[發明專利]一種測試向量的調節對比方法

有效

• 申請號: 200910060234.4
• 申請日: 2009-08-03
• 公開（公告）號: CN101644744A
• 公開（公告）日: 2010-02-10
• 發明（設計）人: 危建國
• 申請（專利權）人: 和芯微電子（四川）有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測試向量的調節對比方法，將存儲器中的數據測試向量輸入至待測系 統，待測系統輸出回流數據測試向量，在存儲器中的標準數據測試向量和回流數 據測試向量進行對比的過程中，其特征在于：首先判斷標準數據測試向量是否含 有忽略數據，當含有忽略數據時，對忽略數據進行解碼，并將忽略數據的位置屏 蔽，生成屏蔽數據測試向量，同時將回流數據測試向量相同的位置也屏蔽，然后 將屏蔽數據測試向量與回流數據測試向量進行比較判斷是否相同；當不含有忽略 數據時，標準數據測試向量與回流數據測試向量直接進行比較判斷是否相同。

2.根據權利要求1所述一種測試向量的調節對比方法，其特征在于：所述屏 蔽數據測試向量與標準數據測試向量等位寬。

3.實現權利要求1所述一種測試向量的調節對比方法的調節對比電路，其特 征在于：

設置有一個忽略數據位調節模塊，用于判斷忽略數據，對忽略數據進行解碼， 并將忽略數據的位置屏蔽，生成屏蔽數據測試向量；

設置有一個比較模塊，用于標準數據測試向量與回流數據測試向量進行比較；

所述忽略數據位調節模塊對標準數據測試向量進行判斷，當含有忽略數據時， 對忽略數據進行解碼，并將忽略數據的位置屏蔽，生成屏蔽數據測試向量，然后 通過比較模塊對屏蔽數據測試向量與回流數據測試向量進行判斷是否相同；當不 含有忽略數據時，直接通過比較模塊對標準數據測試向量與回流數據測試向量進 行比較判斷是否相同。

4.根據權利要求3所述的調節對比電路，其特征在于：所述忽略數據位調節 模塊包括標準數據測試向量數據通道。

5.根據權利要求3所述的調節對比電路，其特征在于：所述忽略數據位調節 模塊為一個邏輯電路，永遠處于激活狀態。

6.根據權利要求3所述的調節對比電路，其特征在于：所述比較模塊包括兩 個與門，標準數據測試向量同時輸入一個與門和解碼模塊，回流數據測試向量輸 入另一個與門；所述標準數據測試向量通過解碼模塊后輸出屏蔽數據測試向量， 屏蔽數據測試向量同時輸入兩個與門，通過兩個與門分別實現與標準數據測試向 量和回流數據測試向量相與，得出比較結果，兩個數據如果相同測輸出0，相異則 輸出為1。