[發明專利]一種直發器溫度校準裝置與方法

有效

• 申請號: 200910041103.1
• 申請日: 2009-07-14
• 公開（公告）號: CN101658355A
• 公開（公告）日: 2010-03-03
• 發明（設計）人: 林立
• 申請（專利權）人: 深圳市奮達電器有限公司
• 主分類號: A45D6/20
• 分類號: A45D6/20;A45D1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及溫度校準電路技術，尤其涉及一種直發器溫度校準裝置與方法。

背景技術

直發器產品中用MCH作為發熱體、無需NTC傳感器，用MCH自身R/T 正溫度系數特性，采用檢測MCH電阻變化控溫的方案非常普及。就我公司此方 案年產量超過100萬把。但因MCH生產工藝原因，同一批MCH阻值有一定的 范圍。此方案的直發器電路必須加一個溫度校準電位器，補賞MCH的阻值差點 來保證產品溫度一致。傳統的溫度校準方法是直發器都插上電工作，一邊測溫 度，根據溫度高低再來相應調電位器，而且要重復幾次材能調準。這種方法生 產效率低，而且人工成本高。采用調試電路可節約人力成本，大幅度提高生產 效率。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于，提供一種直發器溫度校準裝置與方法， 能夠快速準確的計算出溫度校準電位器的電阻調整值，從而大大地提高生產效 率。

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種直發器溫度校準裝置， 其包括：

電阻值檢測模塊，用于檢測出氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電 位器的實際阻值；

運算模塊，用于根據所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器 的實際阻值，并根據氧化鋁陶瓷發熱片其自身溫度與阻值正溫度系數特性的比 值，進行邏輯運算處理，求得氧化鋁陶瓷發熱片恒溫在不同溫度時，溫度校準 電位器的阻值調整值；

顯示模塊，用于顯示所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器 的實際阻值，以及溫度校準電位器的阻值調整值。

具體地，所述電阻值檢測模塊和運算模塊均設置在單片機中。

所述顯示模塊包括寄存器和數碼顯示管，所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻 值、溫度校準電位器的實際阻值以及溫度校準電位器的阻值調整值存儲在所述 寄存器中，并通過數碼顯示管顯示出來。

本發明還提供了一種直發器溫度校準方法，其包括以下步驟：

檢測出氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值；

根據所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值，以 及氧化鋁陶瓷發熱片其自身溫度與阻值正溫度系數特性的比值，進行邏輯運算 處理，求得氧化鋁陶瓷發熱片恒溫在不同溫度時，溫度校準電位器的阻值調整 值；

顯示所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值，以 及溫度校準電位器的阻值調整值。

實施本發明實施例，具有如下有益效果：由于本發明利用檢測出的氧化鋁 陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值，自動求得氧化鋁陶瓷發 熱片恒溫在不同溫度時，溫度校準電位器的阻值調整值，使得生產效率得到了 大大地提高。

附圖說明

圖1是本發明實施例一種直發器溫度校準裝置的原理框架示意圖；

圖2是本發明實施例一種直發器溫度校準裝置的結構示意圖；

圖3是本發明實施例一種直發器溫度校準裝置進行溫度校準的流程圖；

圖4是本發明實施例一種直發器溫度校準裝置的主要電路圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本發明 作進一步地詳細描述。

參照圖1，本發明一種直發器溫度校準裝置，其包括：

電阻值檢測模塊1，用于檢測出氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電 位器的實際阻值；

運算模塊2，用于根據所述氧化鋁陶瓷發熱片(MCH)的常溫阻值和溫度 校準電位器的實際阻值，利用氧化鋁陶瓷發熱片其自身的R/T正溫度系數特性 進行邏輯運算處理，求得氧化鋁陶瓷發熱片恒溫在不同溫度時，溫度校準電位 器的阻值調整值；具體地，根據MCH自身R/T正溫度系數特性，當溫度升高時 自身的電阻值也升高，而且此電阻值與它在常溫的電阻值成一定的關系，利用 這一關系進行運算，只要測試出MCH常溫電阻值，就能運算出溫度校準電位器 的阻值；

上述的電阻值檢測模塊1和運算模塊2均可以采用單片機MCU來實現；其 詳細電路圖參考圖3。