[發(fā)明專利]一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200910060234.4
• 申請(qǐng)日: 2009-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN101644744A
• 公開（公告）日: 2010-02-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 危建國(guó)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 和芯微電子（四川）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/317
• 分類號(hào): G01R31/317
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本技術(shù)主要應(yīng)用于邏輯芯片IC測(cè)試領(lǐng)域，特別是一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方 法。

背景技術(shù)

眾所周知，提高測(cè)試效率的關(guān)鍵在于縮短測(cè)試時(shí)間。要保障芯片邏輯功能的 正確性就必須提高故障覆蓋率，為了達(dá)到這個(gè)目的必須創(chuàng)建測(cè)試向量進(jìn)行測(cè)試。 由于測(cè)試向量的容量大導(dǎo)致測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)，是當(dāng)前測(cè)試效率低、成本高的主要原 因。

IC功能測(cè)試用于保證被測(cè)器件能夠正確完成預(yù)期功能。為了達(dá)到這個(gè)目的必 須先建立測(cè)試向量，才能進(jìn)行檢測(cè)代測(cè)器件的錯(cuò)誤。測(cè)試向量也稱作圖形或者真 值表----由輸入和輸出狀態(tài)組成，具有以下三種狀態(tài)：

1、邏輯0，輸入輸出0狀態(tài)；

2、邏輯1，輸入輸出1狀態(tài)；

3、忽略(X)，沒有輸入或者輸出不需要比較狀態(tài)。

測(cè)試向量分為：

1、輸入數(shù)據(jù)測(cè)試向量----需要送入待測(cè)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)；

2、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量----期望IC回流的數(shù)據(jù)；

3、回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量----IC實(shí)際回流的數(shù)據(jù)。

如圖1所示，在現(xiàn)有的測(cè)試平臺(tái)中是將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量全部存到存儲(chǔ)器中， 再由后臺(tái)從存儲(chǔ)器中取出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較。

在掃描鏈的測(cè)試中數(shù)據(jù)量大這是眾所周知的，而數(shù)據(jù)量大直接影響測(cè)試時(shí)間。 在現(xiàn)有的測(cè)試方法中是將回流數(shù)據(jù)先放在存儲(chǔ)器中，再由后臺(tái)軟件進(jìn)行處理，這 樣不僅測(cè)試速度慢而且需要較大的存儲(chǔ)空間。

同時(shí)，后臺(tái)軟件的處理速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)比不上硬件處理的速度。而現(xiàn)有技術(shù)對(duì)忽略 數(shù)據(jù)位的處理是采用后臺(tái)軟件將標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量中的忽略信息提取出來(lái)，當(dāng)檢 測(cè)到是忽略數(shù)據(jù)后控制將其忽略，使之不參與比較。這樣的處理方法使得標(biāo)準(zhǔn)數(shù) 據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量的比較要慢一個(gè)節(jié)啪，而這部分時(shí)間大都消耗在 了后臺(tái)軟件對(duì)忽略數(shù)據(jù)位的處理。這樣又大大增加了測(cè)試的時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明為解決上述問題，提供了一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，回流數(shù)據(jù)不 需要放回存儲(chǔ)器，忽略數(shù)據(jù)位參與比較，可以大大節(jié)省存儲(chǔ)空間，而且測(cè)試時(shí)間 較短。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種測(cè)試向量的調(diào)節(jié)對(duì)比方法，將存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)測(cè)試向量輸入至待測(cè)系統(tǒng)， 待測(cè)系統(tǒng)輸出回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量，在存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量和回流數(shù)據(jù)測(cè) 試向量進(jìn)行對(duì)比的過程中，其特征在于：首先判斷標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量是否含有忽 略數(shù)據(jù)，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽， 生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，同時(shí)將回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也屏蔽，然后將屏 蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較判斷是否相同；當(dāng)不含有忽略數(shù)據(jù) 時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量直接進(jìn)行比較判斷是否相同。

所述屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量等位寬。

實(shí)現(xiàn)上述方法的調(diào)節(jié)對(duì)比電路，其特征在于：

設(shè)置有一個(gè)忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊，用于判斷忽略數(shù)據(jù)，對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼， 并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量；

設(shè)置有一個(gè)比較模塊，用于標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行比較；

所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷，當(dāng)含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)， 對(duì)忽略數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼，并將忽略數(shù)據(jù)的位置屏蔽，生成屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量，然后 通過比較模塊對(duì)屏蔽數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn)行判斷是否相同；當(dāng)不 含有忽略數(shù)據(jù)時(shí)，直接通過比較模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量與回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量進(jìn) 行比較判斷是否相同。

所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊包括標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量數(shù)據(jù)通道。

所述忽略數(shù)據(jù)位調(diào)節(jié)模塊為一個(gè)邏輯電路，永遠(yuǎn)處于激活狀態(tài)。

對(duì)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量的忽略數(shù)據(jù)的位置進(jìn)行屏蔽時(shí)，該位置被置成邏輯0，其 他位被置成邏輯1；同時(shí)，回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量相同的位置也置成邏輯0，其他位被 置成邏輯1。

所述比較模塊包括兩個(gè)與門，所述標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)試向量、回流數(shù)據(jù)測(cè)試向量分 別輸入至兩個(gè)與門，然后通過異或操作，得出比較結(jié)果，兩個(gè)數(shù)據(jù)如果相同測(cè)輸 出0，相異則輸出為1。

本發(fā)明的有益效果如下：

本方法采用硬件實(shí)時(shí)比較，回流數(shù)據(jù)不需要放回存儲(chǔ)器，從而可以大大節(jié)省 存儲(chǔ)空間；由于是硬件實(shí)時(shí)對(duì)比的方法，忽略數(shù)據(jù)位經(jīng)過特殊處理后參與比較， 這樣測(cè)試時(shí)間較短。

附圖說(shuō)明