[發(fā)明專利]用于通過連接觸點串行發(fā)送數(shù)據(jù)的電路裝置、設(shè)備和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200910007381.5
• 申請日: 2009-02-17
• 公開（公告）號: CN101545949A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: T·魯本;喬奇姆·里特;G·烏姆巴赫;迪耶特·巴埃徹爾;W·霍恩;J·弗蘭克
• 申請（專利權(quán)）人: 邁克納斯公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所
• 代理人: 趙 科

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及用于通過連接觸點(Anschlusskontakt)串行發(fā)送數(shù) 據(jù)的電路裝置、設(shè)備、以及方法。

背景技術(shù)

DE19819265C1描述了一種用于對集成電路裝置進(jìn)行參數(shù)化的 方法以及用于此的集成電路裝置。其中基于一種具有基本上固定布線 或固定連接的部件的集成電路裝置。通過參數(shù)化，可以為電路裝置的 運行預(yù)先給定參數(shù)。信號電壓端子用于輸入?yún)?shù)，其中在該信號電壓 端子上施加信號電壓。實際的參數(shù)被調(diào)制在(aufmodulieren)信號電 壓上，其中y與信號電壓端子串接(nachschalten)的比較器檢查所 施加的信號電壓以確定其是否上升超過一閾值。

此外，具有大量以所謂管腳的形式存在的連接觸點的外殼 (Gehaeuse)一般是公知的，其中該外殼用于容納集成電路部件等。 其中已知將可自由編程的數(shù)字處理器以及運行處理器所需要的其他 部件一起容納在該外殼中。通常，其中外殼的兩個連接觸點用于施加 供電電壓和基準(zhǔn)電壓(Basisspannung)，另外兩個連接觸點用于布設(shè) 地線端子(Erdanschluss)或施加零電壓以及施加工作電壓，還有多 個其它連接觸點用于輸入和輸出數(shù)據(jù)。

為了測試或檢驗?zāi)康模@樣的電路裝置并且還有其它集成電路裝 置或者使用僅從相應(yīng)外殼引出的信號連接觸點來并行或串行測試，或 者如果只存在少量連接觸點，則使用根據(jù)DE19819265C1的對供電電 壓的簡單的電平調(diào)整(eingegelig)的調(diào)制和/或?qū)﹄娏飨? (Stromaufnahme)的簡單調(diào)制。

為了能夠快速地單向地串行和同步地測試集成電路裝置， DE102006022985A1描述了一種電路裝置，具有用于操縱(Ansteuern) 測試工作方式(Testbetriebsart)的串行測試接口，具有可自由編程 的數(shù)字處理器，具有用于容納測試接口和處理器的外殼，并且具有用 于與外部部件和設(shè)備交換數(shù)據(jù)和/或信號的連接觸點，其中在其中一個 連接觸點上可以施加經(jīng)過調(diào)制的信號電壓，以便通過使用至少兩個可 控的電壓電平來傳輸數(shù)據(jù)和/或時鐘(Takt)。借助于至少兩個比較器 已經(jīng)可以檢測對于兩個電壓電平的超過和/或低于。

在具有非常少的觸針(Kontaktstift)或PIN的集成電路裝置中， 每個額外PIN比較昂貴。因此，重要的是在電路裝置中為測試該電路 裝置的目的使得能夠通過盡可能少量的觸針來實現(xiàn)完全同步的 (vollsynchron)、雙向的通信。

相對于以前的現(xiàn)有技術(shù)，DE102006022985A1通過經(jīng)由電壓供應(yīng) 來將時鐘、并且還將數(shù)據(jù)從上級裝置傳輸?shù)诫娐费b置而克服了一些缺 點。對于測試工作方式，可以不需要集成電路裝置中獨立的時鐘源， 只要對該電路裝置被測試。其中，還已經(jīng)可以實現(xiàn)被相同頻率地 (gleich-frequent)傳輸?shù)郊呻娐费b置中的時鐘。但是，這僅僅是 數(shù)據(jù)的單向傳輸，并且因此這是只經(jīng)過單向電壓調(diào)制的接口。為了在 實際工作時從集成電路裝置向上級裝置傳輸數(shù)據(jù)或在必要時還傳輸 傳感器數(shù)據(jù)，需要供電電壓端子處費事的電流調(diào)制，或者需要使用附 加的觸針或PIN。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，為了通過連接觸點串行發(fā)送數(shù) 據(jù)，提出了一種改進(jìn)的電路裝置、用于與該電路裝置通信的設(shè)備以及 為此改進(jìn)的方法，它們即使在集成電路裝置具有數(shù)量減小的連接觸 點、尤其是只具有兩個連接觸點的情況下也能使用，而不損失可能的 功能或容量(Kapazitaeten)。尤其應(yīng)該改進(jìn)在根據(jù)DE102006022985A1 的電路裝置中的測試工作方式，使得兩個電壓觸針在結(jié)構(gòu)成本很小的 同時，除了提供電壓之外還可以實現(xiàn)雙向的數(shù)據(jù)傳輸。

為了經(jīng)由連接觸點串行發(fā)送數(shù)據(jù)，該技術(shù)問題通過具有下述特征 的電路裝置、設(shè)備以及方法解決。