[發明專利]一種直發器溫度校準裝置與方法有效
| 申請號： | 200910041103.1 | 申請日： | 2009-07-14 |
| 公開（公告）號： | CN101658355A | 公開（公告）日： | 2010-03-03 |
| 發明（設計）人： | 林立 | 申請（專利權）人： | 深圳市奮達電器有限公司 |
| 主分類號： | A45D6/20 | 分類號： | A45D6/20;A45D1/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518108廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 直發 溫度 校準 裝置 方法 | ||
1.一種直發器溫度校準裝置，其特征在于包括：
電阻值檢測模塊，用于檢測出氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電 位器的實際阻值；
運算模塊，用于根據所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器 的實際阻值，并根據氧化鋁陶瓷發熱片其自身溫度與阻值正溫度系數特性的比 值，進行邏輯運算處理，求得氧化鋁陶瓷發熱片恒溫在不同溫度時，溫度校準 電位器的阻值調整值；
顯示模塊，用于顯示所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器 的實際阻值，以及溫度校準電位器的阻值調整值。
2.如權利要求1所述的直發器溫度校準裝置，其特征在于，所述電阻值檢 測模塊和運算模塊均設置在單片機中。
3.如權利要求2所述的直發器溫度校準裝置，其特征在于，所述顯示模塊 包括寄存器和數碼顯示管，所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值、溫度校準電位 器的實際阻值以及溫度校準電位器的阻值調整值存儲在所述寄存器中，并通過 數碼顯示管顯示出來。
4.一種直發器溫度校準方法，其特征在于包括以下步驟：
檢測出氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值；
根據所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值，并 根據氧化鋁陶瓷發熱片其自身溫度與阻值正溫度系數特性的比值，進行邏輯運 算處理，求得氧化鋁陶瓷發熱片恒溫在不同溫度時，溫度校準電位器的阻值調 整值；
顯示所述氧化鋁陶瓷發熱片的常溫阻值和溫度校準電位器的實際阻值，以 及溫度校準電位器的阻值調整值。
5.如權利要求4所述的直發器溫度校準方法，其特征在于，所述氧化鋁陶 瓷發熱片的常溫阻值、溫度校準電位器的實際阻值以及溫度校準電位器的阻值 調整值存儲在所述寄存器中，并通過數碼顯示管顯示出來。
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