[發(fā)明專利]基于真空凍干技術(shù)在硅片表面絲網(wǎng)印刷精細(xì)掩膜的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910032458.4 | 申請日: | 2009-07-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101593793A | 公開(公告)日: | 2009-12-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宮昌萌;倪志春;趙建華;王艾華 | 申請(專利權(quán))人: | 中電電氣(南京)光伏有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L31/18 | 分類號(hào): | H01L31/18 |
| 代理公司: | 南京知識(shí)律師事務(wù)所 | 代理人: | 程化銘 |
| 地址: | 211100江蘇省南京*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 真空 技術(shù) 硅片 表面 絲網(wǎng) 印刷 精細(xì) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種在硅片上絲網(wǎng)印刷精細(xì)掩膜圖形的技術(shù),具體說是一種基于真空凍干技術(shù)在硅片表面絲網(wǎng)印刷精細(xì)掩膜的方法,可用于太陽能電池或集成電路的制造。
技術(shù)背景
在太陽能電池局部擴(kuò)散、埋柵電極或集成電路布線工藝中用掩膜選擇性地保護(hù)硅片基底,實(shí)現(xiàn)局部刻蝕,要求掩膜圖形的線寬約100μm以下,稱為精細(xì)掩膜(或精細(xì)掩膜圖形)。太陽能電池、集成電路制造中常使用光刻的方法制作掩膜圖形,光刻顯影后掩膜圖形出現(xiàn)在硅片上,然后用一種化學(xué)刻蝕工藝把薄膜圖形成像在硅片上,或者被送到離子注入工作區(qū)來完成硅片上圖形區(qū)中可選擇的摻雜。轉(zhuǎn)移到硅片上的掩膜圖形決定了器件的眾多特征,例如通孔、器件各層間必要的互連線以及硅摻雜區(qū)。
光刻過程的步驟為:1.前處理,清洗、脫水和硅片表面成底膜處理,目的是增強(qiáng)硅片和光刻膠之間的粘附性;2.勻膠,硅片被固定在一個(gè)真空載片臺(tái)上,它是一個(gè)表面有很多真空孔以便固定硅片的金屬或聚四氟乙烯圓盤,液體光刻膠滴在硅片上,然后硅片旋轉(zhuǎn)得到一層均勻的光刻膠涂層;3.軟烘,在90℃到100℃下烘烤,去除光刻膠中的溶劑,提高粘附性和均勻性;4.曝光,光能激活光刻膠中的光敏成分將掩膜版圖形轉(zhuǎn)移到涂膠的硅片上;5.顯影,光刻膠上的可溶解區(qū)域被化學(xué)顯影劑溶解,將可見的島或者窗口圖形留在硅片表面。6.堅(jiān)膜烘焙,烘焙要求揮發(fā)掉存留的光刻膠溶劑,穩(wěn)固光刻膠。完成以上六步就在硅片上形成了刻蝕或注入摻雜的掩膜。這種制作方法過程復(fù)雜、對(duì)工藝條件要求很高,而且設(shè)備昂貴,據(jù)S.Campbell估計(jì),光刻成本在整個(gè)IC加工成本中幾乎占到三分之一。這種昂貴的技術(shù)不適合商業(yè)化太陽能電池的生產(chǎn)應(yīng)用。
印刷電路板行業(yè)用絲網(wǎng)印刷技術(shù)在覆銅樹脂板上印刷油墨,作為電路的刻蝕掩膜,該技術(shù)對(duì)工藝和設(shè)備的要求低,是一種低成本的掩膜技術(shù),油墨印刷后被加熱固化,這個(gè)過程中油墨在基底上鋪展,使油墨的邊緣變得不清晰,線寬很難控制,它所能得到的最小線寬約為300μm,遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足太陽能電池行業(yè)的要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題,就在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷,提供一種基于真空凍干技術(shù)在硅片表面絲網(wǎng)印刷精細(xì)掩膜的方法,這種方法由兩個(gè)步驟組成:印刷、快速固化。由于涂料快速固化,限制了它在基底上的鋪展,線寬可以被很好地控制,該方法得到的掩膜最小線寬為70μm,滿足太陽能電池的要求。與光刻相比,這種方法不需要昂貴的設(shè)備,可以極大地降低制作掩膜的成本。
本發(fā)明基于真空凍干技術(shù)在硅片表面絲網(wǎng)印刷精細(xì)掩膜的方法,在硅片上用絲網(wǎng)印刷液態(tài)材料,然后將其快速固化,其特征在于用絲網(wǎng)印刷液態(tài)材料,然后在短時(shí)間內(nèi)將液態(tài)材料快速固化,限制涂料的鋪展,提高了掩膜的分辨率,減小了線寬。
本發(fā)明基于真空凍干技術(shù)在硅片表面絲網(wǎng)印刷精細(xì)掩膜的方法,其工藝步驟如下:
1、清洗硅片表面的有機(jī)物,清洗液選H2SO4和H2O2混合溶液;再用去離子水清洗硅片,然后烘干,增加硅片表面的黏附性,烘干溫度為:60℃~100℃;
所述H2SO4和H2O2混合溶液,H2SO4濃度(質(zhì)量百分比)為90%~98%,H2O2濃度(質(zhì)量百分比)為25%~32%,兩組分體積比為:H2SO4溶液∶H2O2溶液=50∶1~80∶1。
2、用絲網(wǎng)印刷的方法將液態(tài)材料印刷在硅片表面(基底表面)上,形成掩膜圖形(簡稱掩膜),掩膜的膜厚為20~70μm。
所述液態(tài)材料的的粘度為500~1000cps,成份為高分子聚合物粉體和溶劑,高分子聚合物粉體和溶劑的質(zhì)量百分比為:
高分子聚合物粉體????80%~70%
溶劑????????????????30%~20%;
所述高分子聚合物粉體可選環(huán)氧樹脂、聚胺脂丙烯酸脂、聚酯丙烯酸脂、聚醚丙烯酸脂、環(huán)氧丙烯酸脂中的一種或兩種以上的組合;高分子聚合物粉體顆粒直徑應(yīng)小于20μm至現(xiàn)有技術(shù)所能達(dá)到的最小細(xì)度;
所述溶劑可選丙酮、乙二醇、丁二醇、新戊二醇、二甘醇、三甘醇、聚乙二醇或二丙烯酸酯。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的
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