[發(fā)明專利]將測試結(jié)構(gòu)集成到集成電路中的系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200880013291.0
• 申請日: 2008-04-11
• 公開（公告）號: CN101828118A
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: N·哈比卜;R·麥克馬洪;T·佩里
• 申請（專利權(quán)）人: 國際商業(yè)機(jī)器公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G06F17/50
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 11038
• 代理人: 秦晨

1.一種將測試結(jié)構(gòu)集成到集成電路中的方法，包括步驟：

識別在庫中的第一測試結(jié)構(gòu)；

該第一測試結(jié)構(gòu)具有與集成電路設(shè)計(jì)中的至少一種器件匹配的 第一被測器件；以及

修改該集成電路設(shè)計(jì)以包含該第一測試結(jié)構(gòu)；

其中所述第一測試結(jié)構(gòu)在測試過程中收集的參量數(shù)據(jù)被反饋到 生產(chǎn)線中以調(diào)整為使芯片參數(shù)符合規(guī)范所需的響應(yīng)性過程；

所述第一測試結(jié)構(gòu)進(jìn)一步包括：

邏輯控制器，具有激活所述被測器件的解碼器；

解碼電平轉(zhuǎn)換器，向所述被測器件提供所需柵電壓；

至少一個(gè)SPI電路，包括：

電源電路，向所述被測器件提供電源電壓；

隔離電路，控制所述電源電路以在測試期間隔離所述被測 器件；和

保護(hù)電路，在所述第一測試結(jié)構(gòu)不工作時(shí)保護(hù)所述電源電 路免于泄漏電流的影響；以及

SPI控制電路，使能或禁用所述SPI電路。

2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，還包括生成多個(gè)測試結(jié)構(gòu)的列表的 步驟，每個(gè)測試結(jié)構(gòu)包括與集成電路設(shè)計(jì)中的多種器件中的至少一種 相匹配的至少一個(gè)被測器件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2的方法，還包括使用至少一種優(yōu)先級排序算 法以及多個(gè)客戶指示、多個(gè)歷史數(shù)據(jù)、或多個(gè)內(nèi)在規(guī)則中的至少一個(gè) 由多個(gè)測試結(jié)構(gòu)的列表生成包含多個(gè)優(yōu)先級排序后的測試結(jié)構(gòu)的優(yōu) 先級排序后的列表的步驟。

4.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中修改集成電路設(shè)計(jì)的步驟包括： 判定在該集成電路中對于優(yōu)先級排序后的測試結(jié)構(gòu)中的至少一個(gè)是 否有可利用區(qū)域。

5.根據(jù)權(quán)利要求4的方法，還包括判定預(yù)定的元件是否在集成 電路中可用于耦連于該至少一個(gè)優(yōu)先級排序后的測試結(jié)構(gòu)的步驟。

6.根據(jù)權(quán)利要求5的方法，還包括將該至少一個(gè)優(yōu)先級排序后 的測試結(jié)構(gòu)分配給預(yù)定的元件的步驟。

7.根據(jù)權(quán)利要求2的方法，還包括將在所述列表中但沒有在所 述集成電路設(shè)計(jì)中的所述多個(gè)測試結(jié)構(gòu)中的至少一個(gè)測試結(jié)構(gòu)保存 在數(shù)據(jù)庫中的步驟。

8.根據(jù)權(quán)利要求3的方法，其中修改的步驟包括使用多種布置 算法以將該至少一個(gè)優(yōu)先級排序后的測試結(jié)構(gòu)布置到設(shè)計(jì)中。

9.根據(jù)權(quán)利要求8的方法，還包括步驟：

編譯所修改的設(shè)計(jì)；以及

執(zhí)行多個(gè)設(shè)計(jì)檢查算法。

10.根據(jù)權(quán)利要求9的方法，還包括調(diào)整所修改的設(shè)計(jì)以滿足多 個(gè)規(guī)范的步驟。

11.根據(jù)權(quán)利要求10的方法，還包括以下步驟：制造與所修改 的設(shè)計(jì)對應(yīng)的集成電路；以及

在制造測試期間使用測試結(jié)構(gòu)測量該至少一個(gè)器件的參數(shù)。

12.根據(jù)權(quán)利要求11的方法，其中該至少一個(gè)器件是性能篩選 環(huán)形振蕩器。