[發(fā)明專利]溫度計校準檢測方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910055778.1 | 申請日： | 2009-07-31 |
| 公開（公告）號： | CN101988857A | 公開（公告）日： | 2011-03-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 袁志文 | 申請（專利權(quán)）人： | 華東電力試驗研究院有限公司 |
| 主分類號： | G01K15/00 | 分類號： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 鄭瑋 |
| 地址： | 200437 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 溫度計 校準 檢測 方法 | ||
1.一種溫度計校準檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟1，在恒溫條件下，記錄被校溫度計和標準溫度計同一時刻的測量值，各記錄多個數(shù)據(jù)，并根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)分別繪制被校溫度計和標準溫度計的測量數(shù)據(jù)圖；
步驟2，選擇有效數(shù)據(jù)區(qū)；
步驟3，在有效數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)選取特征點計算平均值；
步驟4，根據(jù)平均值計算被校溫度計的溫度系數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的溫度計校準檢測方法，其特征在于，步驟1中得到的被校溫度計的測量數(shù)據(jù)圖和標準溫度計的測量數(shù)據(jù)圖呈或近似呈正弦或余弦曲線。
3.如權(quán)利要求1所述的溫度計校準檢測方法，其特征在于，步驟2中，決定有效數(shù)據(jù)區(qū)的因素有被校溫度計的特性。
4.如權(quán)利要求1所述的溫度計校準檢測方法，其特征在于，步驟2中，被校溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記錄點與標準溫度計的有效數(shù)據(jù)區(qū)的第一個記錄點是同一時刻記錄的。
5.如權(quán)利要求2所述的溫度計校準檢測方法，其特征在于，步驟3中，計算平均值的特征點取相鄰波峰和波谷之間包含的所有點，峰值和谷值也包含在內(nèi)。
6.如權(quán)利要求5所述的溫度計校準檢測方法，其特征在于，步驟3中，計算平均值的特征點為一半周期內(nèi)的所有記錄點。
7.如權(quán)利要求6所述的溫度計校準檢測方法，其特征在于，步驟3中，計算被校溫度計電阻平均值的特征點所處的半周期數(shù)與計算標準溫度計溫度平均值的特征點所處的半周期數(shù)相同。
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