米氧化鐵/聚氨酯X-射線濾光片
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