[發(fā)明專利]在襯底上施加金屬、金屬氧化物和/或半導(dǎo)體材料圖案的方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200910007907.X | 申請(qǐng)日: | 2009-02-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101521160A | 公開(公告)日: | 2009-09-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | B·呂澤姆;Z·卡里皮多;J·維澤爾斯;安田章夫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 索尼株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/3213 | 分類號(hào): | H01L21/3213;H01L21/78;H01L21/50;H01L23/48 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 林毅斌;韋欣華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 襯底 施加 金屬 氧化物 半導(dǎo)體材料 圖案 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及在襯底上施加金屬、金屬氧化物和/或半導(dǎo)體材料圖 案的方法、這種方法產(chǎn)生的圖案和這種圖案的用途。此外,本發(fā)明 還涉及可用于印刷的多層組合體。
背景技術(shù)
在過去十年中,軟光刻(soft?lithography)技術(shù)已發(fā)展成制備微結(jié)構(gòu) 和納米結(jié)構(gòu)表面的通用技術(shù)[1;2]。已知的幾種軟光刻技術(shù)中,微接觸 印刷(μCP)已成為最常用方法[1]。這種技術(shù)最初開發(fā)來轉(zhuǎn)移分子,后 來以納米轉(zhuǎn)移印刷(nTP)[4-6]和軟接觸層壓(ScL)[7]形式用于轉(zhuǎn)移金屬 [3]。
將納米轉(zhuǎn)移印刷和軟接觸層壓都示意描繪于圖1。在nTP(圖1a) 的情況下,將薄金屬層蒸發(fā)到圖案化彈性印章上。所述印章通過將 聚二甲基硅氧烷(PDMS)滴鑄到圖案化Si晶片而制備。使蒸發(fā)的金屬 層與襯底上的有機(jī)層保形接觸(conformal?contact)。由于在金屬/有機(jī) 物界面形成化學(xué)鍵,金屬層從PDMS印章上轉(zhuǎn)移到有機(jī)層上。這個(gè) 過程在環(huán)境條件下發(fā)生而不施加任何附加壓力。采用這種方法印刷 Au/烷基雙硫醇/GaAs異質(zhì)結(jié)[5]和Au/巰基硅烷/Si異質(zhì)結(jié)[8]中的Au上 電極。在稍微改進(jìn)的方法中,使金在硅晶片上形成圖案并隨后在高 壓(100-400psi)和100-140℃[9]下轉(zhuǎn)移到選定的聚合物上。
在ScL的情況下,金屬-有機(jī)物粘附以范德華作用為基礎(chǔ),比金 屬-PDMS相互作用弱。因此,在這種方法中,金屬不會(huì)從PDMS轉(zhuǎn) 移到有機(jī)層上,但PDMS保留在Au層上并作為PDMS/金屬/有機(jī)物/ 襯底結(jié)的一部分(圖1b)。這個(gè)過程在環(huán)境條件下發(fā)生而不施加任何附 加壓力[10]。
除了nTP和ScL外,最近開發(fā)了一種稱為聚合物輔助剝離 (PALO)的印刷技術(shù)[11](參見圖2)。作為其前身的剝離/浮裝技術(shù)[12], 使金屬上電極沉積在固體襯底上并形成圖案。然后用薄PMMA(聚甲 基丙烯酸甲酯)層覆蓋該電極并通過將它們短暫浸入KOH和乙酸中 使之與襯底脫離。最后可將所得底層具有電極結(jié)構(gòu)的PMMA箔放在 最終襯底(即分子層)上。然而,這種電極結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)移必須在水浴中進(jìn) 行,這無法實(shí)現(xiàn)在襯底和上電極之間的精確對(duì)準(zhǔn)。
除了這些印刷技術(shù)外,本發(fā)明的一些發(fā)明人開發(fā)了一種易控制的 方法,所述方法可細(xì)微到<50nm的臨界尺寸[13](歐洲專利申請(qǐng)06006 899.6,2006年3月31日提交)。在固體襯底上確定圖案化的金屬結(jié) 構(gòu)并轉(zhuǎn)移到聚合物墊上(圖3a)。隨后可將這些金屬圖案從聚合物墊轉(zhuǎn) 移到其它表面如SiO2上(圖3b)。
就分子電子而言,PALO技術(shù)具有非常柔軟和易控制的優(yōu)點(diǎn),從 而在上電極沉積過程中不會(huì)破壞分子層。然而,PALO無法實(shí)現(xiàn)待印 刷圖案和襯底及其上的任何結(jié)構(gòu)的精確對(duì)準(zhǔn)。例如,如果待印刷圖 案為一組上電極,這些將印刷到其上面已有下電極的襯底上,一些 上述技術(shù)將被證實(shí)難以獲得精確對(duì)準(zhǔn)。此外,聚合物輔助剝離(PALO) 已被證實(shí)非常難以重現(xiàn),原因是聚甲基丙烯酸甲酯箔的箔和/或圖案 容易破壞。此外,PALO技術(shù)依賴于將襯底短暫浸入KOH和乙酸 中,這可能導(dǎo)致在待印刷圖案上發(fā)生不符合需要的副反應(yīng)。例如, 如果待印刷圖案為金屬圖案,KOH和乙酸的存在可能導(dǎo)致在金屬上 發(fā)生氧化反應(yīng),從而污染電極。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的一個(gè)目標(biāo)是提供在襯底上施加金屬、金屬氧化物 和/或半導(dǎo)體材料圖案的改進(jìn)方法,所述方法容易進(jìn)行且如果需要, 可實(shí)現(xiàn)待印刷圖案的對(duì)準(zhǔn)。此外,本發(fā)明的一個(gè)目標(biāo)是提供在襯底 上施加圖案的改進(jìn)方法,其中避免了腐蝕劑如KOH或乙酸等的存 在。此外,本發(fā)明的一個(gè)目標(biāo)是提供在襯底上施加圖案的方法,所 述方法在轉(zhuǎn)移步驟中圖案被破壞的風(fēng)險(xiǎn)較低且所述方法容易進(jìn)行。
所有這些目標(biāo)通過在襯底上施加金屬、金屬氧化物和/或半導(dǎo)體 材料圖案的方法解決,所述方法包括以下步驟:
a)提供具有表面的第一襯底,
b)用水溶性材料層將所述表面涂布,
c)在所述水溶性材料層上產(chǎn)生金屬、金屬氧化物和/或半導(dǎo)體材 料圖案,
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





