[實(shí)用新型]螺帽內(nèi)螺牙的檢測(cè)裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200820176219.7
• 申請(qǐng)日: 2008-11-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN201302554Y
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-09-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 梁昆明
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 新加坡商爵視私人有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/954
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/954
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 任默聞

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型關(guān)于一種螺帽內(nèi)螺牙的檢測(cè)裝置，尤指一種利用透鏡的折射原理進(jìn)行螺帽內(nèi)螺牙檢測(cè)的裝置，以期增進(jìn)內(nèi)螺牙的檢測(cè)精準(zhǔn)度，并提高螺帽制造廠(chǎng)商的出貨品質(zhì)。

背景技術(shù)

目前較常見(jiàn)的螺帽的內(nèi)螺牙檢測(cè)方法為接觸式檢測(cè)，所述檢測(cè)方式是由品管檢查員在每桶螺帽成品中抽樣10～15個(gè)螺帽，再將所述這些螺帽分別鎖合至一檢測(cè)治具后，確認(rèn)各所述螺帽是否為斜牙，在轉(zhuǎn)出各所述螺帽后，品管檢查員以?xún)x器或肉眼查驗(yàn)各所述螺帽是否有斷牙、牙傷、多料或生銹等缺陷。上述檢測(cè)方式大約需耗時(shí)20分鐘，不僅相當(dāng)缺乏效率，更可能因檢查員的疏忽怠惰，而發(fā)生檢測(cè)錯(cuò)誤等情事，此外，上述檢測(cè)方式無(wú)法確實(shí)地將欲出貨的螺帽做全面性的快速檢測(cè)，因此，若僅依上述方式進(jìn)行螺帽的抽測(cè)，制造廠(chǎng)商則相當(dāng)不易提升螺帽的出貨品質(zhì)。

有鑒于上述接觸式檢測(cè)的諸多缺失，目前制造廠(chǎng)商常采用的檢測(cè)方式為非接觸式檢測(cè)，以期避免接觸式檢測(cè)的缺點(diǎn)。例如日本公開(kāi)的特開(kāi)2006-71303號(hào)專(zhuān)利，揭露一種內(nèi)螺牙的檢測(cè)裝置，參閱圖1所示，所述檢測(cè)裝置1包括一激光感應(yīng)器10、一升降機(jī)構(gòu)11及一判斷單元12，所述激光感應(yīng)器10裝設(shè)在所述升降機(jī)構(gòu)11上，以通過(guò)所述升降機(jī)構(gòu)11進(jìn)行上下方向的位移，又，所述激光感應(yīng)器10由一發(fā)光單元101及一檢測(cè)單元102所構(gòu)成，所述發(fā)光單元101能發(fā)出單束的激光光線(xiàn)103至一待檢測(cè)的螺帽13的內(nèi)螺牙上，由于所述激光感應(yīng)器10能通過(guò)所述升降機(jī)構(gòu)11上下移動(dòng)，故所述發(fā)光單元101所發(fā)出的激光光線(xiàn)103即能照射到不同深度的內(nèi)螺牙，以沿內(nèi)螺牙的縱深方向進(jìn)行檢測(cè)。所述檢測(cè)單元102用以接收內(nèi)螺牙所反射的激光光線(xiàn)104，在所述發(fā)光單元101發(fā)出的激光光線(xiàn)103照射到內(nèi)螺牙后，即被內(nèi)螺牙所反射，并射向所述檢測(cè)單元102，而所述判斷單元12透過(guò)所述檢測(cè)單元102，對(duì)所述檢測(cè)單元102所接收的激光光線(xiàn)104的強(qiáng)度，進(jìn)行分析。

承上，參閱圖1、圖2所示，當(dāng)上述激光光線(xiàn)103所照射到的位置為內(nèi)螺牙的側(cè)邊平面部分131時(shí)，如圖2的光線(xiàn)路徑a所示，反射率最大(反射至所述檢測(cè)單元102的激光光線(xiàn)104與激光光線(xiàn)103的強(qiáng)度比率)，故所述檢測(cè)單元102所接收到的激光光線(xiàn)104強(qiáng)度最強(qiáng)；另，當(dāng)激光光線(xiàn)103照射到內(nèi)螺牙的螺牙頂132時(shí)(光線(xiàn)路徑b)，反射率最小，故所述檢測(cè)單元102所接收到的激光光線(xiàn)104強(qiáng)度最弱。因此，當(dāng)所述檢測(cè)裝置1對(duì)一正常的螺帽的內(nèi)螺牙進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，所述激光感應(yīng)器10隨所述升降機(jī)構(gòu)11上下移動(dòng)，使得所述激光光線(xiàn)103的照射位置沿內(nèi)螺牙的縱深方向移動(dòng)，如此，所述判斷單元12所取得的光線(xiàn)強(qiáng)度與時(shí)間關(guān)系圖，將呈現(xiàn)如圖3所示的波形變化。反之，若所述檢測(cè)裝置1所檢測(cè)的螺帽的內(nèi)螺牙具有缺陷時(shí)，所得到的光線(xiàn)強(qiáng)度與時(shí)間關(guān)系圖將如圖4所示。故所述判斷單元12即可通過(guò)上述關(guān)系圖，判斷一螺帽的內(nèi)螺牙是否具有缺陷。

然而，通過(guò)上述檢測(cè)裝置1，雖能有效改善接觸式檢測(cè)的諸多問(wèn)題，惟上述激光光線(xiàn)103每次所掃視的范圍，大約僅為六分之一～十分之一圈的內(nèi)螺牙，因此，若欲對(duì)螺帽的內(nèi)螺牙進(jìn)行全面檢測(cè)，則不得不利用六～十臺(tái)所述檢測(cè)裝置，方能徹底地檢查整圈內(nèi)螺牙。如此，不僅增加螺帽檢測(cè)的成本，更提高檢測(cè)的失誤機(jī)率。再者，由于上述檢測(cè)裝置1的檢測(cè)速度十分緩慢，無(wú)法于短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)大量的螺帽，故制造廠(chǎng)商仍?xún)H能以抽驗(yàn)的方式做檢測(cè)，如此，將無(wú)法有效提升螺帽的出貨品質(zhì)。在此需特別一提，倘若螺帽的口徑較小(例如：M5以下)，則上述檢測(cè)裝置1所發(fā)出的激光光線(xiàn)，將無(wú)法確實(shí)地照射到內(nèi)螺牙，換言之，所述檢測(cè)裝置1亦無(wú)法接收到由內(nèi)螺牙所反射的激光光線(xiàn)。

因此，如何改善螺帽檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)，以增進(jìn)螺帽的內(nèi)螺牙的檢測(cè)效率，并減少檢測(cè)錯(cuò)誤的發(fā)生機(jī)率，有效提升螺帽的出貨品質(zhì)，使出廠(chǎng)的螺帽符合精密工業(yè)(如：汽車(chē)業(yè)、航太業(yè)等)的高標(biāo)準(zhǔn)，據(jù)以確保產(chǎn)品的安全性，即成為本實(shí)用新型在此欲探討的一重要課題。

實(shí)用新型內(nèi)容

有鑒于已知檢測(cè)裝置的諸多缺失，創(chuàng)作人乃依多年的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)，并經(jīng)過(guò)長(zhǎng)久的努力研究與實(shí)驗(yàn)，終于研發(fā)出本實(shí)用新型的一種螺帽內(nèi)螺牙的檢測(cè)裝置。