[發明專利]快閃儲存裝置及其測試方法與測試系統

有效

• 申請號: 200910002939.0
• 申請日: 2009-01-05
• 公開（公告）號: CN101770814A
• 公開（公告）日: 2010-07-07
• 發明（設計）人: 陳本慧;葉志剛
• 申請（專利權）人: 群聯電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳亮

技術領域

本發明是有關于一種測試方法，且特別是有關于一種快閃儲存裝置的測試 方法。

背景技術

數碼相機、手機相機與MP3在這幾年來的成長十分迅速，使得消費者對 儲存媒體的需求也急速增加，由于閃存(Flash?Memory)具有資料非易失性、 省電、體積小與無機械結構等的特性，適合可攜式應用，最適合使用于這類可 攜式由電池供電的產品上。除了可攜式產品內建存儲器需要之外，對于小型存 儲卡與隨身碟等外接式產品來說，每個人可能同時擁有多個隨身碟與小型存儲 卡，所以市場規模較那些設備更大。因此，近年閃存產業成為電子產業中相當 熱門的一環。

一般而言，在閃存出廠前，會經過一連串的測試以確保閃存的穩定性及相 容性。然而，傳統作法大都是在閃存封裝之后再進行測試，如此一來將無法預 先確認其內部電路的封裝是否存在打線錯誤或是元件損壞等問題。

據此，倘若周邊針腳發生錯誤，則將會在最后的測試步驟才被發現，導致 測試時間與人力的浪費。此外，當發生錯誤的電路數量過多時，測試人員亦無 法迅速地將出錯的電路進行分類，以找出封測的問題點所在。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種測試系統，透過測試裝置傳送不同的致能信號 來分析快閃儲存裝置中各周邊針腳的輸出狀態。

此外，本發明提供一種快閃儲存裝置，在快閃儲存裝置中預存一組機器指 令來進行快閃儲存裝置的測試。

再者，本發明提供一種測試方法，依據不同的致能信號來控制快閃儲存裝 置各周邊針腳的輸出。

詳細地說，本發明提出一種快閃儲存裝置，其包括多個周邊針腳、至少一 測試針腳、控制器、閃存模組以及指令儲存模組。其中，控制器具有一個測試 接點、多個第一控制接點以及多個第二控制接點以借由測試接點電性連接至測 試針腳，且這些第一控制接點與周邊針腳具有連接關系。而閃存模組具有多個 模組接點，且這些模組接點與第二控制接點具有連接關系。指令儲存模組電性 連接至控制器，且其中儲存有多個可由控制器來執行的機器指令，借以完成多 個測試步驟。

本發明另提出一種測試系統，其包括快閃儲存裝置與測試裝置。而快閃儲 存裝置中包括多個周邊針腳、至少一測試針腳、控制器、閃存模組以及指令儲 存模組。其中，控制器具有一個測試接點、多個第一控制接點以及多個第二控 制接點以借由測試接點電性連接至測試針腳，且這些第一控制接點與周邊針腳 具有連接關系。而閃存模組具有多個模組接點，且這些模組接點與第二控制接 點具有連接關系。指令儲存模組電性連接至控制器，且其中儲存有多個可由控 制器來執行的機器指令，借以完成多個測試步驟。另外，上述測試裝置分別電 性連接至上述周邊針腳與測試針腳，以透過測試針腳來傳送致能信號至測試接 點，并由周邊針腳接收對應的信號，借以進行驗證。

在本發明的一實施例中，測試系統更包括信號轉換器。信號轉換器具有多 個輸入端與至少一個輸出端，其利用上述輸入端電性連接至快閃儲存裝置的周 邊針腳，而利用上述輸出端電性連接至測試裝置。

在本發明的一實施例中，上述指令儲存模組例如為閃存模組中的開機只讀 存儲器。

本發明更提出一種快閃儲存裝置的測試方法，適用于上述快閃儲存裝置。 在快閃儲存裝置的控制器中，透過測試接點接收到由測試針腳所傳送的第一致 能信號。之后，依據第一致能信號，控制各個第一控制接點分別輸出測試信號 至所對應的周邊針腳，以借由周邊針腳所接收的信號狀況驗證各個第一控制接 點與其所對應的周邊針腳之間的連接關系是否正確。當第一控制接點與周邊針 腳之間的連接關系無誤時，在控制器中，透過測試接點接收到由測試針腳所傳 送的第二致能信號。接著，依據第二致能信號，透過各個第二控制接點接收閃 存模組的輸出。之后，再透過至少其中一個第一控制接點將閃存模組的輸出傳 送至對應的周邊針腳，以借由閃存模組的輸出來驗證第二控制接點與模組接點 之間的連接關系是否正確。