[發(fā)明專利]具有位于存儲元件之間的可單獨控制的屏蔽板的非易失性存儲裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200880021966.6 | 申請日: | 2008-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN101711413A | 公開(公告)日: | 2010-05-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 東谷政昭 | 申請(專利權(quán))人: | 桑迪士克公司 |
| 主分類號: | G11C16/00 | 分類號: | G11C16/00;H01L27/115 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 黃小臨 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 位于 存儲 元件 之間 單獨 控制 屏蔽 非易失性 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及非易失性存儲器。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體存儲器已日益普遍地用在各種電子裝置中。例如,非易失性半導(dǎo) 體存儲器被用在蜂窩電話、數(shù)碼相機、個人數(shù)字助理、移動計算裝置、非移 動計算裝置和其他裝置中。電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)和閃存是 位于最受歡迎的非易失性半導(dǎo)體存儲器之列。對于閃存——其也是一種 EEPROM——與傳統(tǒng)的全特征的(full-featured)EEPROM相比,可以在一步中 擦除整個存儲器陣列或一部分存儲器的內(nèi)容。
傳統(tǒng)EEPROM和閃存都使用位于半導(dǎo)體襯底中的溝道區(qū)之上并與之絕 緣的浮置柵極(floating?gate)。浮置柵極位于源極和漏極區(qū)之間??刂茤艠O在 浮置柵極上提供并與之絕緣。由此形成的晶體管的閾值電壓(VTH)通過被 保留在浮置柵極中的電荷量來控制。即,由浮置柵極上電荷的水平控制在導(dǎo) 通晶體管以允許在其源極和漏極之間導(dǎo)電之前必須施加到控制柵極的最小 電壓量。
一些EEPROM和閃存器件具有用于存儲兩個范圍的電荷的浮置柵極, 因而,存儲元件可以在兩個狀態(tài),例如擦除狀態(tài)和編程狀態(tài)之間編程/擦除。 這樣的閃存器件有時被稱為二進制閃存器件,因為每個存儲元件可存儲一個 比特的數(shù)據(jù)。
通過識別多個不同的允許/有效編程閾值電壓范圍,實現(xiàn)多狀態(tài)(也稱為 多級)閃存器件。每個不同的閾值電壓范圍對應(yīng)于被編碼到存儲器裝置中的 數(shù)據(jù)比特組的預(yù)定值。例如,當(dāng)每個存儲器元件可被置于與四個不同閾值電 壓范圍對應(yīng)的四個離散電荷帶之一中時,每個存儲器元件可存儲兩比特數(shù) 據(jù)。
典型地,在編程操作期間施加到控制柵極的編程電壓VPGM被施加為幅 度隨時間增加的一系列脈沖。在一個可能的方式中,脈沖的幅度隨著每個后 續(xù)脈沖增加預(yù)定步長,例如0.2-0.4V。VPGM可被施加到閃存元件的控制柵極。 在編程脈沖之間的時段中,執(zhí)行校驗操作。即,在連續(xù)編程脈沖之間讀取被 并行編程的一組元件中每個元件的編程電平,以確定它是否等于或大于元件 正被編程到其的校驗電平。對于多狀態(tài)閃存元件的陣列,可對于元件的每個 狀態(tài)執(zhí)行校驗步驟,以確定元件是否已達到其數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)的校驗電平。例如, 能夠以四個狀態(tài)存儲數(shù)據(jù)的多狀態(tài)存儲器元件可能需要執(zhí)行三個比較點的 校驗操作。
此外,當(dāng)對EEPROM或閃存器件諸如NAND串(string)中的NAND閃存 器件編程時,典型地,VPGM被施加到控制柵極,并且位線接地,使得電子從 單元或存儲器(memory)元件例如,存儲(storage)元件的溝道注入浮置柵極中。 當(dāng)電子在浮置柵極中積累時,浮置柵極充負電,并且存儲器元件的閾值電壓 升高,從而存儲器元件被認(rèn)為是在編程狀態(tài)中。關(guān)于這樣的編程的更多信息 可在題為“Source?Side?Self?Boosting?Technique?For?Non-Volatile?Memory”的 美國專利6,859,397以及2005年2月3日公開的題為“Detecting?Over Programmed?Memory”的美國專利申請公開2005/0024939中找到,兩者都通 過引用全文合并于此。
然而,隨著器件尺寸縮小,帶來各種挑戰(zhàn)。例如,浮置柵極到浮置柵極 耦合變得更成為問題,導(dǎo)致閾值電壓分布擴大以及從控制柵極到浮置柵極的 耦合率降低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明通過提供具有位于存儲元件之間的可單獨控制的屏蔽板的非易 失性存儲裝置(storage),解決以上和其他問題。
在一個實施例中,一種非易失性存儲設(shè)備包括:襯底,其上形成非易失 性存儲元件;字線,與非易失性存儲元件通信;以及屏蔽板,其中每個屏蔽 板在與相鄰字線相關(guān)聯(lián)的不同的相鄰非易失性存儲元件之間延伸,每個屏蔽 板是導(dǎo)電的并可獨立控制。
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