[實用新型]測試裝置有效
| 申請號： | 200820200127.8 | 申請日： | 2008-09-05 |
| 公開（公告）號： | CN201260011Y | 公開（公告）日： | 2009-06-17 |
| 發明（設計）人： | 朱德祥 | 申請（專利權）人： | 番禺得意精密電子工業有限公司 |
| 主分類號： | H01R33/76 | 分類號： | H01R33/76;H01R12/22;H01R13/24;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 511458廣東省廣州市番禺南*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 裝置 | ||
1.一種測試裝置，用以將測試芯片與電路板電性導通，其特征在于，包括：
一本體，其中設有至少一個貫穿其上下表面的容納孔，以及與該收容孔相連通的至少一限位槽；
至少一端子，設于上述容納孔內，該端子包括一突出所述本體上表面的第一接觸部，其與所述測試芯片相電性導通，一突出所述本體下表面的第二接觸部，其與所電路板相電性導通，一至少部分容設于所述限位槽中的限位塊以及一與該限位塊相連的延伸部。
2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括至少一彈性體，其容設于所述容納孔中，并與所述端子相抵持。
3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述測試裝置還包括至少一彈性體，其容設于所述容納孔中，所述第一接觸部位于所述第二接觸部的一側，該彈性體位于所述第二接觸部的另一側。
4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述測試裝置設有至少一擋止部，該擋止部承載所述端子。
5.如權利要求2或3所述的測試裝置，其特征在于：所述測試裝置設有至少一擋止部，該擋止部和所述彈性體配合夾持所述端子的延伸部。
6.如權利要求4或5所述的測試裝置，其特征在于：所述擋止部為遮擋片。
7.如權利要求4或5所述的測試裝置，其特征在于：所述擋止部自所述本體延伸形成。
8.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述本體自其上表面凸設至少一凸肋，所述凸肋圍成一收容所述測試芯片的收容腔。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于番禺得意精密電子工業有限公司，未經番禺得意精密電子工業有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200820200127.8/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
