[發(fā)明專利]電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910046487.6 | 申請(qǐng)日: | 2009-02-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101488514A | 公開(公告)日: | 2009-07-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張挺;宋志棠;劉波;封松林;陳邦明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L27/24 | 分類號(hào): | H01L27/24;H01L21/762;G11C16/02 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 200050*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電阻 轉(zhuǎn)換 存儲(chǔ)器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于微電子技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種存儲(chǔ)器,尤其涉及一種電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ) 器。
背景技術(shù)
電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器是目前新一代非易失性存儲(chǔ)器研究的熱點(diǎn),它集高速、高密 度、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉、抗輻照、非易失性等優(yōu)點(diǎn)于一身,是目前被廣泛看好 的下一代存儲(chǔ)器,具有廣闊的市場(chǎng)前景,它將有機(jī)會(huì)替代目前廣泛使用的閃存存 儲(chǔ)器,從而在電子存儲(chǔ)器領(lǐng)域占據(jù)重要一席。目前的電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器主要有:相 變存儲(chǔ)器和電阻隨機(jī)存儲(chǔ)器,兩種類型的電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器都是目前國(guó)際上廣為看 好的下一代存儲(chǔ)器。前者是建立在器件中的相變材料的可逆相變?cè)斐傻碾娮柁D(zhuǎn) 換,而后者則是建立在非相變的基礎(chǔ)上。
信息時(shí)代信息量的急劇膨脹使得高密度電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器成為電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ) 器發(fā)展的重要方向,為了提升電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器的密度,可采用二極管(包括PN 管和肖特基管)取代MOSFET(場(chǎng)效應(yīng)晶體管)來選通存儲(chǔ)單元,同比下二極管 的單位面積遠(yuǎn)小于MOSFET管。二極管在電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器中的應(yīng)用將大大提高電 阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器的集成度,從而使電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器更具競(jìng)爭(zhēng)力。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:提供一種構(gòu)造簡(jiǎn)單的電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器,其制 造方法簡(jiǎn)便,且與半導(dǎo)體工藝完全兼容,有助于降低成本。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種實(shí)施方式為一種PN二極管選通的電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器,其采用PN二極管選 通電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器單元,且采用的選通PN二極管被兩深度不同的淺溝道隔離相 互分隔開。結(jié)構(gòu)中較深的淺溝道用以隔離各導(dǎo)電字線,較淺的淺溝道用以隔離同 一字線上方的分立二極管,淺溝道隔離采用的材料為絕緣材料。導(dǎo)電字線為第一 導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體,同一導(dǎo)電字線上方擁有數(shù)個(gè)分立的二極管。第一導(dǎo)電類 型重?fù)诫s半導(dǎo)體字線與字線上方的至少一層第二導(dǎo)電類型的半導(dǎo)體之間形成PN 二極管。導(dǎo)電字線上方的至少一層的第二導(dǎo)電類型半導(dǎo)體是與第一導(dǎo)電類型重?fù)? 雜半導(dǎo)體字線一體,或是通過薄膜沉積制備到第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體字線 上,或是通過圓晶鍵合到第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體字線上。進(jìn)一步地,所述電 阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器器件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的方法是通過電信號(hào)對(duì)存儲(chǔ)材料的編程實(shí)現(xiàn)器件電 阻的改變。
本發(fā)明的第二種實(shí)施方式為一種肖特基二極管選通的電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu), 采用肖特基二極管選通電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器單元,且采用的選通肖特基二極管被兩深 度不同的淺溝道隔相互離開。結(jié)構(gòu)中較深的淺溝道用以隔離各字線,較淺的淺溝 道用以隔離同一字線上方的分立肖特基二極管,淺溝道隔離采用的材料為絕緣材 料。導(dǎo)電字線為第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體,同一導(dǎo)電字線上方擁有數(shù)個(gè)分立的 肖特基二極管。結(jié)構(gòu)中第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體字線上有第一導(dǎo)電類型輕摻雜 的半導(dǎo)體,在輕摻雜半導(dǎo)體上方有金屬層,且金屬層與第一導(dǎo)電類型輕摻雜層之 間形成肖特基接觸。導(dǎo)電字線上方的輕摻雜半導(dǎo)體是與字線一體,或是通過薄膜 沉積制備到字線上,或是通過圓晶鍵合到字線上。電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器器件數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 的方法是通過電信號(hào)對(duì)存儲(chǔ)材料的編程實(shí)現(xiàn)器件電阻的改變。
本發(fā)明的第三種實(shí)施方式為一種雙極型晶體管選通的電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu), 采用雙極型晶體管選通電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器單元,且采用的選通雙極型晶體管被兩深 度不同的淺溝道隔相互離開。結(jié)構(gòu)中較深的淺溝道用以隔離各字線,淺溝道隔離 的材料為絕緣材料,較淺的淺溝道用以隔離同一字線上方的分立二極管。結(jié)構(gòu)中, 第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s的導(dǎo)電字線上方的是第二導(dǎo)電類型摻雜的半導(dǎo)體,第二導(dǎo)電 類型摻雜的半導(dǎo)體的上方則又是第一導(dǎo)電類型摻雜的半導(dǎo)體,三層半導(dǎo)體之間形 成了雙極型晶體管結(jié)構(gòu)。而導(dǎo)電字線上方的形成雙極型晶體管必須的至少兩層半 導(dǎo)體是與第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體字線為一體,或是通過薄膜沉積制備到第一 導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體字線上,或是通過圓晶鍵合到第一導(dǎo)電類型重?fù)诫s半導(dǎo)體 字線上。電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器器件數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的方法是通過電信號(hào)對(duì)存儲(chǔ)材料的編程實(shí) 現(xiàn)器件電阻的改變。
本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明提供幾種電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器的器件結(jié)構(gòu),包括 了PN二極管、肖特基二極管和雙極型晶體管選通的器件結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)的特點(diǎn) 在于構(gòu)造簡(jiǎn)單,因此其制造方法簡(jiǎn)便,且與半導(dǎo)體工藝完全兼容,有助于降低成 本,使采用該技術(shù)的高密度電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器更具競(jìng)爭(zhēng)力。另外,電阻轉(zhuǎn)換存儲(chǔ)器 采用的選通元器件是具有雙淺溝道結(jié)構(gòu),兩淺溝道的深度不同,起到電學(xué)隔離的 對(duì)象也不同。
附圖說明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 圖像轉(zhuǎn)換設(shè)備、圖像轉(zhuǎn)換電路及圖像轉(zhuǎn)換方法
- 數(shù)模轉(zhuǎn)換電路及轉(zhuǎn)換方法
- 轉(zhuǎn)換設(shè)備和轉(zhuǎn)換方法
- 占空比轉(zhuǎn)換電路及轉(zhuǎn)換方法
- 通信轉(zhuǎn)換方法、轉(zhuǎn)換裝置及轉(zhuǎn)換系統(tǒng)
- 模數(shù)轉(zhuǎn)換和模數(shù)轉(zhuǎn)換方法
- 轉(zhuǎn)換模塊以及轉(zhuǎn)換電路
- 熱電轉(zhuǎn)換材料、熱電轉(zhuǎn)換元件和熱電轉(zhuǎn)換模塊
- 熱電轉(zhuǎn)換材料、熱電轉(zhuǎn)換元件及熱電轉(zhuǎn)換模塊
- 熱電轉(zhuǎn)換材料、熱電轉(zhuǎn)換元件及熱電轉(zhuǎn)換模塊
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器





