[發明專利]存儲裝置的發光二極管的測試方法及其測試工具

有效

• 申請號: 200910001502.5
• 申請日: 2009-01-05
• 公開（公告）號: CN101769984A
• 公開（公告）日: 2010-07-07
• 發明（設計）人: 丁懷亮;陳玄同
• 申請（專利權）人: 英業達股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01J1/00
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;祁建國

技術領域

本發明涉及一種發光二極管的測試方法及其測試工具，特別是涉及一種對存儲裝置的發光二極管的測試方法及其測試工具。?

背景技術

隨著信息的快速且大量的成長，使得存儲裝置的容量也逐步的加大及加快。為了能讓使用者明顯的辨認存儲裝置是否在存取中，一般而言會在存儲裝置上會設置有一發光二極管。當存儲裝置有數據被寫入/讀取時，存儲裝置會驅動發光二極管。在數據的寫入過程中，發光二極管會根據寫入的頻率/時間影響其發光的頻率與時間。?

對于生產廠商而言，為了測試存儲裝置的發光二極管的運作狀態。需要對存儲裝置進行大量的數據存取，使得發光二極管持續的運作，測試人員才能判斷是否正常。這樣一來，存儲裝置的壽命勢必受到損耗。因此，測試人員還提出利用基本輸入/輸出系統(Basic?Input/Output?System，BIOS)所提供的中斷方法來對發光二極管進行測試。但是，這種測試方法有下列缺點：1.發光二極管會出現閃爍的現象，而且在不同測試環境下閃爍的亮度也有所不同。2.存儲裝置存取數據的方法也會對發光二極管的發光亮度產生影響。這是因為存儲裝置中的緩沖區會對讀寫數據進行保存。所以當緩沖區中的數據量不足時，發光二極管的發光量亦會受到影響。3.如果采用BIOS的中斷方式，會因為BIOS目前不支持存儲裝置(如硬盤)的狀況較多。即使支持，它上面的發光二極管所發出亮度也達不到目標亮度的要求。?

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種存儲裝置的發光二極管的測試方法，用于對存儲裝置的發光二極管進行壓力測試。?

為了實現上述目的，本發明提供了一種存儲裝置的發光二極管的測試方?法，其特征在于，對獨立的存儲裝置所屬的一發光二極管進行發光測試，該測試方法包括以下步驟：?

將該存儲裝置連接于一測試工具，其具有一測試程序與多筆測試數據；?

初始該存儲裝置；?

執行一測試程序，用以對該存儲裝置的端口發送該些測試數據；?

通過對該存儲裝置的存取，使得該存儲裝置驅動該發光二極管；以及?

根據該發光二極管的亮度與發光頻率，判斷該發光二極管的運作狀態。?

所述的存儲裝置的發光二極管的測試方法，其中，該存儲裝置為一軟式磁碟機、一硬式磁碟機、一閃存或一光學存儲裝置。?

所述的存儲裝置的發光二極管的測試方法，其中，執行該測試程序還包括以下步驟：?

從一周邊裝置接口設置空間中選擇相應的該端口；?

提供不同文件大小的多筆測試數據；以及?

分別對該存儲裝置中的各扇區逐次載入該些測試數據。?

所述的存儲裝置的發光二極管的測試方法，其中，該些端口為1f0h或170h。?

所述的存儲裝置的發光二極管的測試方法，其中，執行該測試程序還包括以下步驟：?

從一周邊裝置接口設置空間中選擇相應的該端口；?

從該周邊裝置中調用該些測試數據；?

再經過一預設時間后，調整該些測試數據的調用頻率；以及?

根據該些測試數據的調用頻率，調整該些測試數據的發送頻率。?

從本發明的另一觀點，本發明提出一種測試存儲裝置的發光二極管的測試工具，其用以測試獨立的存儲裝置所屬的發光二極管。?

為了實現上述目的，本發明還提供了一種測試存儲裝置的發光二極管的測試工具，其用以測試獨立的存儲裝置所屬的一發光二極管，其特征在于，該測試工具包括有：?

一連接接口，其用以連接于一存儲裝置的相應的一連接接口；?

一存儲單元，其用以存儲一測試程序與多筆測試數據；以及?

一處理單元，其電性連接于該連接接口與該存儲單元，該處理單元用以執行該測試程序，用以選擇該存儲裝置的一端口并對該端口發送該些測試數據，通過對該存儲裝置的該端口的存取，使得該存儲裝置驅動該發光二極管。?

所述的測試存儲裝置的發光二極管的測試工具，其122????處理單元?

所述的測試存儲裝置的發光二極管的測試工具，其中，該些端口為1f0h或170h。?

本發明提供一種對存儲裝置的發光二極管的測試方法。在本發明中通過訪問存儲裝置的端口，用以驅動發光二極管的發光。使得測試人員不需通過讀寫文件的方式，也可以驅動存儲裝置與其發光二極管運作。如此一來，除了可以降低存儲裝置的存取次數，亦可以達成測試存儲裝置的發光二極管的目的。?