[實用新型]開關電源的占空比檢測電路及開關電源頻率檢測電路無效
| 申請號: | 200820169067.8 | 申請日: | 2008-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN201374646Y | 公開(公告)日: | 2009-12-30 |
| 發明(設計)人: | 姚云龍 | 申請(專利權)人: | 杭州士蘭微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H02M3/156 | 分類號: | H02M3/156 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310012浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 開關電源 檢測 電路 頻率 | ||
技術領域
本實用新型涉及開關電源的占空比檢測技術及其在頻率檢測中的應用。
背景技術
在開關電源穩壓電路中,需要檢測開關信號的占空比,將開關信號的占空比的數值轉換成穩定的電壓或者電流值,作為開關電源電路控制的一部分。
圖1為目前普遍采用的開關電源占空比檢測電路,輸入方波信號Vi至反向器NA,反向器NA的另一端連接到開關PMOS晶體管P1和開關NMOS晶體管N1的柵極,P1的源極連接基準電壓VDD,N1的源極接地,P1的漏極和N1的漏極連接電阻R1,電容C1連接于電阻R1的另一端和N1的源極之間,通過P1和N1的切換控制電容C1充放電,在電阻R1和電容C1的聯接點處檢測開關電源的占空比。
假設輸入方波信號Vi,周期為T,高電平持續時間為Ton,則Vi輸入的占空比D為:
當Vi輸入高電平時,N1關斷,P1導通,電容C1充電,充電回路為電源VDD-PMOS管P1-電阻R1-電容C1;當Vi輸入為低電平時,N1導通,P1關斷,電容C1放電,放電通路為電容C1-電阻R1-NMOS管N1-地。
當輸入方波信號Vi的占空比固定,且R1C1充放電的時間常數遠大于開關周期時,電容上的電壓最終不變,該輸出電壓能夠表示輸入方波占空比的大小。
由于在輸出電壓穩定以后,對電容的充放電達到平衡,充電電荷等于放電電荷,即:
得到如下結果:
VO=D·VDD
D=Ton/T????????????(3)
即輸出電壓VO與輸入方波信號的占空比成正比。
輸出電壓的紋波為:
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