[發明專利]X-熒光熔融法測定鈦鐵、釩鐵中合金元素含量方法無效
| 申請號: | 200910074796.4 | 申請日: | 2009-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN101592571A | 公開(公告)日: | 2009-12-02 |
| 發明(設計)人: | 唐恒國;楊林浩;鮑希波;石毓霞;趙靖;侯鋼鐵;王麗君;王紅秋;吳獻文 | 申請(專利權)人: | 邯鄲鋼鐵股份有限公司;河北鋼鐵集團有限公司 |
| 主分類號: | G01N1/28 | 分類號: | G01N1/28;G01N23/223 |
| 代理公司: | 石家莊冀科專利商標事務所有限公司 | 代理人: | 周曉萍;曹淑敏 |
| 地址: | 056015*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 熒光 熔融 測定 釩鐵中 合金 元素 含量 方法 | ||
1.一種X-熒光熔融法測定鈦鐵、釩鐵中合金元素含量方法,包括a.標準玻璃片樣品制備、b.熒光強度測量及繪制相關元素檢測工作曲線、c.被測試樣玻璃片制備、d.根據所述檢測工作曲線對被測試樣分析測定步驟,其特征在于:所述a步驟中先按重量單位稱取大份熔劑4~5、小份熔劑1、強堿1.5~2.5、鈦鐵或釩鐵合金標準樣品0.15~0.25、無水碳酸鋰1、碘化銨溶液1.5~2.0,所述熔劑為無水四硼酸鋰或無水四硼酸鋰與偏硼酸鋰按質量比2∶1混配,所述強堿為氫氧化鋰或氫氧化鈉或氫氧化鉀;然后取大份熔劑平鋪于鉑金坩堝底部、取強堿覆于熔劑中部1/2坩堝半徑的圓形區域內、取鈦鐵或釩鐵合金標準樣品均勻地散覆于強堿表面、取無水碳酸鋰覆于熔劑及鈦鐵或釩鐵合金標準樣品表面、取小份熔劑覆于無水碳酸鋰表面、取碘化銨溶液滴入鉑金坩堝;再將鉑金坩堝置于熔樣爐旋轉支架上,在熔融溫度1000℃~1100℃,熔融時間20min條件下轉動鉑金坩堝熔融試樣,熔融完成后取出熔制好的標準玻璃片樣品,冷卻至室溫;所述c步驟中將鈦鐵或釩鐵合金標準樣品替換為被測鈦鐵或釩鐵合金樣品,其它操作按照a步驟完成,在a步驟和c步驟中稱量誤差不超過正負萬分之五。
2.根據權利要求1所述的X-熒光熔融法測定鈦鐵、釩鐵中合金元素含量方法,其特征在于:所述轉動鉑金坩堝熔融過程中,轉動鉑金坩堝前靜止時間3min,爐體擺動加旋轉支架自旋時間15min,后靜止時間2min。
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