[發明專利]光學拾波裝置、光盤裝置有效
| 申請號: | 200880014961.0 | 申請日: | 2008-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN101675474A | 公開(公告)日: | 2010-03-17 |
| 發明(設計)人: | 麻田潤一;西脅青兒;百尾和雄 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/09 | 分類號: | G11B7/09;G11B7/135 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務所 | 代理人: | 楊 暄;呂靜姝 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 裝置 光盤 | ||
技術領域
本發明涉及一種用激光光源對光盤等光記錄媒體進行信息的讀出、寫入及消去中的至少一個的光學拾波裝置及采用了該光學拾波裝置的光盤裝置。
圖5A是表示專利文獻1中記載的光學拾波裝置的概略構成的側視圖,圖5B是從VB-VB線來看圖5A所示的光源部分的圖。
圖5A及5B所示的光學拾波裝置12如DVD和CD那樣,用在對應于規格不同的第1光盤6及第2光盤6’的光盤裝置中,并用以用對應于各個規格的波長的光,來分別對第1光盤6及第2光盤6’進行信息的讀出、寫入及消去。具體而言,光學拾波裝置12包括:生成與接收到的光強度相應的電信號的光檢測器9、配置在光檢測器9上并射出波長為λ1的第1激光和波長為λ2(其中,λ2>λ1)的第2激光的激光光源1、配置在光檢測器9上的反射鏡10、照準透鏡4、偏光性全息元件2、1/4波長板3、以及物鏡5。
在使用第1光盤6時,激光光源1從發光點1a射出第1激光(波長λ1)。所射出的第1激光通過安裝在光檢測器9上的反射鏡10在與光檢測器9的檢測表面9a正交的方向上反射,而入射到照準透鏡4。入射到照準透鏡4的光在轉換為大致平行光之后,穿透偏光性全息元件2,而入射到1/4波長板3。1/4波長板3將入射的直線偏振光(S波或P波)轉換為圓偏振光。從1/4波長板3所射出的光通過物鏡5聚光,而在第1光盤6的信號表面6a上形成光點。通過信號表面6a反射的光在穿透物鏡5,并由1/4波長板3再次轉換為直線偏振光(P波或S波)之后,入射到偏光性全息元件2的全息圖表面(hologram?surface)2a。?入射到偏光性全息元件2的光被全息圖表面2a衍射,并分支為以第1激光的光軸7為對稱軸的1級衍射光8和-1級衍射光8’之后,穿透照準透鏡4而入射到光檢測器9的檢測表面9a。
另一方面,在使用第2光盤6’時,激光光源1從發光點1a’射出第2激光(波長λ2,其中λ2>λ1)。所射出的第2激光在通過安裝在光檢測器9上的反射鏡10反射之后,由照準透鏡4轉換為大致平行光。從照準透鏡4所射出的光在穿透偏光性全息元件2,并由1/4波長板3轉換為圓偏振光之后,通過物鏡5聚光,而在第2光盤6’的信號表面6a’上形成光點。通過信號表面6a’反射的光在穿透物鏡5,并由1/4波長板3再次轉換為直線偏振光(P波或S波)之后,入射到偏光性全息元件2的全息圖表面2a。入射到偏光性全息元件2的光在被全息圖表面2a衍射,并分支為以第2激光的光軸7’為對稱軸的1級衍射光11和-1級衍射光11’之后,穿透照準透鏡4而入射到光檢測器9的檢測表面9a。
圖6是表示從圖5A所示的VI-VI線來看的全息圖表面2a的概略構成的圖。此外,在圖6中,用點劃線表示在使用第2激光時來自第2光盤6’的0級衍射光及±1級衍射光入射到全息圖表面2a的位置。
在全息圖表面2a形成有圓形衍射區域。該衍射區域被在光軸7所通過的點20正交的兩條直線(在光盤的直徑方向上延伸的x軸和在與x軸正交的方向上延伸的y軸)分割成4個區域。并且,位于xy坐標上的各個象限的區域分別被分割成3個區域,形成有區域21a~21c(第1象限)、區域22a~22c(第2象限)、區域23a~23c(第3象限)及區域24a~24c(第4象限)。
被光盤衍射的0級衍射光及±1級衍射光入射到全息圖表面2a,但在使用第1激光時和在使用第2激光時,0級衍射光及±1級衍射光所入射的區域不同。
首先,在使用第1激光(第1光盤6)時,只有通過信號表面6a上的軌道形狀而反射且未被衍射的0級衍射光入射到區域21a、22a、23a、24a、21b、22b、23b及24b,而來自第1光盤6的0級衍射光和1級衍射光(+1級衍射光或-1級衍射光中的任意一個)入射到其余的區域21c、22c、23c及24d。
其次,在使用第2激光(第2光盤6’)時,只有通過信號表面6a’上的軌道形狀而反射且未被衍射的0級衍射光入射到區域21a、22a、23a及24a,而來自第2光盤6’的0級衍射光和1級衍射光入射到其余的區域21b、22b、23b、24b、21c、22c、23c及24c。此外,將區域21b、22b、23b及24b的尺寸形成為相對于0級衍射光和1級衍射光所入射的區域(點劃線)而增大了規定余量(margin),以免1級衍射光因物鏡5與偏光性全息元件2之間的位置偏差而進入區域21a、22a、23a及24a。
圖7及8是表示圖5A所示的光檢測器9上的檢測模式和檢測光分布的圖,圖7與使用第1激光的情況相對應,圖8與使用第2激光的情況相對應。
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