[發明專利]帶形薄膜的卷繞狀態的評估方法以及帶形薄膜的卷繞方法

有效

• 申請號: 200880108019.0
• 申請日: 2008-03-19
• 公開（公告）號: CN101802604A
• 公開（公告）日: 2010-08-11
• 發明（設計）人: 德永久次;日向野正德
• 申請（專利權）人: 電氣化學工業株式會社
• 主分類號: G01N29/00
• 分類號: G01N29/00;B65H26/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 朱立鳴;丁曉峰

1.一種對卷繞到芯軸上的帶形薄膜的卷繞狀態進行評估的方法，該方法的 特征在于包括以下步驟：

在平行于該芯軸的旋轉軸線的方向上、朝向該帶形薄膜生成超聲波，并且 接收反射波或透射波，以確定該帶形薄膜中的超聲波的衰減率；以及

根據在該帶形薄膜中衰減率分布來評估該帶形薄膜的卷繞狀態。

2.如權利要求1所述的對帶形薄膜的卷繞狀態進行評估的方法，其特征在 于，所述衰減率的分布是卷繞到芯軸上的所述帶形薄膜在徑向上的分布。

3.一種卷繞帶形薄膜至芯軸的方法，其特征在于，基于如權利要求1所述 的對帶形薄膜的卷繞狀態進行評估的方法的評估結果來控制該帶形薄膜的卷 繞條件。

4.如權利要求3所述的卷繞帶形薄膜至芯軸的方法，其特征在于，所述卷 繞條件被控制為使得在從卷繞在該芯軸上的帶形薄膜的半徑中所減去的該芯 軸的半徑的長度的所述芯軸側的至少50％的范圍上該超聲衰減率為30％或更 小。

5.如權利要求3所述的卷繞帶形薄膜至芯軸的方法，其特征在于，所述帶 形薄膜的寬度是至少1mm、并且最多50mm。

6.如權利要求3所述的卷繞帶形薄膜至芯軸的方法，其特征在于，所述帶 形薄膜的厚度是至少0.03mm、并且最多2mm。

7.如權利要求3所述的卷繞帶形薄膜至芯軸的方法，其特征在于，所述帶 形薄膜是疊層膜。

8.如權利要求7所述的卷繞帶形薄膜至芯軸的方法，其特征在于，所述帶 形薄膜是用于承載帶的封蓋帶。