[發(fā)明專利]高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910044772.4 | 申請日: | 2009-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN101894871A | 公開(公告)日: | 2010-11-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李廷凱;李晴風(fēng);鐘真;陳建國 | 申請(專利權(quán))人: | 湖南共創(chuàng)光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/042 | 分類號: | H01L31/042;H01L31/06;H01L31/18;H01L31/20 |
| 代理公司: | 長沙正奇專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 43113 | 代理人: | 馬強 |
| 地址: | 421001 湖南省*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 轉(zhuǎn)化 率硅晶 薄膜 復(fù)合型 pin 太陽能電池 及其 制造 方法 | ||
1.一種高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池,其特征是,它的結(jié)構(gòu)為以下諸種之一:
(1)底電極/n層/n型硅晶片/i層/i層/i層/i層/p層/TCO/減反射膜;
(2)底電極/n層/n型硅晶片/i層/i層/i層/p層/TCO/減反射膜;
(3)底電極/n層/n型硅晶片/i層/i層/p層/TCO/減反射膜;
(4)底電極/n層/n型硅晶片/i層/p層/TCO/減反射膜;
(5)底電極/n層/n型硅晶片/p層/TCO/減反射膜;
其中,所述p層、i層、n層均是選自μc-Si1-xGex、A-Si1-xGex、μc-SiC、ASiC、μc-Si、A--Si半導(dǎo)體材料中的一種;0≤x≤1;“/”表示兩層之間的界面;n-表示電子型(n型)半導(dǎo)體,i-表示本征半導(dǎo)體,P-表示空穴型(P型)半導(dǎo)體;A-表示非晶體,μc-表示微晶;所述硅晶片為單晶硅片或多晶硅片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池,其特征是,它的一種組成是:底電極/n-型梯度μc或epi?Si1-xGex/n型硅晶片/i-μc-Si/i-A-Si1-xGex/i-A-Si/i-μc-SiC/p-A-SiC/TCO/減反射膜;
其中,“梯度”是指鍺化硅通過改變x的值從1逐步梯度變化到0,而鍺化硅則從鍺層-梯度鍺化硅層-變化到硅層層,0≤x≤1;“epi”是外延生長單晶層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池,其特征是,所述減反射膜為多孔SiO2膜或納米纖維SiO2膜,或SiO2/TiO2復(fù)合膜;所述多孔SiO2膜選用孔隙率10-50%,孔徑50nm-1000nm的多孔SiO2膜產(chǎn)品;所述納米纖維SiO2選用纖維直徑50nm-500nm,長徑比1∶5-1∶10的納米纖維SiO2;所述SiO2/TiO2復(fù)合膜為單層復(fù)合或多層復(fù)合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池,其特征是,所述TCO為透明導(dǎo)電氧化物膜,它的技術(shù)參數(shù)選用:純度在99.9%以上,可見光透過率大于90%;電阻率小于1×10-3歐姆厘米,薄膜厚度50nm-5000nm;所述TCO為Ag或Al、Ga、摻雜的ZnOx、ITO透明導(dǎo)電氧化物薄膜材料。
5.一種如權(quán)利要求1所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池的制造方法,包括:
對n型硅晶片進行化學(xué)和機械雙面拋光,然后,
對n型硅晶片進行清洗;
用常規(guī)工藝制備TCO層、減反射膜;
采用PECVD,CVD沉積工藝,激光結(jié)晶工藝,等離子摻雜工藝和HD-PECVD過渡層工藝制備硅基薄膜,以獲得高質(zhì)量的膜層和降低各疊層之間的界面電阻;并用氫化處理工藝來保持各層材料性能的穩(wěn)定和改善透明導(dǎo)電薄膜材料和界面的透光率和導(dǎo)電性。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池的制造方法,其特征是,所述硅基薄膜之非晶硅或微晶硅薄膜采用PECVD或HD-PECVD方法,使用高純硅烷,氫氣為載氣,分解沉積而成。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池的制造方法,其特征是,所述硅基薄膜之非晶或微晶Si1-xGex薄膜采用SiH4和GeH4為反應(yīng)先驅(qū)體,,H2為載氣,,反應(yīng)分解沉積而成。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述高轉(zhuǎn)化率硅晶及薄膜復(fù)合型單結(jié)PIN太陽能電池的制造方法,其特征是,所述硅基薄膜之非晶或微晶SiC薄膜采用SiH4和CH4為反應(yīng)先驅(qū)體,H2為載氣,反應(yīng)分解沉積而成。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





