[發明專利]測試電路及其增加芯片電路掃描覆蓋率的方法

有效

• 申請號: 200910005984.1
• 申請日: 2009-01-22
• 公開（公告）號: CN101788645A
• 公開（公告）日: 2010-07-28
• 發明（設計）人: 張志唅
• 申請（專利權）人: 揚智科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 任默聞

1.一種增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于，該方法包括：

辨別該受測試電路的一覆蓋率是否低于一界限值；

當該覆蓋率低于一界限值時，分析所述的受測試電路以決定至少一個該 受測試電路的插入點；

以一測試電路插入所述的受測試電路的所述的插入點，其中該受測試電 路因該測試電路插入而使該受測試電路包含位于該插入點之前的一第一電路 以及位于該插入點之后的一第二電路；以及

輸入一自動測試向量至所述的測試電路及所述的受測試電路，以進行對 該受測試電路進行掃描。

2.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 該方法還包含一步驟于辨別所述的受測試電路的一覆蓋率是否低于一界限值 步驟之前：

分析所述的受測試電路以產生一覆蓋率報告，而得到該受測試電路的一 覆蓋率。

3.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 當該覆蓋率低于一界限值時，分析所述的受測試電路以決定至少一個該受測 試電路的插入點的步驟還包含：

分析所述的受測試電路以得到一覆蓋點分布狀態；以及

依據所述的覆蓋點分布狀態以決定至少一個所述的受測試電路的插入 點。

4.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 所述的測試電路的插入是以修改該受測試電路的寄存器傳輸級描述的方式進 行。

5.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 所述的測試電路的插入是以修改該受測試電路的網表文件的方式進行。

6.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 所述的測試電路包括：

一第一寄存器，一第二寄存器以及一多路選擇器。

7.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 所述的測試電路是用以提升該受測試電路于掃描過程的覆蓋率。

8.如權利要求1所述的增加受測試電路的覆蓋率的方法，其特征在于， 所述的覆蓋率是掃描過程的覆蓋點的數目與所述的受測試電路的所有節點數 目的比率。

9.一種測試電路，可應用至一芯片受測試電路中任一節點，其特征在于， 該測試電路插入于該受測試電路中，將該受測試電路分為一第一電路與一第 二電路，該測試電路包括：

一第一寄存器，輸出一第一儲存值為一第一信號，當一掃描激活信號激 活時寄存所述的受測試電路所接收的一自動測試向量為所述的第一儲存值， 而當該掃描激活信號未激活時寄存一第一數值為所述的第一儲存值；

一第二寄存器，輸出一第二儲存值為一第三信號，當所述的掃描激活信 號激活時寄存所述的第一信號為所述的第二儲存值，而當該掃描激活信號未 激活時寄存所述的第一電路輸出的一第二信號為所述的第二儲存值；以及

一多路選擇器，輸出一第四信號至所述的第二電路的輸入端，依據所述 的第一信號選取所述的第二信號與所述的第三信號其中的一作為該第四信 號。

10.如權利要求9所述的測試電路，其特征在于，所述的多路選擇器依據 第一信號會選取所述的第二信號作為所述的第四信號，在一正常工作模式下。

11.如權利要求9所述的測試電路，其特征在于，所述的測試電路還包括 一輸入寄存器，當所述的掃描激活信號激活時寄存并輸出所述的自動測試向 量至所述的第一電路的輸入端及所述的第一寄存器的輸入端，當所述的掃描 激活信號未激活時寄存并輸出一數據信號至所述的第一電路的輸入端及所述 的第一寄存器的輸入端。

12.如權利要求9所述的測試電路，其特征在于，所述的測試電路還包括 一輸出寄存器，當所述的掃描激活信號激活時寄存并輸出所述的第三信號， 當所述的掃描激活信號未激活時寄存并輸出所述的第二電路的輸出信號。

13.如權利要求9所述的測試電路，其特征在于，所述的測試電路還包括 多個寄存器，可任意耦接于所述的第一寄存器或所述的第二寄存器，以增加 所述的受測試電路的覆蓋率。