[發(fā)明專利]改進(jìn)的埋入式隔離層無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200880025008.6 | 申請(qǐng)日: | 2008-05-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101755332A | 公開(公告)日: | 2010-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | M·丘奇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英特賽爾美國(guó)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/761 | 分類號(hào): | H01L21/761;H01L21/74;H01L29/06 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 李玲 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 改進(jìn) 埋入 隔離 | ||
1.一種集成電路,包括:
基板,所述基板具有頂部表面、在所述基板中的埋入式N型層、從所述表面延伸到埋入式N型區(qū)域的N型接觸區(qū)域、在所述基板中與埋入式N型區(qū)域相鄰且在埋入式N型區(qū)域上方的埋入式P型區(qū)域、從所述表面延伸到埋入式P型區(qū)域的P型接觸區(qū)域、以及在所述表面中且在埋入式P型區(qū)域上方的N型器件區(qū)域;以及
埋入式P型區(qū)域的P型雜質(zhì)至少部分地是銦。
2.如權(quán)利要求1所述的集成電路,其特征在于,
N型埋入式區(qū)域和P型埋入式區(qū)域是底部結(jié)隔離區(qū)域。
3.如權(quán)利要求2所述的集成電路,其特征在于,
N型接觸區(qū)域和P型接觸區(qū)域是同心的橫向結(jié)隔離區(qū)域。
4.如權(quán)利要求1所述的集成電路,其特征在于,
所述基板包括P型層,在P型層上有外延層,并且所述頂部表面在所述外延層之上。
5.如權(quán)利要求1所述的集成電路,其特征在于,
N型器件區(qū)域是場(chǎng)效應(yīng)晶體管的漏極區(qū)域;并且還包括用于在所述基板中使N型源極區(qū)域與N型漏極區(qū)域分離開的P型主體區(qū)域。
6.如權(quán)利要求1所述的集成電路,其特征在于,
N型器件區(qū)域是雙極晶體管的集電極區(qū)域;并且還包括用于在所述基板中使N型發(fā)射極區(qū)域與N型集電極區(qū)域分離開的P型基極區(qū)域。
7.如權(quán)利要求1所述的集成電路,其特征在于,
埋入式P型區(qū)域的P型雜質(zhì)是銦和硼。
8.一種集成電路,包括:
基板,所述基板具有頂部表面、在所述基板中的埋入式N型層、從所述表面延伸到埋入式N型區(qū)域的N型接觸區(qū)域、在所述基板中與埋入式N型區(qū)域相鄰且在埋入式N型區(qū)域上方的埋入式P型區(qū)域、從所述表面延伸到埋入式P型區(qū)域的P型接觸區(qū)域、以及在所述表面中且在埋入式P型區(qū)域上方的N型器件區(qū)域;以及
埋入式P型區(qū)域的P型雜質(zhì)包括其擴(kuò)散系數(shù)低于P型接觸區(qū)域的雜質(zhì)的擴(kuò)散系數(shù)的雜質(zhì)。
9.如權(quán)利要求8所述的集成電路,其特征在于,
埋入式P型區(qū)域的P型雜質(zhì)至少部分地是銦。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





