[發明專利]用于確定用于檢測芯片上的故障的相關值以及確定芯片上的位置的故障概率的方法和裝置

有效

• 申請號: 200880101430.5
• 申請日: 2008-12-17
• 公開（公告）號: CN101821640A
• 公開（公告）日: 2010-09-01
• 發明（設計）人: 約亨·里瓦爾
• 申請（專利權）人: 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 宋鶴;南霆

1.一種用于確定相關值R(i，m)的方法，每個相關值表示用于檢測芯片 上的故障的第一數目I的輸入節點中的輸入節點i與第二數目M的測量節 點中的測量節點m的組合(i，m)的相關性，所述方法包括：

在所述第一數目I的輸入節點處應用第三數目K的測試，其中所述第 三數目K的測試中的每個測試k為每個輸入節點i定義測試輸入選項U(k， i)；

針對所述第三數目K的測試中的每個測試k測量在所述第二數目M 的測量節點中的每個測量節點處的信號，以針對所述第二數目M的測量節 點中的每個測量節點m獲得第三數目K的測量值，其中每個測量值Y(k， m)與測量所針對的測試k和被測量的測量節點m相關聯；

確定所述相關值R(i，m)，其中每個相關值R(i，m)是基于針對相應組合 的輸入節點i所定義的第三數目K的測試輸入選項U(k，i)和與所述相應組 合(i，m)的測量節點m相關聯的第三數目K的測量值Y(k，m)之間的互相關 來計算的。

2.根據權利要求1所述的方法，其中為了計算所述互相關，每個測量 值Y(k，m)針對與所述測量值Y(k，m)相同測試k和相同測量節點m所關聯 的平均值μ_Y(k，m)被標準化。

3.根據權利要求1所述的方法，其中為了計算所述互相關，每個測量 值Y(k，m)針對與所述測量值Y(k，m)相同測試k和相同測量節點m所關聯 的標準偏差σ_Y(k，m)被標準化。

4.根據權利要求1所述的方法，其中為了計算所述互相關，每個測試 輸入選項U(k，i)針對與所述測試輸入選項U(k，i)相同輸入節點i所關聯的 平均值μ_U(i)被標準化，其中所述平均值μ_U(i)是與輸入節點i相關聯的第三 數目K的測試輸入選項的平均值。

5.根據權利要求1所述的方法，其中為了計算所述互相關，每個測試 輸入選項U(k，i)針對與所述測試輸入選項U(k，i)相同輸入節點i所關聯的 標準偏差σ_U(i)被標準化，其中所述標準偏差σ_U(i)是與所述輸入節點i相關 聯的第三數目K的測試輸入選項的標準偏差。

6.根據權利要求1所述的方法，其中所述相關值R(i，m)被確定為互相 關值C(i，m)，其中C(i，m)是輸入節點i和測量節點m之間的互相關值。