[發明專利]解決測試Pad使用中耐壓問題的電路及方法有效
| 申請號： | 200910057702.2 | 申請日： | 2009-08-04 |
| 公開（公告）號： | CN101989465A | 公開（公告）日： | 2011-03-23 |
| 發明（設計）人： | 董喬華;姚翔 | 申請（專利權）人： | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00;G11C16/06 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人： | 孫大為 |
| 地址： | 201206 上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 解決 測試 pad 使用 耐壓 問題 電路 方法 | ||
1.一種解決測試Pad使用中耐壓問題的電路；包括：
測試Pad模塊，包括MOS管；
存儲器模塊與測試Pad模塊中MOS管的漏極相連接；
其特征在于，還包括：
電壓轉換電路與存儲器模塊相連接；
電壓轉換電路與測試Pad模塊中MOS管的柵極和襯底相連接，調節MOS管柵極和襯底電位，電壓轉換電路向測試Pad模塊輸出電壓V1，輸出至測試Pad中的MOS管柵極和襯底；
當測試信號為最高正電壓時，調整電壓V1的電位到一電壓；當測試信號為負電壓時，調整電壓V1為另一電壓。
2.如權利要求1所述的解決測試Pad使用中耐壓問題的電路，其特征在于，所述存儲器模塊為Flash或EEPROM模塊。
3.如權利要求1所述的解決測試Pad使用中耐壓問題的電路，其特征在于，當測試信號為最高正電壓時，調整電壓V1的電位到零電壓；當測試信號為負電壓時，調整電壓V1為負電壓。
4.如權利要求1所述的解決測試Pad使用中耐壓問題的電路的使用方法，其特征在于，包括以下步驟：
將測試Pad電路中MOS管的柵極和襯底端引出標注V1；
電壓轉換電路根據控制信號選擇不同的輸出電位；
將正電壓范圍的信號和負電壓范圍的信號分類，用不同的測試模式標識；
存儲器模塊中的控制電路測試到正電壓范圍信號時控制電路輸出信號Tm＝電源電壓，測試到負電壓范圍信號時輸出信號Tm＝零電壓；
當Tm＝電源電壓時，電壓轉換電路輸出V1為一電壓；Tm＝零電壓時，電壓轉換電路輸出V1另一電壓。
5.如權利要求1所述的解決測試Pad使用中耐壓問題的電路的使用方法，其特征在于，當Tm＝電源電壓時，電壓轉換電路輸出V1＝零電壓；Tm＝零電壓時，電壓轉換電路輸出V1＝負電壓。
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