[發明專利]溫度計校準檢測方法

無效

• 申請號: 200910055778.1
• 申請日: 2009-07-31
• 公開（公告）號: CN101988857A
• 公開（公告）日: 2011-03-23
• 發明（設計）人: 袁志文
• 申請（專利權）人: 華東電力試驗研究院有限公司
• 主分類號: G01K15/00
• 分類號: G01K15/00
• 代理公司: 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

技術領域

本發明涉及計量技術領域，尤其涉及一種溫度計校準檢測方法。

背景技術

目前溫度計校準檢測方法主要有比較法，將被校溫度計和標準溫度計同放在穩定的標準溫槽中，采用輪測方式分別對被校溫度計和標準溫度計進行比對測量。現舉例說明，被校溫度計為熱敏電阻溫度計，標準溫度計為一等標準鉑電阻溫度計，在某一恒溫下，分別記錄同一時刻被校熱敏電阻溫度計和標準鉑電阻溫度計的測量值，各測量多個數據，再根據數據描點作圖，得到如圖1所示的被校熱敏電阻溫度計測量數據圖和如圖2所示的標準鉑電阻溫度計測量數據圖，圖1中，橫坐標為時間(單位為秒)，縱坐標為電阻值(單位為歐姆)，圖2中，橫坐標為時間(單位為秒)，縱坐標為溫度值(單位為攝氏度)，在被校熱敏電阻溫度計測量數據圖中，從電阻值波動范圍在0.01～0.05(單位：歐姆)內的數據區域中選擇5到10個連續點，求電阻值平均值，然后求出標準鉑電阻溫度計測量數據圖中對應點的平均值，最后根據這兩個平均值求被校熱敏電阻溫度計的溫度系數。如選擇圖1中第10個點到第15個點的電阻值求平均，對應地，求出圖2中第10個點到第15個點的溫度平均值，計算結果分別為3988.052222歐姆和24.992801攝氏度，得到被校熱敏電阻溫度計的溫度系數為159.568歐姆/攝氏度。現有技術的溫度計校準檢測方法的缺點是，計算平均值時取點的選擇沒有考慮標準溫度計和被校溫度計對溫度波動及熱平衡狀態的響應存在差異，檢測誤差較大。

發明內容

本發明的目的在于提供一種溫度計校準檢測方法，可減小測量誤差，提高校準精度。

為了達到上述的目的，本發明提供一種溫度計校準檢測方法，包括以下步驟：步驟1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標準溫度計同一時刻的測量值，各記錄多個數據，并根據記錄的數據分別繪制被校溫度計和標準溫度計的測量數據圖；步驟2，選擇有效數據區；步驟3，在有效數據區內選取特征點計算平均值；步驟4，根據平均值計算被校溫度計的溫度系數。

上述溫度計校準檢測方法，其中，步驟1中得到的被校溫度計的測量數據圖和標準溫度計的測量數據圖呈或近似呈正弦或余弦曲線。

上述溫度計校準檢測方法，其中，步驟2中，決定有效數據區的因素有被校溫度計的特性。

上述溫度計校準檢測方法，其中，步驟2中，被校溫度計的有效數據區的第一個記錄點與標準溫度計的有效數據區的第一個記錄點是同一時刻記錄的。

上述溫度計校準檢測方法，其中，步驟3中，計算平均值的特征點取相鄰波峰和波谷之間包含的所有點，峰值和谷值也包含在內。

上述溫度計校準檢測方法，其中，步驟3中，計算平均值的特征點為一半周期內的所有記錄點。

上述溫度計校準檢測方法，其中，步驟3中，計算被校溫度計電阻平均值的特征點所處的半周期數與計算標準溫度計溫度平均值的特征點所處的半周期數相同。

本發明的溫度計校準檢測方法由于根據被校溫度計的特性選擇有效數據區，在有效數據區內選取特征點計算平均值，消除了由于標準溫度計、被校溫度計對溫場波動及熱平衡狀態響應不同而導致的測量誤差，提高了校準精度。

附圖說明

本發明的溫度計校準檢測方法由以下的實施例及附圖給出。

圖1是現有技術中被校熱敏電阻溫度計的測量數據圖。

圖2是現有技術中標準鉑電阻溫度計的測量數據圖。

圖3是本發明的溫度計校準檢測方法的流程圖。

圖4是本發明一實施例中被校熱敏電阻溫度計的有效數據區圖。

圖5是本發明一實施例中標準鉑電阻溫度計的有效數據區圖。

具體實施方式

以下將結合圖3～圖5對本發明的溫度計校準檢測方法作進一步的詳細描述。

參見圖3，溫度計校準檢測方法包括以下步驟：

步驟1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標準溫度計同一時刻的測量值，各記錄多個數據，并根據記錄的數據分別繪制被校溫度計和標準溫度計的測量數據圖；

為保證恒溫條件，被校溫度計和標準溫度計同放在穩定的標準溫槽中，仍采用輪測方式分別對被校溫度計和標準溫度計進行比對測量；制圖可與記錄同步，也可以先記錄數據，后制圖；被校溫度計的測量數據圖和標準溫度計的測量數據圖通常呈正弦或余弦曲線，或者近似呈正弦或余弦曲線；

步驟2，選擇有效數據區；

決定有效數據區的因素有被校溫度計的特性；被校溫度計的有效數據區的第一個記錄點與標準溫度計的有效數據區的第一個記錄點應該是同一時刻記錄的；

步驟3，在有效數據區內選取特征點計算平均值；