[發明專利]帶形薄膜的卷繞狀態的評估方法以及帶形薄膜的卷繞方法

有效

• 申請號: 200880108019.0
• 申請日: 2008-03-19
• 公開（公告）號: CN101802604A
• 公開（公告）日: 2010-08-11
• 發明（設計）人: 德永久次;日向野正德
• 申請（專利權）人: 電氣化學工業株式會社
• 主分類號: G01N29/00
• 分類號: G01N29/00;B65H26/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 朱立鳴;丁曉峰

技術領域

本發明涉及一種卷繞狀態評估方法；一種帶形薄膜卷繞方法，其中卷繞條 件是根據前述評估方法的結果來進行控制的；以及采用前述卷繞方法所卷繞的 一種帶形薄膜。帶形薄膜的實例包括切割成小寬度的帶形薄膜，如在輸運電子 部件時所使用的承載帶上的封蓋帶。

背景技術

在輸運芯片式電子器件如IC器件時，通常使用通過對塑料板進行壓紋以 標準間隔連續地形成多個凹陷來形成的承載帶。在將芯片式的電子器件插入這 些凹陷中之后，通過用封蓋帶將該承載帶的上表面熱密封來密封這些電子部 件，然后將它們卷繞到芯軸上以便輸運。

所使用的用于密封的封蓋帶通常是從寬的原始卷切割成為窄的帶形薄膜 的形式，然后卷繞到芯軸之上以進入市場。

然而，如果該帶形薄膜卷繞不良，那么在輸運或存儲過程中的環境溫度和 濕度會致使該卷繞變得畸形，并且在極端情況下，導致卷繞松脫而使之無法使 用。

不良卷繞的可能原因包括該帶形薄膜自身的問題，如該帶形薄膜的厚度不 均勻(存在厚度變化)，以及卷繞方法的問題，如卷繞過程中的張力設定不當。

用于改進帶形薄膜卷繞方法的手段的實例包括：一種方法，其中在將該帶 形薄膜卷繞到芯軸上的過程中使得卷繞電動機的轉矩是可變的，以使它在改變 張力的同時可以連續地進行卷繞(專利文件1)；一種在卷繞過程中使用接觸滾 輪的方法，以便根據卷繞直徑來移動該接觸滾輪的支承部分(專利文件2)；以 及一種在卷繞過程中使用壓迫滾輪的方法，以便在該卷繞過程的開始以及該卷 繞過程的結束時控制壓力負荷(專利文件3)。

專利文件1：JP2002-274707A

專利文件2：JP2005-206301A

專利文件3：JP2006-225135A

發明內容

本發明要解決的問題

然而，確定帶形薄膜是否被適當地卷繞必須根據幾種基于感官評估的不確 定的方法，如由一位經驗豐富的工人來視覺觀察或者通過直接手動接觸來發現 卷繞到芯軸上的帶形薄膜的邊緣表面的狀態。

此外，即使通過視覺觀測與觸摸而判斷為卷繞成無問題的狀態時，仍存在 一些情況，其中帶形薄膜在輸運或存儲過程中會發生松弛和卷繞松脫。

因此，對于需要客觀并且定量地確定卷繞到芯軸上的帶形薄膜的卷繞狀態 是否良好、而無需依賴基于視覺與觸覺的主觀評估的有效手段存在一種需求。

本發明是考慮上述情況而做出的，并且它提供了：一種評估帶形薄膜卷繞 狀態的方法，該方法使其能夠客觀精確地確定卷繞在芯軸上的帶形薄膜的卷繞 狀態；一種帶形薄膜卷繞方法，該方法通過根據基于前述評估方法的評估結果 來控制卷繞條件而能夠防止輸運和存儲過程中發生卷繞狀態畸變和卷繞松脫； 以及一種采用前述卷繞方法所卷繞的帶形薄膜。

解決問題的方法

作為對實現上述目的的方法進行辛勤研究的結果，發明人發現：卷繞狀態 是否良好的客觀確定可以通過以下方式做出，即在平行于該芯軸的旋轉軸線的 方向上朝著卷繞到芯軸上的帶形薄膜生成超聲波、接收反射波或者透射波，由 此確定由該帶形薄膜所引起的超聲波衰減率，以及分析在帶形薄膜中衰減率的 分布。

這就是說，本發明提供了一種對卷繞在芯軸上的帶形薄膜的卷繞狀態進行 評估的方法，該方法的特征在于包括以下步驟：在平行于該芯軸旋轉軸線的方 向上朝著該帶形薄膜生成超聲波、并且接收反射或者透射波，以確定該帶形薄 膜中的超聲波衰減率；以及根據該帶形薄膜中衰減率的分布來評估該帶形薄膜 卷繞狀態。

根據這種評估帶形薄膜卷繞狀態的方法，有可能客觀地并且定量地確定卷 繞到芯軸上的帶形薄膜的卷繞狀態是否良好，而無需依賴于視覺或觸覺。

此外，通過根據所獲得的評估結果來控制卷繞條件，可以提供一種卷繞具 有良好卷繞狀態的帶形薄膜的方法、以及一種具有良好卷繞狀態的帶形薄膜。

發明的效果

本發明使得能夠高度精確并客觀的確定卷繞到芯軸上的帶形薄膜的卷繞 狀態是否良好。此外，由于該評估方法的結果可以用來優化卷繞條件，本發明 還提供了一種卷繞具有良好卷繞狀態的帶形薄膜的方法、以及一種具有良好卷 繞狀態的帶形薄膜。

附圖說明

[圖1]根據本發明所述的超聲探傷裝置的測量方法的示意圖。

[圖2]一種從測量值中導出超聲波衰減率的方法的示意圖。

1?芯軸