[發(fā)明專利]用于檢測(cè)觸摸表面上的控制路徑的角度變化的方法和相應(yīng)控制模塊有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200880121913.1 | 申請(qǐng)日: | 2008-12-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101903834A | 公開(kāi)(公告)日: | 2010-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 布魯諾·科塔雷爾;弗洛倫特·德沃克斯比頓;塞德里克·查特雷恩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | DAV公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G05B19/042 | 分類(lèi)號(hào): | G05B19/042;G06F3/045 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 葛青 |
| 地址: | 法國(guó)克*** | 國(guó)省代碼: | 法國(guó);FR |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 檢測(cè) 觸摸 表面上 控制 路徑 角度 變化 方法 相應(yīng) 模塊 | ||
1.一種用于確定觸摸表面上的控制軌跡的基本角度的方法,其特征在于:
在預(yù)定持續(xù)時(shí)間(dT)期間,沿兩個(gè)垂直軸線(X,Y)測(cè)量?jī)蓚€(gè)基本位移值(|dX|,|dY|);
所述值(|dX|,|dY|)與參考數(shù)據(jù)表的基本位移的單位值(Xu,Yu)的區(qū)間進(jìn)行比較;
代表角度的參考數(shù)據(jù)被分配給控制軌跡的基本角度(dθ)。
2.如權(quán)利要求1所述的確定方法,其特征在于,代表角度的參考數(shù)據(jù)是整數(shù)或字符。
3.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的確定方法,其特征在于,首先確定中間基本角度(dθ’),此后基于該中間基本角度,根據(jù)每個(gè)基本位移的取向的指向,確定控制軌跡關(guān)于軸線(X,Y)的基本角度(dθ)。
4.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的確定方法,其特征在于,當(dāng)兩個(gè)基本位移值(|dX|,|dY|)的和小于預(yù)定閾值時(shí),所述參考數(shù)據(jù)代表零角度。
5.如前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的確定方法,其特征在于,如果沿一軸線(X,Y)的基本位移值(|dX|,|dY|)大于參考數(shù)據(jù)表中的沿該軸線的最大基本位移的單位值(|Xu|,|Yu|),則所述位移值(|dx|,|dY|)除以一整數(shù)。
6.一種用于檢測(cè)觸摸表面上的控制軌跡的角度變化的方法,其特征在于:
如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的用于確定控制軌跡的基本角度的方法被執(zhí)行,且在基本步驟期間被分配的基本角度(dθ)被儲(chǔ)存;
重復(fù)基本步驟且分配的基本角度(dθ)被接連匯集,以確定控制軌跡的角度變化。
7.如權(quán)利要求6所述的檢測(cè)方法,其特征在于,控制軌跡與參考控制軌跡庫(kù)進(jìn)行比較,以保留具有與預(yù)定形狀準(zhǔn)則明顯對(duì)應(yīng)的形狀的控制軌跡。
8.如權(quán)利要求6所述的檢測(cè)方法,其特征在于,基于至少兩個(gè)相繼的基本角度(dθ)的差,確定控制軌跡的形狀。
9.如權(quán)利要求6或8所述的檢測(cè)方法,其特征在于,基于至少兩個(gè)相繼的基本角度(dθ)的差,確定控制軌跡的旋轉(zhuǎn)方向。
10.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)方法,其特征在于,旋轉(zhuǎn)方向和基本角度(dθ)與附加參考數(shù)據(jù)表進(jìn)行比較,以給控制軌跡分配具有環(huán)形形狀的觸摸表面上的位置。
11.如權(quán)利要求9或10所述的檢測(cè)方法,其特征在于,當(dāng)控制軌跡大于360°時(shí),轉(zhuǎn)數(shù)表被增量。
12.一種包括觸摸表面(1)的控制模塊,其特征在于,其包括處理單元,該處理單元用于執(zhí)行如權(quán)利要求6至11中任一項(xiàng)所述的用于檢測(cè)控制軌跡的角度變化的方法。
13.如權(quán)利要求12所述的控制模塊,其特征在于,其包括連接到處理單元的顯示屏,該顯示屏能顯示控制軌跡。
14.如權(quán)利要求12或13所述的控制模塊,其特征在于,該控制模塊能控制機(jī)動(dòng)車(chē)的至少一組電氣或電子構(gòu)件的功能,所述構(gòu)件例如為空調(diào)系統(tǒng)、音響系統(tǒng)、導(dǎo)航系統(tǒng)、電話系統(tǒng)、電動(dòng)搖窗控制器、用于調(diào)節(jié)外后視鏡的控制器、用于調(diào)節(jié)天窗位置的控制器、用于車(chē)內(nèi)燈光的控制器、用于調(diào)節(jié)機(jī)動(dòng)車(chē)座椅的控制器。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于DAV公司,未經(jīng)DAV公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200880121913.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





