[發明專利]光學拾波裝置、光盤裝置有效
| 申請號: | 200880014961.0 | 申請日: | 2008-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN101675474A | 公開(公告)日: | 2010-03-17 |
| 發明(設計)人: | 麻田潤一;西脅青兒;百尾和雄 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | G11B7/09 | 分類號: | G11B7/09;G11B7/135 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務所 | 代理人: | 楊 暄;呂靜姝 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 裝置 光盤 | ||
1.一種光學拾波裝置,對光記錄媒體進行信息的讀出、寫入及消去中的至少1個,其特征在于:
該光學拾波裝置包括:
光源,射出第1波長的光、和與上述第1波長不同的第2波長的光,
物鏡系統,使從上述光源射出的光在上述光記錄媒體的軌道上聚光,
偏光性全息元件,具有上述物鏡系統的中心軸所通過的第1區域、和邊界與上述第1區域相接的一對第2區域,當使用上述第2波長的光時,在上述第1區域接收來自上述光記錄媒體的0級衍射光,在上述第2區域接收來自上述光記錄媒體的0級衍射光及±1級衍射光,并將入射到上述第1及第2區域的光分支為多束光,
光學元件,設置在上述物鏡系統與上述偏光性全息元件之間,覆蓋沿上述第1及第2區域的邊界延伸的上述第1區域的一部分,并且使從上述物鏡系統入射的光的相位錯開后射出,
檢測單元,在使用上述第2波長的光時,生成基于由上述第1區域所分支的光的強度的第1電信號,同時,生成基于由上述第1及第2區域所分支的光的強度的第2電信號,以及
運算單元,在使用上述第2波長的光時,用上述第1電信號來對包含在上述第2電信號中的偏移成分進行電修正,并生成用以控制跟蹤的跟蹤誤差信號;
上述光學元件使上述第1波長的光穿透,并使上述第2波長的光的一部分穿透。
2.根據權利要求1所述的光學拾波裝置,其特征在于:
穿透上述光學元件的光的波面的相位與穿透沒有上述光學元件的部分的光的波面的相位之間的相位差在kπ-1/4π以上且kπ+1/4π以下,其中,k是奇數。
3.根據權利要求1所述的光學拾波裝置,其特征在于:
上述光學元件對于上述第2波長的光的透射率在10%以上且50%以下。
4.一種光盤裝置,包括對光記錄媒體進行信息的讀出、寫入及消去中的至少1個的光學拾波裝置,其特征在于:
上述光學拾波裝置包括:
光源,射出第1波長的光、和與上述第1波長不同的第2波長的光,
物鏡系統,使從上述光源所射出的光在上述光記錄媒體的軌道上聚光,
偏光性全息元件,具有上述物鏡系統的中心軸所通過的第1區域、和邊界與上述第1區域相接的一對第2區域,當使用上述第2波長的光時,在上述第1區域接收來自上述光記錄媒體的0級衍射光,在上述第2區域接收來自上述光記錄媒體的0級衍射光及±1級衍射光,并將入射到上述第1及第2區域的光分支為多束光,
光學元件,設置在上述物鏡系統與上述偏光性全息元件之間,覆蓋沿上述第1及第2區域的邊界延伸的上述第1區域的一部分,并且使從上述物鏡系統入射的光的相位錯開后射出,
檢測單元,在使用上述第2波長的光時,生成基于由上述第1區域所分支的光的強度的第1電信號,同時,生成基于由上述第1及第2區域所分支的光的強度的第2電信號,以及
運算單元,在使用上述第2波長的光時,用上述第1電信號來對包含在上述第2電信號中的偏移成分進行電修正,并生成用以控制跟蹤的跟蹤誤差信號;
上述光學元件使上述第1波長的光穿透,并使上述第2波長的光的一部分穿透。
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