[發明專利]反射投影成像投影圖中心的對準方法

無效

• 申請號: 200910055005.3
• 申請日: 2009-07-17
• 公開（公告）號: CN101623201A
• 公開（公告）日: 2010-01-13
• 發明（設計）人: 金曉峰;劉立人;孫建鋒;職亞楠;魯偉;嚴毅
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司
• 代理人: 張澤純

技術領域

本發明涉及反投影成像系統，特別是一種反射投影成像投影圖中心的對準方法。在反投影成像系統中，存在目標物體平動所產生的旋轉中心偏移問題，最終將導致不同角度下反射投影中心失配，重建圖像發生錯位。本發明方法利用特征點的投影信息可以迅速快捷的實現不同角度反射投影中心的校準，操作簡單，易于實現。

背景技術

在醫學計算機輔助層析(簡稱為CT)中，根據一維透射投影信息實現兩維圖像重建已經得到廣泛的應用和發展。所得到的一維透射投影信息反應的是在多個不同角度下，物體內部不同部位透射系數的差異。反投影成像的內容為重建圖像某一點的光強密度值可看作這一平面內所有經過該點的射線投影值之和。

如圖1透射層析所示，f(x，y)為待建圖像，L_r，φ為對應的直線r＝xcosφ+ysinφ，p(r，φ)為f(x，y)沿直線L_r，φ的透射特征系數的積分，即角度φ所對應的一維透射投影：

p(r,φ)=∫Lr,φf(x,y)ds---(1)]]>

用反投影成像方法重建圖像g(x，y)，則：

g(x,y)=Σi=1mp(xcosφi+ysinφi,φi)Δφ---(2)]]>

其中，φ_i為第i次投影所對應的角度，Δφ為投影角度采樣間隔，m為總的投影個數。

反射層析(基于距離)類似于上述CT反投影重建圖像的操作過程，其實質是將到源點某一距離的有限表面區域反射所得的投影信息，反投影到離源點同此距離的所有區域，如圖2反射層析激光雷達所示。所不同的是CT依據的透射特征系數，只需要0-π的透射投影信息，而反射層析依據的是反射特征系數，需要0-2π的反射投影信息。