[發明專利]用于制造多個芯片的方法和相應地制造的芯片無效
| 申請號: | 200880106772.6 | 申請日: | 2008-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN101803003A | 公開(公告)日: | 2010-08-11 |
| 發明(設計)人: | T·克拉默;M·伯林格;S·平特;H·本澤爾;M·伊林;F·哈格;S·安布魯斯特 | 申請(專利權)人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/78 | 分類號: | H01L21/78;B81C1/00 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 侯鳴慧 |
| 地址: | 德國斯*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 制造 芯片 方法 相應 | ||
1.用于制造多個芯片的方法,這些芯片的功能性基于基底(1)的表面層(2)實現,
在該方法中,所述表面層(2)被結構化并且在所述表面層(2)下方產生至少一個空腔(3),使得單獨的芯片區域(5)僅通過懸掛短臂相互連接和/或與其余的基底(1)連接,和/或,使得這些單獨的芯片區域(5)通過所述空腔(3)的區域中的支撐元件(7)與所述空腔(3)下方的基底層(4)連接,以及,
在該方法中分離這些芯片,其中,所述懸掛短臂和/或支撐元件(7)被分開,
其特征在于,在分離所述芯片之前,將所述基底(1)的結構化的且下方挖空的所述表面層(2)嵌入到塑料質量(10)中。
2.如權利要求1的方法,其特征在于,對所述基底(1)的結構化的且下方挖空的所述表面層(2)進行注塑包封。
3.如權利要求2的方法,其特征在于,所述注塑包封在真空下進行。
4.如權利要求1至3之一的方法,其特征在于,作為塑料質量(10)使用環氧樹脂、聯二苯或多芳香烴樹脂。
5.如權利要求1至4之一的方法,其特征在于,至少將結構化的所述表面層(2)的形成所述芯片的區域與包圍該區域的塑料質量(10)一起從其余的基底(1)移除,其中,將相應的懸掛短臂和/或可能的支撐元件(7)分開,并且,只有在此之后才將嵌入在所述塑料質量(10)中的芯片分離。
6.如權利要求1至5之一的方法,其特征在于,所述芯片區域(5)設置用于倒裝芯片裝配的焊盤(9),然后將所述基底(1)的結構化的且下方挖空的所述表面層(2)這樣地嵌入到所述塑料質量(10)中,使得所述焊盤(9)從所述塑料質量(10)突出。
7.具有塑料包套(10)和從該塑料包套(10)突出的焊盤(9)的芯片(11),該芯片(11)根據如權利要求1至6之一的方法制造,其特征在于,在所述塑料包套(10)的外表面中能看到懸掛短臂和/或支撐元件(7),所述懸掛短臂和/或支撐元件(7)由所述芯片(11)的制造方法產生。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





