[發明專利]一種提高發光二極管外量子效率的方法有效
| 申請號: | 200910061316.0 | 申請日: | 2009-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN101521258A | 公開(公告)日: | 2009-09-02 |
| 發明(設計)人: | 劉玉萍;魏世禎;孫飛 | 申請(專利權)人: | 武漢華燦光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 江西省專利事務所 | 代理人: | 胡里程 |
| 地址: | 430223*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 提高 發光二極管 量子 效率 方法 | ||
1.一種提高發光二極管外量子效率的方法,該發光二極管外延片結構從下向 上的順序依次為襯底(1)、低溫緩沖層(2)、高溫緩沖層(3)、第一N型層(4)、 第二N型層(5)、第三N型層(6)、第四N型層(7)、發光層多量子阱結構 MQW(8)、P型層,P型層由第一P型層(9)、第二P型層(10)、第三P型 層(11)依次累疊生長而成;其特征在于:發光二極管外延片P型層采用粗化 方式生長:提高P型層鎂Mg原子的摻雜濃度從而達到使外延片表面粗糙化的 目的,鎂原子與鎵原子的摩爾比介于1/100至1/4之間;上述第一P型層(9)、 第二P型層(10)、第三P型層(11)合稱P型復合層,采用上述粗化方式生 長的P型層為粗化層,所述粗化層為P型復合層中任意一層或多層,或某一層 某一個區域;粗化層直接接觸且位于發光層多量子阱結構MQW(8)之上,或 者位于LED外延層最表層,或者位于P型復合結構的中間層;P型復合層包 括第一P型層(9)鋁銦鎵氮合金AlxInyGa1-x-yN0<x<1,0≤y<1,x+y<1, 第二P型層(10)鋁銦鎵氮合金AlxInyGa1-x-yN0≤x<1,0≤y<1,x+y<1, 第三P型層(11)鋁銦鎵氮合金AlxInyGa1-x-yN,0≤x<1,0≤y<1,x+y<1; 第一P型層(9)AlxInyGa1-x-yN0<x<1,0≤y<1,x+y<1的生長厚度介于 10nm至200nm之間,第二P型層(10)AlxInyGa1-x-yN0≤x<1,0≤y<1, x+y<1的生長厚度介于100nm至800nm之間,第三P型層(11)AlxInyGa1-x-yN 0≤x<1,0≤y<1,x+y<1的生長厚度介于5nm至20nm之間;第一P型層(9) AlxInyGa1-x-yN0<x<1,0≤y<1,x+y<1的生長溫度介于950℃至1080℃之 間,第二P型層(10)AlxInyGa1-x-yN(0≤x<1,0≤y<1,x+y<1的生長溫度介于 850℃至1050℃之間,第三P型層(11)AlxInyGa1-x-yN0≤x<1,0≤y<1, x+y<1的生長溫度介于850℃至1050℃之間。
2.如權利要求1所述一種提高發光二極管外量子效率的方法,其特征在于: 第二P型層(10)AlxInyGa1-x-yN0≤x<1,0≤y<1,x+y<1中的鎂原子的摻 雜濃度是梯度變化的,靠近發光層多量子阱結構MQW(8)的濃度最低,靠近 外延片表面的濃度最高,隨二極管外延片結構從下向上,鎂原子的摻雜濃度逐 漸升高。
3.如權利要求1所述一種提高發光二極管外量子效率的方法,其特征在于: 第一P型層(9)AlxInyGa1-x-yN0<x<1,0≤y<1,x+y<1,包括AlGaN,Al 的組分介于5%至30%之間。
4.如權利要求1所述一種提高發光二極管外量子效率的方法,其特征在于: 第二P型層(10)AlxInyGa1-x-yN0≤x<1,0≤y<1,x+y<1,包括AlGaN,GaN, InGaN,其禁帶寬度小于第一P型層(9)。
5.如權利要求1所述一種提高發光二極管外量子效率的方法,其特征在于: 第三P型層(11)AlxInyGa1-x-yN0≤x<1,0≤y<1,x+y<1,包括AlGaN,GaN, InGaN,其禁帶寬度小于第一P型層(9)。
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