[發(fā)明專利]一種背面點接觸晶體硅太陽電池的制備工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910039166.3 | 申請日: | 2009-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN101540350A | 公開(公告)日: | 2009-09-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 沈輝;陳達(dá)明;梁宗存 | 申請(專利權(quán))人: | 中山大學(xué) |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣州知友專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 李海波 |
| 地址: | 510275廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 背面 點接觸 晶體 太陽電池 制備 工藝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于太陽電池技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種背面點接觸晶體硅太陽電池的制備工藝。
背景技術(shù)
近幾年來,晶體硅太陽電池產(chǎn)量飛速增長,導(dǎo)致了硅材料供應(yīng)緊張。為此,需要尋找制備太陽電池的新工藝,一方面降低成本,另一方面提高電池效率。隨著硅片厚度的不斷減薄,硅片背表面的復(fù)合速率對太陽電池效率的影響將越來越突出。傳統(tǒng)鋁背場工藝無法滿足薄硅片太陽電池的要求。然而,點接觸電極卻被認(rèn)為是一種可以減小金屬一半導(dǎo)體接觸區(qū)域的面積,有效地降低太陽電池表面復(fù)合速率,從而可以提高太陽電池效率的一種方式。
目前制備點接觸電極的方式有激光燒結(jié)開孔(如1aser-fired?contacts,即LFC電池)、光刻開孔(如PERC,PERL太陽電池等)、絲網(wǎng)印刷腐蝕性漿料開孔等。激光和光刻技術(shù)都比較昂貴,產(chǎn)業(yè)化成本較高。
利用絲網(wǎng)印刷技術(shù)制備背面點接觸電極被認(rèn)為是一種較容易產(chǎn)業(yè)化的方式。絲網(wǎng)印刷腐蝕性漿料開孔的研究也有報道,然而腐蝕性漿料對厚的背面鈍化層開孔效果不太好;也有直接將點狀金屬漿料(如鋁漿)印刷在背面鈍化層上,然后通過高溫?zé)Y(jié)使點狀金屬漿料燒穿鈍化層做成背面點接觸的方式,但難于形成良好的歐姆接觸,還存在難于大批量生產(chǎn)等問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種背面點接觸晶體硅太陽電池的制備工藝,該工藝制備成本低,易實現(xiàn)工業(yè)化大批量生產(chǎn)。
本發(fā)明提供的背面點接觸晶體硅太陽電池的制備工藝,在硅片背面熱氧化二氧化硅和鍍氮化硅形成復(fù)合鈍化膜,并在該復(fù)合鈍化膜上采用硅漿料絲網(wǎng)印刷具有點接觸圖案的硅漿層,然后采用化學(xué)腐蝕液腐蝕掉復(fù)合鈍化膜中未被硅漿層覆蓋的區(qū)域,所述化學(xué)腐蝕液為氫氟酸水溶液,腐蝕時間為1~15min,再在硅片背面絲網(wǎng)印刷鋁漿層,通過燒結(jié)使鋁漿層與硅漿層的接觸面形成硅鋁合金層,最后通過燒結(jié)使鋁漿層與硅片背面的硅基底形成局域歐姆接觸和局域鋁背場。
進(jìn)一步的,本發(fā)明提供的背面點接觸晶體硅太陽電池的制備工藝,包括以下步驟:
(1)在硅片的前表面上經(jīng)擴(kuò)散形成N型層;
(2)在硅片的兩面通過熱氧化形成二氧化硅層;
(3)在硅片背面再鍍上一層氮化硅,形成二氧化硅和氮化硅復(fù)合鈍化膜;
(4)在該復(fù)合鈍化膜上采用硅漿料絲網(wǎng)印刷具有點接觸圖案的硅漿層;
(5)采用化學(xué)腐蝕液腐蝕掉復(fù)合鈍化膜中未被硅漿層覆蓋的區(qū)域,同時腐蝕掉硅片前表面上的二氧化硅層,所述的化學(xué)腐蝕液為氫氟酸水溶液,腐蝕時間為1~15min;
(6)在硅片的前表面鍍上氮化硅減反射膜;
(7)在硅片背面絲網(wǎng)印刷鋁漿層,通過燒結(jié)使鋁漿層與硅漿層的接觸面形成硅鋁合金層,并通過燒結(jié)使鋁漿層與硅片背面的硅基底形成局域歐姆接觸和局域鋁背場;
(8)在硅片前表面的氮化硅減反射膜表面絲網(wǎng)印刷銀柵線電極。
本發(fā)明所述的硅片為P型單晶硅片或P型多晶硅片,硅片的電阻率為0.5~10Ω·cm,厚度為100~250μm。
在二氧化硅和氮化硅復(fù)合鈍化膜中,二氧化硅的厚度為5~30nm,氮化硅的厚度為65~200nm。
本發(fā)明絲網(wǎng)印刷用的硅漿料由純度大于99.9%的硅粉制備而成,所述硅粉的粒徑小于10μm。
本發(fā)明所述具有點接觸圖案的硅漿層的厚度為5~30μm。
本發(fā)明所述的點接觸圖案為圓形孔或規(guī)則多邊形孔的陣列,背面接觸孔面積占背面總面積的比例為0.1~30%。
本發(fā)明所述的硅鋁合金層的厚度為2~10μm。
本發(fā)明在P型硅片的前表面上經(jīng)擴(kuò)散形成N型層,先在N型層表面上鍍上二氧化硅減反射膜,然后使用化學(xué)腐蝕液腐蝕掉該二氧化硅鈍化膜,并鍍上氮化硅SiNx:H減反射膜,并在該減反射膜表面絲網(wǎng)印刷有銀柵線電極。
本發(fā)明步驟(1)中還可在硅片的兩表面上經(jīng)擴(kuò)散形成N型層,再用常規(guī)酸液或堿液去除掉背面的N型層,硅片前表面形成的N型層的方塊電阻為40~60Ω/□。
本發(fā)明的有益效果是:
(1)采用絲網(wǎng)印刷技術(shù)制備背面點接觸太陽電池,降低了制備成本,更容易實現(xiàn)工業(yè)化大批量生產(chǎn);
(2)制備硅片背面點接觸電極時,采用絲網(wǎng)印刷帶點接觸圖案的硅漿層和HF短時間腐蝕開孔,可以形成良好的背面歐姆接觸和局域鋁背場,一定程度上降低了點接觸引起的電池串聯(lián)電阻增大的問題;
(3)鋁漿層與硅漿層接觸面上可以形成鋁硅合金,進(jìn)一步增強鋁層的附著力;
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





