[實用新型]半導(dǎo)體硅片清洗裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200820157481.7 | 申請日: | 2008-12-19 |
| 公開(公告)號: | CN201348988Y | 公開(公告)日: | 2009-11-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張晨騁 | 申請(專利權(quán))人: | 上海集成電路研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00;H01L21/02;H01L21/683;B08B3/12 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人: | 鄭 瑋 |
| 地址: | 201203上海市張江高科*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 硅片 清洗 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種工業(yè)清洗裝置,特別涉及一種應(yīng)用在半導(dǎo)體硅片的清洗裝置。
背景技術(shù)
伴隨集成電路制造工藝的不斷進步,半導(dǎo)體器件的體積正變得越來越小,這也導(dǎo)致了非常微小的顆粒也變得足以影響半導(dǎo)體器件的制造和性能,所以,硅片清洗工藝也變得越來越重要。目前的清洗方法主要有兩種:批次清洗和單片式清洗。單片式清洗方法由于可以更好的控制藥液在硅片表面的分布,同時硅片自身高速旋轉(zhuǎn)也使得硅片表面的藥液具有更高的相對速度,因此單片式清洗方法具有化學(xué)品消耗量少的優(yōu)點,始終都使用全新的化學(xué)品,能夠有效防止交叉污染,清洗效果更強以及工藝穩(wěn)定性更好。因此,在先進的集成電路制造工藝中,單片式清洗方式正越來越成為主要的清洗方式。
半導(dǎo)體芯片制造工藝對于清洗的要求變得越來越高,同時成本壓力也越來越大,因此,在確保清洗效率的前提下,高效率且低成本的硅片清洗工藝就成為了一個重要的制造環(huán)節(jié)。但是,目前業(yè)界廣泛采用的單片式清洗方法中,每一個工藝腔一次只能清洗一枚硅片,要增加設(shè)備的產(chǎn)能,就必須增加更多的工藝腔,設(shè)備成本很高,相對于一些批次浸沒式清洗設(shè)備,同等腔體體積的單片式清洗設(shè)備的,其產(chǎn)能有明顯的差距。因此,需要提出一種更高效率的單片式清洗設(shè)備。
實用新型內(nèi)容
本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種半導(dǎo)體硅片清洗裝置,使單個工藝腔能以單片清洗的方式同時處理多枚硅片。
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型提供一種半導(dǎo)體硅片清洗裝置,包括腔體,所述腔體底部連接有一旋轉(zhuǎn)平臺,所述旋轉(zhuǎn)平臺中嵌設(shè)有超聲波發(fā)生裝置,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)平臺上對應(yīng)于超聲波發(fā)生裝置上方的位置設(shè)有若干用于支撐并固定硅片的支架,所述超聲波發(fā)生裝置設(shè)有若干出水孔,所述腔體頂部設(shè)有若干噴嘴。
進一步的,所述旋轉(zhuǎn)平臺直徑為20~50英寸。
進一步的,所述旋轉(zhuǎn)平臺上放置2~6枚硅片,所述硅片尺寸為4~12英寸。
進一步的,所述旋轉(zhuǎn)平臺轉(zhuǎn)速為500~3000轉(zhuǎn)/分鐘。
進一步的,所述超聲波發(fā)生裝置工作頻率為0.25~2兆赫茲,投射到硅片背面的功率為0.5~5瓦特/平方厘米。
進一步的,所述出水孔直徑為1/4~1/2英寸。
進一步的,所述噴嘴的噴灑方式為高壓噴灑或無壓重力下流方式。
進一步的,所述硅片以真空吸附的方式固定于所述支架上。
與現(xiàn)有技術(shù)的單片式清洗相比,本實用新型通過在旋轉(zhuǎn)平臺上設(shè)置有固定若干個硅片的裝置進行清洗,使單個工藝腔能以單片清洗的方式同時處理多枚硅片,在占地面積和其他成本增加不多的情況下,使設(shè)備的產(chǎn)能成倍增加,提升了生產(chǎn)率。
附圖說明
以下結(jié)合附圖和具體實施方式對本實用新型的半導(dǎo)體清洗裝置作進一步的詳細說明。
圖1是本實用新型半導(dǎo)體硅片清洗裝置的俯視圖;
圖2是圖1沿A-A截面的剖視圖。
具體實施方式
請參閱圖1以及圖2所示的半導(dǎo)體硅片清洗裝置,包括腔體1,所述腔體1底部連接有一旋轉(zhuǎn)平臺5,所述旋轉(zhuǎn)平臺5與外部電機(未標(biāo)示)連接,通過外部電機驅(qū)動所述旋轉(zhuǎn)平臺5進行旋轉(zhuǎn),所述旋轉(zhuǎn)平臺5上設(shè)有若干用于支撐并固定硅片的支架3,所述支架3可以通過真空吸附的方式將硅片2吸附,從而所述硅片2可以跟隨所述旋轉(zhuǎn)平臺5一起轉(zhuǎn)動,所述旋轉(zhuǎn)平臺5中嵌設(shè)有超聲波發(fā)生裝置4,當(dāng)所述旋轉(zhuǎn)平臺5以及所述支架3圍繞所述旋轉(zhuǎn)平臺5的軸心旋轉(zhuǎn)時,所述超聲波發(fā)生裝置4固定不動,所述超聲波裝置4對應(yīng)所述硅片2的位置處設(shè)有若干出水孔6,所述出水孔6可以根據(jù)所述硅片2的大小以及固定在所述支架3上的位置而調(diào)整,所述出水孔6直徑為1/4~1/2英寸,本實施例中,所述出水孔6為8個,優(yōu)選地,所述出水孔6以所述旋轉(zhuǎn)平臺5的軸心為圓心、以所述旋轉(zhuǎn)平臺5軸心到所述硅片2中心位置的距離為半徑呈等角度分布在所述超聲波發(fā)生裝置4內(nèi),從而達到更好的清洗效果。在所述腔體1頂部設(shè)有若干噴嘴7用于噴灑清洗劑以及干燥氣體,所述噴嘴7可根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)平臺5旋轉(zhuǎn)平面的大小以及所述硅片2需要清洗的清洗劑的種類而設(shè)定,本實施例中,所述噴嘴7為9個。
所述旋轉(zhuǎn)平臺5上可以放置2~6枚所述硅片2,本實施例中,所述硅片2數(shù)量為4枚,由位于所述旋轉(zhuǎn)平臺5上的所述支架3將所述硅片2吸附并固定,所述硅片2的尺寸為4~12英寸,所述旋轉(zhuǎn)平臺5的大小可以根據(jù)放置所述硅片2的數(shù)量以及所述硅片2尺寸來決定,其直徑范圍為20~50英寸。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





