[發明專利]堆棧式多封裝構造裝置、半導體封裝構造及其制造方法無效
| 申請號: | 200910006762.1 | 申請日: | 2009-02-17 |
| 公開(公告)號: | CN101807559A | 公開(公告)日: | 2010-08-18 |
| 發明(設計)人: | 朱吉植;翁承誼;廖振凱 | 申請(專利權)人: | 日月光半導體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/31 | 分類號: | H01L23/31;H01L21/56 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 陸勍 |
| 地址: | 中國臺灣高雄市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 堆棧 封裝 構造 裝置 半導體 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導體封裝構造,包含:
一基板,具有一上表面及一下表面,該下表面相對于該上表面;
一芯片,固定且電性連接于該基板的上表面;
一中介基板,固定于該芯片上,并電性連接于該基板的上表面,其中該中介基板具有一上表面及一下表面,該下表面相對于該上表面并面向該芯片,該中介基板包含數個電性接點,其位于該中介基板的上表面;以及
一封膠化合物,包覆該基板、中介基板及芯片,并裸露出該基板的下表面,其中該封膠化合物包含數個開口,每一開口包圍且裸露出每一電性接點。
2.依權利要求1所述的半導體封裝構造,其中該開口的深度至少為該電性接點的二分之一高度。
3.依權利要求1所述的半導體封裝構造,其中該開口的深度不小于該電性接點的高度。
4.依權利要求1所述的半導體封裝構造,其中該電性接點包含一接墊及一預焊劑,該預焊劑配置于該接墊上。
5.依權利要求1所述的半導體封裝構造,其中該電性接點包含一接墊及一焊球,該焊球配置于該接墊上。
6.依權利要求1所述的半導體封裝構造,其中該開口的口徑小于或等于兩相鄰的該電性接點的間距。
7.依權利要求1所述的半導體封裝構造,另包含:
另一半導體封裝結構,配置于該封膠化合物上,并電性連接于該些電性接點。
8.依權利要求1所述的半導體封裝構造,另包含:
另一芯片,固定且電性連接于該基板的下表面。
9.一種半導體封裝構造制造方法,包含下列步驟:
提供一基板,其具有一上表面及一下表面,該下表面相對于該上表面;
將一芯片固定且電性連接于該基板的上表面;
將一中介基板固定于該芯片上,并電性連接于該基板的上表面,其中該中介基板具有一上表面及一下表面,該下表面相對于該上表面并面向該芯片,該中介基板包含數個電性接點,其位于該中介基板的上表面;
將一封膠化合物包覆該基板、中介基板及芯片,裸露出該基板的下表面;以及
將該封膠化合物形成有數個開口,其中每一開口包圍且裸露出每一電性接點。
10.依權利要求9所述的半導體封裝構造制造方法,其中經由一激光鉆孔工藝將該封膠化合物形成有數個開口。
11.依權利要求9所述的半導體封裝構造制造方法,其中該開口的深度至少為該電性接點的二分之一高度。
12.依權利要求9所述的半導體封裝構造制造方法,其中該開口的深度不小于該電性接點的高度。
13.依權利要求1所述的半導體封裝構造,其中該開口的口徑小于或等于兩相鄰的該電性接點的間距。
14.依權利要求9所述的半導體封裝構造制造方法,其中該電性接點包含一接墊及一預焊劑,該預焊劑配置于該接墊上。
15.依權利要求9所述的半導體封裝構造制造方法,其中該電性接點包含一接墊及一焊球,該焊球配置于該接墊上。
16.依權利要求9所述的半導體封裝構造制造方法,另包含:
配置另一半導體封裝結構于該封膠化合物上,并電性連接于該些電性接點。
17.一種半導體封裝構造,包含:
一基板,具有一上表面及一下表面,并包含數個電性接點,其中該下表面相對于該上表面,且該些電性接點位于該上表面;
一芯片,固定且電性連接于該基板的上表面;以及
一封膠化合物,包覆該基板及芯片,并裸露出該基板的下表面,其中該封膠化合物包含數個開口,每一開口包圍且裸露出每一電性接點。
18.依權利要求17所述的半導體封裝構造,其中該開口的深度至少為該電性接點的二分之一高度。
19.依權利要求17所述的半導體封裝構造,其中該開口的深度不小于該電性接點的高度。
20.依權利要求17所述的半導體封裝構造,其中該電性接點包含一接墊及一預焊劑,該預焊劑配置于該接墊上。
21.依權利要求17所述的半導體封裝構造,其中該電性接點包含一接墊及一焊球,該焊球配置于該接墊上。
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