[發明專利]閃速存儲器裝置有效
| 申請號: | 200910007531.2 | 申請日: | 2009-02-11 |
| 公開(公告)號: | CN101510440A | 公開(公告)日: | 2009-08-19 |
| 發明(設計)人: | 金泓秀;申花炅;金珉澈 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G11C16/02 | 分類號: | G11C16/02;G11C16/08;H01L27/115 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 穆德駿;陸錦華 |
| 地址: | 韓國京畿道水*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲器 裝置 | ||
相關申請的交叉引用
該美國非臨時專利申請根據35U.S.C.§119要求于2008年2月11日 提交的第10-2008-0012298號韓國專利申請的優先權,該申請的全部內 容通過引用合并于此。
技術領域
這里公開的本發明涉及一種閃速存儲器裝置。
背景技術
可根據單元和位線之間的連接狀態將閃速存儲器裝置劃分成NOR 類型和NAND類型。通常,NOR閃速存儲器可能不太適合于高集成水平, 但可適合于一些高速應用。NAND閃速存儲器可消耗比NOR閃速存儲器 少的單元電流,因此,可在期望高集成水平的情況下更有優勢。
NAND閃速存儲器能夠執行基本功能,例如讀取、寫入(或編程), 或擦除操作。可通過使用Fowler-Nordheim隧穿(tunneling)電流對NAND 閃速存儲器中的單元進行擦除和編程。
發明內容
本發明的實施例可提供閃速存儲器裝置,所述閃速存儲器裝置可 包括存儲單元陣列,所述存儲單元陣列可包括多個存儲塊,其中,所 述存儲塊的每個具有設置在字線和位線的交叉處的存儲單元,所述多 個存儲塊中的存儲塊彼此緊鄰,并且限定存儲塊對。閃速存儲器裝置 還可包括行選擇電路,所述行選擇電路被配置為響應于與存儲地址相 關聯的存儲操作來驅動字線,其中,所述行選擇電路可包括位于每對 存儲塊中所包括的存儲塊之間的相應屏蔽線,并且每個存儲塊對在其 間具有公共源線。
在一些實施例中,行選擇電路包括:解碼器,其通過對應的電壓 來驅動字線;以及,開關單元,連接到對應的存儲塊,所述開關單元 進行切換以將電壓施加到對應的字線,其中,每個屏蔽線被布置在對 應于存儲塊對的開關單元之間。
在其他實施例中,屏蔽線連接到接地電壓。
在其他實施例中,存儲塊對的字線分別延伸到對應的開關單元; 并且,延伸到開關單元的存儲塊的字線被布置成分別對應成對地相互 面對,其中,屏蔽線位于其間。
在其他實施例中,解碼器通過對應的電壓來驅動被選擇的存儲塊 的字線。
在其他實施例中,屏蔽線在與開關單元對應的解碼器之間延伸, 開關單元對應于存儲塊對。
在其他實施例中,未被選擇的存儲塊的每個字線處于浮動狀態。
在其他實施例中,屏蔽線由導電材料形成。
在其他實施例中,屏蔽線由與字線相同的材料形成。
在其他實施例中,屏蔽線由與存儲單元的柵極相同的材料形成。
在其他實施例中,屏蔽線被布置在具有開關單元的半導體襯底上 的裝置隔離層上;存儲塊對的字線延伸到各個對應的開關單元的裝置 隔離層;延伸的存儲塊對的字線分別對應成對地相互面對,其中屏蔽 線位于其間。
在其他實施例中,在制造過程期間,屏蔽線與字線被布置在同一 層上。
在其他實施例中,在制造過程期間,屏蔽線和字線同時形成。
在其他實施例中,在制造過程期間,屏蔽線與公共源線形成在同 一層上。
在其他實施例中,在制造過程期間,屏蔽線與公共源線同時形成。
在本發明的其他實施例中,存儲系統包括:閃速存儲器裝置;和 用于控制閃速存儲器裝置的存儲控制器。
在本發明的其他實施例中,計算系統包括:微處理器;閃速存儲 器裝置;和響應于微處理器的請求來控制閃速存儲器裝置的存儲控制 器。
附圖說明
本說明書包括了附圖以提供對本發明的進一步理解,附圖被合并 到說明書中,并構成說明書的一部分。附圖示出了本發明的示例性實 施例,與描述一起用于解釋本發明的原理。在附圖中:
圖1是根據本發明的實施例的閃速存儲器裝置的框圖;
圖2是示出圖1的存儲單元陣列和行選擇電路的平面圖;
圖3是示出圖2的存儲單元陣列的平面視圖;
圖4是沿圖3中的線A-A’獲得的橫截面視圖;
圖5是示出圖2的區域C的平面視圖;
圖6是沿圖5的線B-B’獲得的橫截面視圖;以及
圖7是示出根據本發明的具有閃速存儲器裝置的計算系統的視圖。
具體實施方式
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