[發明專利]鐵礦石選礦產品礦物單體解離度測定方法無效
| 申請號: | 200910012727.0 | 申請日: | 2009-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN101968476A | 公開(公告)日: | 2011-02-09 |
| 發明(設計)人: | 何云林 | 申請(專利權)人: | 鞍鋼集團礦業公司 |
| 主分類號: | G01N33/00 | 分類號: | G01N33/00 |
| 代理公司: | 鞍山貝爾專利代理有限公司 21223 | 代理人: | 孔金滿 |
| 地址: | 114001 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 鐵礦石 選礦 產品 礦物 單體 解離 測定 方法 | ||
技術領域
本發明屬于礦物單體解離度測定技術領域,特別是一種鐵礦石選礦產品礦物單體解離度測定方法。
背景技術
在工藝礦物學及選礦生產、研究工作中,對礦石磨礦產品及選礦產品需要進行礦物單體解離狀態的分析,以查明礦石的解離可選性,查明選礦產品的鐵礦物單體及連生體分布狀態,為后續工作提供依據。
解離度測定步聚:
將產品篩分水析,對各粒級產品進行化驗;
在顯微鏡下對各顆粒解離狀態測定,按鐵礦物占顆粒面積比分為:單體鐵礦物、7/8、3/4、1/2、1/4、1/8、1/16、1/32和單體脈石礦物9個段。統計各粒級(以下用i代表)中的各面積段的礦物顆粒數,獲得解離度測定原始記錄,
第i粒級顆粒體積V:V=4/3π(D/2)3
其中D為該粒級的平均粒徑[(粒級上限+粒級下限)/2]
第i粒級單體鐵礦物體積Vdt:Vdt=Ndt*V
其中Ndt為解離度測定時該粒級中的單體鐵礦物顆粒數
第i粒級的中鐵礦物體積Vfe:Vfe=∑Nj*Vj*V(j=1~9,其中Vj分別對應1、7/8、3/4、1/2、1/4、1/8、1/16、1/32、0)
其中Nj為第i粒級j段鐵礦物所占體積比的顆粒數;
第i粒級鐵礦物解離度Ji=Dfe*Vdt/(Dfe*Vfe)*100%Dfe為鐵礦物比重,以磁鐵礦比重為準,
礦樣鐵礦物總解離度J=∑Ji*Ri
其中Ri為對應第i粒級的產率,
脈石解離度計算同上理,
手工填寫、繪制選礦產品解離狀態的各種圖表。
鐵礦石選礦產品中,鐵礦物包括磁鐵礦、赤鐵礦及少量的褐鐵礦,脈石礦物也包括石英、閃石類礦物、碳酸鹽礦物等。在計算過程中,鐵礦物僅以磁鐵礦為基準脈石礦物僅以石英為基準,以及用面積代替重量等均會給礦物單體解離測定帶來系統誤差。
一套選礦產品的解離計算要花費4個小時甚至更多的時間。當對多套選礦產品進行解離度測定時,則需數天的工作量,對選礦試驗研究,尤其是選礦生產,難以及時地提供相關數據。
發明內容
本發明的目的是提供一種快速有效、更準確地對大量的解離度測定數據進行處理,輸出選礦及工藝礦物學所需鐵礦物解離相關數據及圖表。節省人力、物力的同時,為選礦生產及研究工作及時提供相關基礎數據的鐵礦石選礦產品礦物單體解離度測定方法。
本發明的目的是通過下述技術方案來實現的:
本發明的鐵礦石選礦產品礦物單體解離度測定方法,包括下述檢測步聚:
(1)對選礦產品,按粒度級別進行篩分和水析,記錄各粒級重量,并對化驗各粒級全鐵品位,
(2)將各粒度級別在顯微鏡下觀測,按鐵礦物占顆粒面積比分為:單體鐵礦物、7/8、3/4、1/2、1/4、1/8、1/16、1/32和單體脈石礦物9個段。統計各粒級中的各面積段的礦物顆粒數,獲得解離度測定原始記錄,
(3)將以上各粒級重量、全鐵品位及解離度測定原始數據輸入鐵礦物選礦產品解離度計算軟件的原始數據輸入界面,
(4)在計算軟件中,
利用King模型計算出各粒級的理論解離度值
Lm(D)=1-1/um∫0Du{1-N(L/D)}{1-Fm(L)}dL
其中Lm(D):粒級為D時目的礦物解離度;
um:目的礦物平均嵌布粒徑;
Du:該粒級最大顆直徑;
N(L/D):D粒級目的礦物累積含量分布函數(1-exp(-L/D))
Fm(L)=1-exp(-L/um)
其特征在于:
在測定過程中,第i粒級實測解離度Ji與模型計算值Lmi總存在一定的偏差,需要運籌學的單純形法對各粒實測解離度J(D)進行修正。
數學模型如下:目標函數Min?Z=∑(Ci(Xi1+Xi2))
X11-X12=Lm1-J1……(1)
X21-X22=Lm2-J2……(2)
………………….
Xi1-Xi2=Lmi-Ji
J1+X11-X12-(J2+X21-X22)<0
…………………..
Ji+Xi1-Xi2-(Ji+1+Xi+11-Xi+12)<0
Xi1>=0
Xi2>=0
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