[發(fā)明專利]反射層析激光雷達(dá)雙折線反投影成像方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910050855.4 | 申請(qǐng)日: | 2009-05-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101545976A | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-09-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金曉峰;劉立人;孫建鋒;周煜;吳亞鵬;嚴(yán)毅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01S17/89 | 分類號(hào): | G01S17/89 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 反射 層析 激光雷達(dá) 折線 投影 成像 方法 | ||
1.一種反射層析激光雷達(dá)雙折線反投影成像方法,其特征在于包括以下步驟:
①由探測(cè)目標(biāo)最大尺寸xmax、以探測(cè)器和光脈沖二者中較低的分辨率作為系統(tǒng)的距離分辨率ΔR、激光脈沖寬度τ三個(gè)因素,根據(jù)奈奎斯特采樣定律計(jì)算滿足探測(cè)目標(biāo)完全重建所需要的最小探測(cè)角度采樣間隔Δφ和單個(gè)投影最少采樣點(diǎn)數(shù)Np:
②激光器(1)發(fā)出光脈沖,用會(huì)聚透鏡(2)使光脈沖會(huì)聚后再次發(fā)散,通過(guò)調(diào)節(jié)透鏡的焦距來(lái)改變光斑的大小,使到達(dá)探測(cè)目標(biāo)(3)的光斑外輪廓涵蓋整個(gè)探測(cè)目標(biāo),獲得需要光束最小發(fā)散角α=arcsin(xmax/2L),也就是所對(duì)應(yīng)的雙折線反投影的角度,其中L是探測(cè)器(6)與待測(cè)目標(biāo)(3)之間的距離,根據(jù)激光器發(fā)出光脈沖的時(shí)刻t1,最早接收到反射信息的時(shí)刻t2,最晚接收到反射信息的時(shí)刻t3,探測(cè)器(6)到探測(cè)目標(biāo)(3)的距離L為其中c為光速;
③將初始探測(cè)目標(biāo)所對(duì)應(yīng)的探測(cè)角度定義為φ0=0°,激光器(1)發(fā)出單脈沖照射到探測(cè)目標(biāo)(3)上,探測(cè)器(6)記錄在探測(cè)角度φ0=0°下所對(duì)應(yīng)的經(jīng)過(guò)探測(cè)目標(biāo)反射加寬后的反射投影信息,即探測(cè)器所得到的光功率隨時(shí)間的變化信息,反映的是探測(cè)目標(biāo)表面反射特征系數(shù)隨探測(cè)目標(biāo)深度的變化信息:
p0(t,φ0)=e∫f0(x,y)ds
其中,f0(x,y)為探測(cè)目標(biāo)表面的反射特征系數(shù),e代表到達(dá)探測(cè)目標(biāo)表面的均勻光強(qiáng),p0(t,φ0)為角度φ0下獲得的反射投影信息,ds為探測(cè)目標(biāo)表面積分面元;
④探測(cè)目標(biāo)(3)發(fā)生旋轉(zhuǎn)角度的采樣間隔Δφ后,探測(cè)角度變?yōu)棣?sub>1=φ0+Δφ,激光器(1)再次發(fā)出單個(gè)脈沖,探測(cè)器(6)記錄相應(yīng)的反射投影信息p1(t,φ1);
⑤判斷探測(cè)角度φ1是否大于360°,若小于360°,重復(fù)步驟④i-1次操作,探測(cè)目標(biāo)旋轉(zhuǎn)iΔφ,i為2以上的正整數(shù),相應(yīng)記錄反射投影信息pi(t,φi),直至φi大于360°;
⑥濾波處理:利用公式r=ct,c為光速,將所得到的隨時(shí)間變化的投影信息pi(t,φi)轉(zhuǎn)換成隨距離變化的投影信息,即距離反射投影pi(r,φi),其中r為距離變量,φi為第i次探測(cè)對(duì)應(yīng)的探測(cè)角度,對(duì)每個(gè)探測(cè)角度獲得投影信息進(jìn)行濾波處理,減少重建圖像中的偽跡,具體濾波公式為:其中u為頻域變量,qi(r,φi)為濾波之后各個(gè)探測(cè)角度φi隨距離r變化的反射投影信息,符號(hào)F1、分別表示信號(hào)一維傅里葉變換和傅里葉反變換;
⑦建立重建圖像矩陣gFB1(x,y),其像元坐標(biāo)間隔為所對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)距離分辨率ΔR,為獲得完整的探測(cè)目標(biāo)重建圖像矩陣,該重建圖像矩陣gFB1(x,y)行數(shù)、列數(shù)要大于并將重建圖像矩陣所有像元初始值設(shè)為零;
⑧取所述的重建圖像矩陣gFB1(x,y)第一個(gè)像元所對(duì)應(yīng)的點(diǎn)坐標(biāo)(x1,y1),按照探測(cè)角度φi(i=0,1,2…Nφ)進(jìn)行旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)之后的新坐標(biāo)變?yōu)椋?/p>
x′1=x1cos(φi)+y1sin(φi),y′1=-x1sin(φi)+y1cos(φi)
判斷新坐標(biāo)點(diǎn)(x′1,y′1)到探測(cè)角度φi、距離rj所對(duì)應(yīng)的雙折線的距離是否滿足小于或等于像素間隔ΔR的倍,若滿足以上條件,則重建圖像矩陣的矩陣元gFB1(x1,y1)累加上距離反射投影值與旋轉(zhuǎn)角度的采樣間隔的乘積qi(rj,φi)Δφ,直至像元點(diǎn)坐標(biāo)(x1,y1)完成所有旋轉(zhuǎn)角度φi(i=0,1,2…Nφ)和距離rj(j=0,1,2…Np)的計(jì)算,其中qi(rj,φi)為探測(cè)目標(biāo)第i次探測(cè)在探測(cè)角度φi、距離rj所對(duì)應(yīng)的濾波之后的反射投影值,
具體重建公式如下:
新坐標(biāo)點(diǎn)(x′1,y′1)到角度φi、rj所對(duì)應(yīng)的雙折線的距離d:
若
⑨將重建圖像矩陣gFB1(x,y)的所有其它像元,依次重復(fù)步驟⑧操作,最終將得到雙折線濾波反投影重建圖像gFB1。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910050855.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:帶有刮板的鋪裝輥裝置
- 下一篇:一種具有除霜功能的登車橋
- 同類專利
- 專利分類
G01S 無(wú)線電定向;無(wú)線電導(dǎo)航;采用無(wú)線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類似裝置
G01S17-00 應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的反射或再輻射系統(tǒng),例如,激光雷達(dá)系統(tǒng)
G01S17-02 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波反射的系統(tǒng)
G01S17-66 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的跟蹤系統(tǒng)
G01S17-74 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的再輻射系統(tǒng),例如IFF,即敵我識(shí)別
G01S17-87 .應(yīng)用除無(wú)線電波外電磁波的系統(tǒng)的組合
G01S17-88 .專門適用于特定應(yīng)用的激光雷達(dá)系統(tǒng)





