[發明專利]用于通過連接觸點串行發送數據的電路裝置、設備和方法

有效

• 申請號: 200910007381.5
• 申請日: 2009-02-17
• 公開（公告）號: CN101545949A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發明（設計）人: T·魯本;喬奇姆·里特;G·烏姆巴赫;迪耶特·巴埃徹爾;W·霍恩;J·弗蘭克
• 申請（專利權）人: 邁克納斯公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 趙 科

技術領域

本發明涉及用于通過連接觸點(Anschlusskontakt)串行發送數 據的電路裝置、設備、以及方法。

背景技術

DE19819265C1描述了一種用于對集成電路裝置進行參數化的 方法以及用于此的集成電路裝置。其中基于一種具有基本上固定布線 或固定連接的部件的集成電路裝置。通過參數化，可以為電路裝置的 運行預先給定參數。信號電壓端子用于輸入參數，其中在該信號電壓 端子上施加信號電壓。實際的參數被調制在(aufmodulieren)信號電 壓上，其中y與信號電壓端子串接(nachschalten)的比較器檢查所 施加的信號電壓以確定其是否上升超過一閾值。

此外，具有大量以所謂管腳的形式存在的連接觸點的外殼 (Gehaeuse)一般是公知的，其中該外殼用于容納集成電路部件等。 其中已知將可自由編程的數字處理器以及運行處理器所需要的其他 部件一起容納在該外殼中。通常，其中外殼的兩個連接觸點用于施加 供電電壓和基準電壓(Basisspannung)，另外兩個連接觸點用于布設 地線端子(Erdanschluss)或施加零電壓以及施加工作電壓，還有多 個其它連接觸點用于輸入和輸出數據。

為了測試或檢驗目的，這樣的電路裝置并且還有其它集成電路裝 置或者使用僅從相應外殼引出的信號連接觸點來并行或串行測試，或 者如果只存在少量連接觸點，則使用根據DE19819265C1的對供電電 壓的簡單的電平調整(eingegelig)的調制和/或對電流消耗 (Stromaufnahme)的簡單調制。

為了能夠快速地單向地串行和同步地測試集成電路裝置， DE102006022985A1描述了一種電路裝置，具有用于操縱(Ansteuern) 測試工作方式(Testbetriebsart)的串行測試接口，具有可自由編程 的數字處理器，具有用于容納測試接口和處理器的外殼，并且具有用 于與外部部件和設備交換數據和/或信號的連接觸點，其中在其中一個 連接觸點上可以施加經過調制的信號電壓，以便通過使用至少兩個可 控的電壓電平來傳輸數據和/或時鐘(Takt)。借助于至少兩個比較器 已經可以檢測對于兩個電壓電平的超過和/或低于。

在具有非常少的觸針(Kontaktstift)或PIN的集成電路裝置中， 每個額外PIN比較昂貴。因此，重要的是在電路裝置中為測試該電路 裝置的目的使得能夠通過盡可能少量的觸針來實現完全同步的 (vollsynchron)、雙向的通信。

相對于以前的現有技術，DE102006022985A1通過經由電壓供應 來將時鐘、并且還將數據從上級裝置傳輸到電路裝置而克服了一些缺 點。對于測試工作方式，可以不需要集成電路裝置中獨立的時鐘源， 只要對該電路裝置被測試。其中，還已經可以實現被相同頻率地 (gleich-frequent)傳輸到集成電路裝置中的時鐘。但是，這僅僅是 數據的單向傳輸，并且因此這是只經過單向電壓調制的接口。為了在 實際工作時從集成電路裝置向上級裝置傳輸數據或在必要時還傳輸 傳感器數據，需要供電電壓端子處費事的電流調制，或者需要使用附 加的觸針或PIN。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，為了通過連接觸點串行發送數 據，提出了一種改進的電路裝置、用于與該電路裝置通信的設備以及 為此改進的方法，它們即使在集成電路裝置具有數量減小的連接觸 點、尤其是只具有兩個連接觸點的情況下也能使用，而不損失可能的 功能或容量(Kapazitaeten)。尤其應該改進在根據DE102006022985A1 的電路裝置中的測試工作方式，使得兩個電壓觸針在結構成本很小的 同時，除了提供電壓之外還可以實現雙向的數據傳輸。

為了經由連接觸點串行發送數據，該技術問題通過具有下述特征 的電路裝置、設備以及方法解決。