[發(fā)明專利]存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法及其測試工具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910001502.5 | 申請日： | 2009-01-05 |
| 公開（公告）號： | CN101769984A | 公開（公告）日： | 2010-07-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 丁懷亮;陳玄同 | 申請（專利權(quán)）人： | 英業(yè)達(dá)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁揮;祁建國 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 存儲 裝置 發(fā)光二極管 測試 方法 及其 工具 | ||
1.一種存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在于，對獨立的存儲裝 置所屬的一發(fā)光二極管進(jìn)行發(fā)光測試，該測試方法包括以下步驟：
將該存儲裝置連接于一測試工具，其具有一測試程序與多筆測試數(shù)據(jù)；
初始該存儲裝置；
執(zhí)行一測試程序，用以對該存儲裝置的端口發(fā)送該些測試數(shù)據(jù)；
通過對該存儲裝置的存取，使得該存儲裝置驅(qū)動該發(fā)光二極管；以及
根據(jù)該發(fā)光二極管的亮度與發(fā)光頻率，判斷該發(fā)光二極管的運作狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在 于，該存儲裝置為一軟式磁碟機(jī)、一硬式磁碟機(jī)、一閃存或一光學(xué)存儲裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在 于，執(zhí)行該測試程序還包括以下步驟：
從一周邊裝置接口設(shè)置空間中選擇相應(yīng)的該端口；
提供不同文件大小的多筆測試數(shù)據(jù)；以及
分別對該存儲裝置中的各扇區(qū)逐次載入該些測試數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在 于，該些端口為1f0h或170h。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的發(fā)光二極管的測試方法，其特征在 于，執(zhí)行該測試程序還包括以下步驟：
從一周邊裝置接口設(shè)置空間中選擇相應(yīng)的該端口；
從該周邊裝置中調(diào)用該些測試數(shù)據(jù)；
再經(jīng)過一預(yù)設(shè)時間后，調(diào)整該些測試數(shù)據(jù)的調(diào)用頻率；以及
根據(jù)該些測試數(shù)據(jù)的調(diào)用頻率，調(diào)整該些測試數(shù)據(jù)的發(fā)送頻率。
6.一種測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其用以測試獨立的存儲裝 置所屬的一發(fā)光二極管，其特征在于，該測試工具包括有：
一連接接口，其用以連接于一存儲裝置的相應(yīng)的一連接接口；
一存儲單元，其用以存儲一測試程序與多筆測試數(shù)據(jù)；以及
一處理單元，其電性連接于該連接接口與該存儲單元，該處理單元用以執(zhí) 行該測試程序，用以選擇該存儲裝置的一端口并對該端口發(fā)送該些測試數(shù)據(jù)， 通過對該存儲裝置的該端口的存取，使得該存儲裝置驅(qū)動該發(fā)光二極管。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其特征 在于，該存儲裝置為一軟式磁碟機(jī)、一硬式磁碟機(jī)、一閃存或一光學(xué)存儲裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試存儲裝置的發(fā)光二極管的測試工具，其特征 在于，該些端口為1f0h或170h。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于英業(yè)達(dá)股份有限公司，未經(jīng)英業(yè)達(dá)股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200910001502.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
