[實用新型]螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200820176219.7 | 申請日： | 2008-11-14 |
| 公開（公告）號： | CN201302554Y | 公開（公告）日： | 2009-09-02 |
| 發(fā)明（設計）人： | 梁昆明 | 申請（專利權(quán)）人： | 新加坡商爵視私人有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/954 | 分類號： | G01N21/954 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 任默聞 |
| 地址： | 新加坡宏茂橋工業(yè)區(qū)2*** | 國省代碼： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 螺帽 內(nèi)螺牙 檢測 裝置 | ||
1.一種螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置包括：
一送料平臺，所述送料平臺由透光材料制成；
一檢測透鏡，所述檢測透鏡設于所述送料平臺的上方，所述檢測透鏡的邊緣至中心軸之間的斷面形狀為半個平凸透鏡的斷面形狀，且所述檢測透鏡的厚度，自所述邊緣向所述中心軸漸次遞減；
一圖像擷取單元，所述圖像擷取單元設在所述檢測透鏡的上方；及
一發(fā)光元件，所述發(fā)光元件設在所述送料平臺的下方，相對于所述檢測透鏡的位置。
2.如權(quán)利要求1所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述檢測透鏡鄰近所述送料平臺的一面上，其周緣涂布有一抗反射層。
3.如權(quán)利要求2所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述抗反射層是一經(jīng)過陰極處理的鋁膜。
4.如權(quán)利要求3所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，在所述送料平臺上，鄰近所述檢測透鏡的位置設有一光柵，所述光柵的對應兩側(cè)上設有一發(fā)光部及一檢測部。
5.如權(quán)利要求4所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述發(fā)光元件是一發(fā)光二極管。
6.如權(quán)利要求4所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述發(fā)光元件是一冷極管。
7.如權(quán)利要求4所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述發(fā)光元件是一電燈泡。
8.如權(quán)利要求4所述的螺帽內(nèi)螺牙的檢測裝置，其特征在于，所述發(fā)光元件是一節(jié)能燈。
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