[發明專利]反射層析激光雷達雙折線反投影成像方法

無效

• 申請號: 200910050855.4
• 申請日: 2009-05-08
• 公開（公告）號: CN101545976A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發明（設計）人: 金曉峰;劉立人;孫建鋒;周煜;吳亞鵬;嚴毅
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01S17/89
• 分類號: G01S17/89
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司
• 代理人: 張澤純

技術領域

本發明涉及反射層析激光雷達，特別是一種反射層析激光雷達雙折線反投影成像方法，通過把反投影波面近似為雙折線，將所測得的球面反射投影信號反投影到對應的雙折線上，用雙折線反投影信號完成相應距離和質量要求的圖像重建。

背景技術

在醫學計算機輔助層析(簡稱為CT)中，根據一維透射投影信息實現兩維圖像重建已經得到廣泛的應用和發展。所得到的一維透射投影信息反應的是在多個不同角度下，物體內部不同部位透射系數的差異。反投影成像的內容為重建圖像某一點的光強密度值可看作這一平面內所有經過該點的射線投影值之和。

如圖1透射層析所示，f(x，y)為代建圖像，L_r，φ為對應的直線r＝xcosφ+ysinφ，p(r，φ)為f(x，y)沿直線L_r，φ的透射特征系數的積分，即角度φ所對應的一維透射投影：

p(r,φ)=∫Lr,φf(x,y)ds---(1)]]>

用反投影成像方法重建圖像g(x，y)，則：

g(x,y)=Σi=1mp(xcosφi+ysinφi,φi)Δφ---(2)]]>

其中，φ_i為第i次投影所對應的角度，Δφ為投影角度采樣間隔，m為總的投影個數。CT反投影成像把取自有限物體空間的射線均勻地反投影到射線所及的無限空間的各點之上，使原先像素數值為零的點經反投影之后不再為零，產生星狀偽跡。為了減少重建圖像星狀偽跡，引入了濾波反投影算法，對獲得的投影進行適度的調整，調整之后的投影數據為：