[發明專利]鐵礦石選礦產品礦物單體解離度測定方法

無效

• 申請號: 200910012727.0
• 申請日: 2009-07-28
• 公開（公告）號: CN101968476A
• 公開（公告）日: 2011-02-09
• 發明（設計）人: 何云林
• 申請（專利權）人: 鞍鋼集團礦業公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 鞍山貝爾專利代理有限公司 21223
• 代理人: 孔金滿

1.一種鐵礦石選礦產品礦物單體解離度測定方法，包括下述檢測步聚：

(1)對選礦產品，按粒度級別進行篩分和水析，記錄各粒級重量，并對化驗各粒級全鐵品位，

(2)將各粒度級別在顯微鏡下觀測，按鐵礦物占顆粒面積比分為：單體鐵礦物、7/8、3/4、1/2、1/4、1/8、1/16、1/32和單體脈石礦物9個段。統計各粒級中的各面積段的礦物顆粒數，獲得解離度測定原始記錄，

(3)將以上各粒級重量、全鐵品位及解離度測定原始數據輸入鐵礦物選礦產品解離度計算軟件的原始數據輸入界面，

(4)在計算軟件中，

利用King模型計算出各粒級的理論解離度值

Lm(D)＝1-1/um∫₀^Du{1-N(L/D)}{1-Fm(L)}dL

其中Lm(D)：粒級為D時目的礦物解離度；

um：目的礦物平均嵌布粒徑；

Du：該粒級最大顆直徑；

N(L/D)：D粒級目的礦物累積含量分布函數(1-exp(-L/D))

Fm(L)＝1-exp(-L/um)，

其特征在于：

在測定過程中，第i粒級實測解離度Ji與模型計算值Lmi總存在一定的偏差，需要運籌學的單純形法對各粒實測解離度J(D)進行修正。數學模型如下：目標函數Min?Z＝∑(Ci(Xi1+Xi2))

X11-X12＝Lm1-J1……(1)

X21-X22＝Lm2-J2……(2)

………………….

Xi1-Xi2＝Lmi-Ji

J1+X11-X12-(J2+X21-X22)＜0

…………………..

Ji+Xi1-Xi2-(J_i+1+X_i+11-X_i+12)＜0

Xi1＞＝0

Xi2＞＝0

其中Xi1為i粒級解離度增加值，Xi2為i粒級解離度減少值，目標函數中的Ci可以取i粒級解離度測定顆粒數。

粒級i實測解離度J＝Ji+Xi1-Xi2

礦樣總解離度Lm＝∑Lmi*Ri?Ri為該粒級產率，

依據以上計算出的數據用圖表的形式顯示出來，將選礦產品解離度相關數據與MS-WORD對接，實現解離度數據計算及報送的數字化。