[發明專利]用于確定用于檢測芯片上的故障的相關值以及確定芯片上的位置的故障概率的方法和裝置

有效

• 申請號: 200880101430.5
• 申請日: 2008-12-17
• 公開（公告）號: CN101821640A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 約亨·里瓦爾
• 申請（專利權）人: 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴;南霆

背景技術

本發明涉及例如在模擬或無線射頻(RF)電路中對芯片或其它器件的 測試以及對那些芯片或器件上的故障的診斷。

在已知的方法中，電路行為針對在每種處理參數的相關組合下的每種 可能的故障被仿真，并被存儲在故障字典中。對被診斷電路或被測試器件 (DUT)的測量結果被與故障字典中的所有條目進行比較，其中故障字典 中最相似的條目標識被診斷出的故障。這種方法很直接，但是需要大量的 長時間運行的仿真。此外，它需要對測試條件的建模。F.Liu、S.O.Ozev 描述了一個示例：“Efficient?Simulation?of?Parametric?Faults?for?Multi-Stage Analog?Circuits(對多級模擬電路的參數故障的高效仿真)，ITC?2007”。

診斷故障的能力對于良率學習(yield?learning)是非常關鍵的，例如 提高生產期間的良率，但是糾正措施只有在故障的物理本質已知時才是可 能的。與用于數字系統的故障診斷相比，對于在模擬或射頻(RF)電路中 的例如表現為參數變化的故障而言還沒有已知的實用方法。

發明內容

本發明的實施例的目的在于實現在大量制造期間對參數故障的實用故 障診斷。

本發明的實施例提供了一種用于確定相關值(relevance?value)R(i，m) 的方法，每個相關值表示用于檢測芯片上的故障的第一數目I個輸入節點 中的輸入節點i與第二數目M個測量節點中的測量節點m的組合(i，m) 的相關性，所述方法包括：在第一數目I個輸入節點處應用第三數目K個 測試，其中第三數目K個測試中的每個測試k為每個輸入節點i定義一測 試輸入選項U(k，i)；針對所述第三數目K個測試中的每個測試k測量在第 二數目M個測量節點中的每個測量節點處的信號，以針對第二數目M個 測量節點中的每個測量節點m獲得第三數目K個測量值，其中每個測量 值Y(k，m)與測量所針對的測試k和被測量的測量節點m相關聯；確定相 關值R(i，m)，其中每個相關值是基于針對相應組合中的輸入節點i所定義 的第三數目K個測試輸入選項U(k，i)和與所述相應組合(i，m)中的測量 節點m相關聯的第三數目K個測量值Y(k，m)之間的互相關性 (correlation)來計算的。

本發明的其它實施例提供了一種用于確定芯片上的位置(x，y，z)的 故障概率F(x，y，z)的方法，包括以下步驟：確定相關值(R(i，m))，每個 相關值表示用于檢測芯片上的故障的第一數目I個輸入節點中的輸入節點i 與第二數目M個測量節點中的測量節點m的組合(i，m)的相關性；針對 芯片的第四數目P個信號路徑中的每個信號路徑p確定從位置(x，y，z)到所 述芯片上的第四數目P個信號路徑中的每個路徑的距離L((x，y，z)，i，m， p)，其中每個信號路徑p從所述第一數目I個輸入節點中的輸入節點i延伸 到所述第二數目M個測量節點中的測量節點m；以及基于將距離L((x，y， z)，i，m，p)與用相應路徑p延伸開始的輸入節點i與所述相應路徑p所延伸 至的測量節點m的組合的相關值R(i，m)加權的所述第四數目P個路徑中的 每個路徑相加，來確定故障概率F(x，y，z)。

本發明基于如下發現：當在測試組中測量m的偏差與輸入i互相關 時，被診斷出的故障位置在輸入i被應用到的位置A(i)與測量m被執行的 位置B(m)之間。這假定輸入i感知到了故障。

當輸入i只影響故障檢測能力并且信號圖已知時，被診斷到的故障位 置在從A(i)到B(m)的信號路徑上。

測量m與用測量m的總體偏差加權的輸入i的所有互相關C(i，m)的疊 加降低了位置模糊性。

本發明的實施例不需要故障模型，不需要對器件的詳細認知、不需要 對測試建模并且也完全不需要仿真。

對于特定實施例，只有輸入i被應用的輸入節點的位置以及測量m被 執行的測量節點m的位置需要是已知的。

此外，對于另外一些實施例，將特定輸入節點i與特定測量節點m相 連接的信號路徑p的位置也是已知的。這些實施例能夠實現對芯片的故障 電路元件的精確自動定位。

附圖說明

下文中參考附圖對本發明的實施例進行描述：

圖1示出了射頻收發器的電路圖。