[發(fā)明專利]臺型半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200910001345.8 | 申請日: | 2009-01-07 |
| 公開(公告)號: | CN101499421A | 公開(公告)日: | 2009-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鈴木彰;關(guān)克行;小田島慶汰 | 申請(專利權(quán))人: | 三洋電機(jī)株式會社;三洋半導(dǎo)體株式會社;三洋半導(dǎo)體制造株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L29/861;H01L29/06 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 日本國大阪府守*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)一種具有臺溝(mesa?groove)的臺(mesa;平臺或梯形臺形狀的突出臺,本文中概稱為“臺”)型半導(dǎo)體裝置及其制造方法。?
背景技術(shù)
以往,作為臺型半導(dǎo)體裝置的一種,已知有大電力用的臺型二極管。參照圖9說明已知例的臺型二極管(mesa?type?diode)。?
于N+型的半導(dǎo)體基板101的表面形成N-型半導(dǎo)體層102。于N-型半導(dǎo)體層102的表面形成P型半導(dǎo)體層103,于P型半導(dǎo)體層103上形成絕緣膜105。此外,形成與P型半導(dǎo)體層103電性連接的陽極電極106。?
此外,從P型半導(dǎo)體層103的表面形成到達(dá)N+型的半導(dǎo)體基板101的臺溝(mesa?trench)108。臺溝108是形成為比N-型半導(dǎo)體層102還深,且臺溝108的底部是位于N+型的半導(dǎo)體基板101中。臺溝108的側(cè)壁是具有從P型半導(dǎo)體層103的表面至臺溝108的底部的順錐面(taper)形狀而傾斜。臺型二極管是被該臺溝108包圍而具有臺型的構(gòu)造。?
此外,形成覆蓋臺溝108的側(cè)壁的保護(hù)(passivation)膜130,且于半導(dǎo)體基板101的背面形成陰極電極107。?
關(guān)于臺型的半導(dǎo)體裝置,是記載于例如專利文獻(xiàn)1。?
專利文獻(xiàn)1:日本特開2003-347306號公報(bào)?
發(fā)明內(nèi)容
(發(fā)明所欲解決的課題)?
然而,依據(jù)本發(fā)明人的實(shí)驗(yàn),得知在已知例的臺型二極管中,于施加逆向偏壓時的耐壓是不足夠。其原因可推測為由于PN接合部JC附近的臺?溝108的側(cè)壁是形成順錐面形狀,因此于對PN接合部JC施加逆向偏壓時電場容易集中之故。?
針對此點(diǎn),本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)由以垂直于半導(dǎo)體基板101表面的方式將臺溝108的側(cè)壁予以加工可提升耐壓。為了垂直地形成臺溝108的側(cè)壁,可考慮使用屬于深寬比(aspect?ratio)高的干蝕刻方法的波希法(Boschprocess)。?
然而,當(dāng)使用波希法時,會于臺溝108的側(cè)壁形成損傷層。該損傷層是成為對臺型二極管施加逆向偏壓時產(chǎn)生漏電流的原因。雖能由進(jìn)行濕蝕刻來去除該損傷層,但另一方面與圖9的已知例相同,該濕蝕刻會使PN接合部JC附近的臺溝108的側(cè)壁變成順錐面形狀,而降低耐壓。?
(解決課題的手段)?
本發(fā)明的臺型半導(dǎo)體裝置的制造方法包含:準(zhǔn)備第一導(dǎo)電型的半導(dǎo)體基板,并于前述半導(dǎo)體基板的表面形成比前述半導(dǎo)體基板的濃度還低的第一導(dǎo)電型的第一半導(dǎo)體層的步驟;于前述第一半導(dǎo)體層的表面形成第二導(dǎo)電型的第二半導(dǎo)體層的步驟;第一蝕刻步驟,是形成臺溝,該臺溝是從前述第二半導(dǎo)體層的表面到達(dá)前述半導(dǎo)體基板中,且隨著從前述第二半導(dǎo)體層的表面越接近前述半導(dǎo)體基板其寬度越大;以及第二蝕刻步驟,是去除因前述第一蝕刻步驟所產(chǎn)生的前述臺溝的內(nèi)壁的損傷層。?
本發(fā)明的臺型半導(dǎo)體裝置是具備有:第一導(dǎo)電型的半導(dǎo)體基板;第一導(dǎo)電型的第一半導(dǎo)體層,接合至前述半導(dǎo)體基板的表面,并比前述半導(dǎo)體基板的濃度還低;以及第二導(dǎo)電型的第二半導(dǎo)體層,接合至前述第一半導(dǎo)體層的表面,且與前述第一半導(dǎo)體層一起形成PN接合部;其中,位于PN接合部上方的第二半導(dǎo)體層的端部具有順錐面形狀,位于PN接合部附近的第一及第二半導(dǎo)體層的端部具有逆錐面形狀。?
(發(fā)明的效果)?
依據(jù)本發(fā)明的臺型半導(dǎo)體裝置及其制造方法,能提升耐壓并降低漏電流。?
附圖說明
為能讓審查員能更了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容,特舉較佳具體實(shí)施例及附?圖說明如下,其中:?
圖1是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖2是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖3是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖4(A)至圖4(D)是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖5(A)及圖5(B)是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的平面圖。?
圖6是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖7是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖8是顯示本發(fā)明的實(shí)施形態(tài)的臺型二極管及其制造方法的剖面圖。?
圖9是已知例的臺型二極管的剖面圖。?
具體實(shí)施方式
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





