[實用新型]電路測試裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200820126707.7 | 申請日： | 2008-06-24 |
| 公開（公告）號： | CN201255764Y | 公開（公告）日： | 2009-06-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 滕貞勇;張立穎 | 申請（專利權(quán)）人： | 普誠科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京林達(dá)劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電路 測試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型提供一種電路測試裝置，尤指一種可用以測試待測試元件的橋式動態(tài)輸出的電路測試裝置。
背景技術(shù)
隨著科技的進(jìn)步，集成電路(Integrated?Circuit，IC)的功能越來越強(qiáng)大，其重要性也與日遽增。除了單純處理模擬信號的IC以及單純處理數(shù)字信號的IC以外，業(yè)界還陸續(xù)研發(fā)出多種兼具數(shù)字信號與模擬信號處理能力的IC，此種IC一般可稱為混合信號IC。而不論是數(shù)字信號IC、模擬信號IC或混合信號IC，為了確保IC出貨時的品質(zhì)，在完成制造過程之后，一般都會對每一顆IC執(zhí)行測試，制造商會依據(jù)對IC執(zhí)行測試的結(jié)果，來決定此顆IC是否合格，并據(jù)以判斷是否可將此顆IC供應(yīng)給下游的廠商。
請參閱圖1，圖1為一般混合信號測試機(jī)測試具有橋式動態(tài)輸出的IC的示意圖。如圖1所示，置放于待測試元件電路板(DUTBoard)14上的測試元件(IC)12接收到混合信號測試機(jī)(Mixed-Signal?Tester)10所產(chǎn)生的測試信號ST后，會于兩個輸出端N1、N2產(chǎn)生相對應(yīng)的輸出值，當(dāng)此兩個相對應(yīng)的輸出值為橋式動態(tài)輸出值VOUT+、VOUT-時，必須通過混合信號測試機(jī)10分別量測兩個不同的橋式動態(tài)輸出值VOUT+、VOUT-，最后根據(jù)量測到的兩個橋式動態(tài)輸出值VOUT+、VOUT-，判斷待測試元件12通過測試與否。然而，上述的測試方式除了專用混合信號測試機(jī)10的價格非常昂貴外，測試時必須分兩次量測橋式動態(tài)輸出值VOUT+、VOUT-，因此會耗掉冗長的測試時間，而進(jìn)一步影響IC測試的效率，這些都是已知使用專用混合信號測試機(jī)10測量具有橋式動態(tài)輸出值VOUT+、VOUT-的IC所遭遇的問題。
實用新型內(nèi)容
因此，本實用新型的目的之一，在于提供一種可提升IC測試效率的測試架構(gòu)，以解決已知技術(shù)所面臨的問題。
本實用新型提供一種電路測試裝置，用來測試一待測試元件，其中該待測試元件包括一第一輸出端以及一第二輸出端，該第一輸出端以及該第二輸出端用以分別產(chǎn)生一第一輸出信號以及一第二輸出信號。電路測試裝置用以根據(jù)該第一輸出信號以及該第二輸出信號，決定該待測試元件的測試結(jié)果。電路測試裝置包括一量測模塊(Precision?Measure?Unit，PMU)、一處理模塊、一運算模塊以及一微處理器。量測模塊耦接于該待測試元件，用以提供一測試信號，并接收根據(jù)該測試信號所產(chǎn)生的一信號運算結(jié)果。處理模塊耦接于該待測試元件的該第一輸出端以及該第二輸出端，用以轉(zhuǎn)換該待測試元件根據(jù)該測試信號所產(chǎn)生的第一輸出信號以及該第二輸出信號，產(chǎn)生一處理信號。運算模塊耦接于該處理模塊以及該量測模塊，用以接收該處理信號，并對該處理信號進(jìn)行運算，以產(chǎn)生該信號運算結(jié)果。微處理器耦接于該量測模塊，用以根據(jù)該信號運算結(jié)果來決定該待測試元件的測試結(jié)果。
本實用新型所述的電路測試裝置，該處理模塊具有一輸出端，當(dāng)該處理模塊轉(zhuǎn)換該第一輸出信號以及該第二輸出信號成該處理信號后，通過該輸出端輸出該處理信號。
本實用新型所述的電路測試裝置，該處理模塊為一差動放大器，用以將該第一輸出信號以及該第二輸出信號進(jìn)行差動放大，以產(chǎn)生該處理信號。
本實用新型所述的電路測試裝置，該處理模塊包括：一放大器，其包括一正輸入端、一負(fù)輸入端以及一輸出端，其負(fù)輸入端耦接于該待測試元件的該第一輸出端，其正輸入端耦接于該待測試元件的該第二輸出端，該放大器用以將該第一輸出信號以及該第二輸出信號進(jìn)行放大，以產(chǎn)生該處理信號；以及一第一電阻，耦接于該待測試元件的該第一輸出端以及該放大器的該負(fù)輸入端之間；一第二電阻，耦接于該待測試元件的該第二輸出端以及該放大器的該正輸入端之間；一第三電阻，耦接于該放大器的該輸出端以及該負(fù)輸入端之間；以及一第四電阻，其一端耦接于該第二電阻以及該放大器的該正輸入端之間，其另一端耦接于一接地端。
本實用新型所述的電路測試裝置，該運算模塊為一轉(zhuǎn)換器(Converter)，用以將交流信號模式的該處理信號轉(zhuǎn)換為直流信號模式的該信號運算結(jié)果。
本實用新型所述的電路測試裝置，該運算模塊為一均方根-直流轉(zhuǎn)換器(RMS?to?DC?Converter)。
本實用新型所述的電路測試裝置，該電路測試裝置為一邏輯測試機(jī)。
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